解决相移误差的新技术PMP技术中另一个主要的基础条件就是对于相移误差的控制。相移法通过对投影光栅相位场进行移相来增加若干常量相位而得到多幅光栅图来求解相位场。由于多幅相移图比单幅相移图提供了更多的信息,所以可以得到更高精度的结果。传统的方式都依靠机械移动来实现相移。为达到精确的相移,都使用了比较高精度的马达,如通过陶瓷压电马达(PZT),线性马达加光栅尺等方式。并通过大量的算法来减少相移的误差。可编程结构光栅因为其正弦光栅是通过软件编程实现的,所以其在相移时也是通过软件来实现,通过此种技术可以使相移误差趋向于“0”,提高了量测精度。并且此技术不需要机械部件,减少了设备的故障几率,降低机械成本与维修成本。在线3D-SPI锡膏测厚仪?广州多功能SPI检测设备保养
使用在线型3D-SPI(3D锡膏检测机)的重要意义:再次,很多因素影响印刷工艺品质,例如:温度、搅拌、压力、速度、网板清洗时间等;并且单一的因素与印刷不良之间没有明确的因果关系。所以必须使用在线型3D锡膏检测机,实时监控印刷工艺,及时准确地调整印刷机状态。专业全自动在线型3D锡膏检测机(3D-SPI)运用了高精度3D条纹调制测量技术、或者是3D激光测量技术,可以实现高度方向上1um的测试精度。在线型3D-SPI(3D锡膏检测机)在传统SPI的2D检测的基础上,加入了对锡膏的高度、拉尖、体积的检测,可以在SMT产线Cycle-time时间内,快速且精确的检测锡膏印刷质量。作为精密检测设备,在线型3D-SPI(3D锡膏检测机)不但可以检测出锡膏印刷过程中的各种不良,更可以作为质量控制工具,真实记录锡膏印刷环节工程中锡膏质量的微小变化。用SPI锡膏检测机确认锡膏印刷状态,并把收集到的状态信息反馈给锡膏印刷机,帮助工程师调节锡膏印刷参数,实现提高锡膏印刷质量、降低SMT工艺不良率的目的。SPI检测设备调试方法SMT贴片焊接加工导入SMT智能首件检测仪可以带来的效益有哪些呢?
在SPI技术发展中,科学家们发现莫尔条纹光技术可以获得更加稳定的等间距,平行条纹光,从而极大提高高精度测量中的稳定性,韩国科漾(高永)SPI率先采用新的技术-莫尔条纹光技术,经市场的反复的验证,莫尔条纹光在高精度测量领域有着独特的技术优势。全球首先开发SPI开发商美國速博Cyberoptical已将原来的激光技术改良为莫尔条纹光(光栅)技术。早期美國速博Cyber-OpticalSPISE-300采用激光条纹光技术,Cyber-Optical产品QX-500,已由激光改良为的白色选通照明装置(即莫尔条纹/光栅)。
那么SPI具体是如何检测的呢?目前SPI领域中主要的检查方法有激光检査和条纹光检查两种。其中激光方法是用点激光实现的。由于点激光加CCD取像须有X、Y逐点担的机构,并未明显増加量测速度。为了增加量测速度,需将点激光改成扫描式线激光光线。这两种是经常用到的方法,此外还有360°轮廓测量理论、对映函数法测量原理( coordinate Mapping)、结构光法( Structure Lighting)、双镜头立体视觉法。但这些方法会受到速度的限制而无法被应用到在线测试上,只适合单点的3D测量。AOI检测设备对SMT贴片加工的重要性。
AOI虽然具有比人工检测更高的效率,但毕竟是通过图像采集和分析处理来得出结果,而图像分析处理的相关软件技术目前还没达到人脑的级别,因此,在实际使用中的一些特殊情况,AOI的误判、漏判在所难免。目前AOI使用中存在的问题有:(1)多锡、少锡、偏移、歪斜的工艺要求标准界定不同,容易导致误判。(2)电容容值不同而规格大小和颜色相同,容易引起漏判。(3)字符处理方式不同,引起的极性判断准确性差异较大。(4)大部分AOI对虚焊的理解发生歧义,造成漏判推诿。(5)存在屏蔽圈、屏蔽罩遮蔽点的检测问题。(6)BGA、FC等倒装元件的焊接质量难以检测。(7)多数AOI编程复杂、繁琐且调整时间长,不适合科研单位、小型OEM厂、多规格小批量产品的生产单位。(8)多数AOI产品检测速度较慢,有少数采用扫描方法的AOI速度较快,但误判、漏判率更高。AOI检测设备的作用有哪些呢?SPI检测设备调试方法
SPI的作用和检测原理是什么?广州多功能SPI检测设备保养
SPI技术主流:1.基于激光扫描光学检测2.基于摩尔条纹光学检测SPI市场主流:激光扫描光学检测,摩尔条纹光学检测为主SPI应用模式:当生产线投入使用全自动印刷机时:1.桌上型离线用:新产品投产时1-20片全检;进入量品连续检查5片;2.连线型全检用:杜绝不良锡膏印刷进入SMT贴片机;3.连线印刷闭环;连线三点联网遥控;锡膏中助焊剂的构成及其作用助焊剂的作用①清洁作用→去除表面氧化膜②再氧化防止作用→防止再氧化发生③降低表面张力作用→在无铅焊接中助焊剂的效果不明显广州多功能SPI检测设备保养
结构光栅型SPIPMP又称PSP(PhaseShiftProfilometry)技术是一种基于正弦条纹投影和位相测量的光学三维面形测量技术。通过获取全场条纹的空间信息与一个条纹周期内相移条纹的时序信息,来完成物体三维信息的重建。由于其具有全场性、速度快、高精度、自动化程度高等特点,这种技术已在工业检测、机器视觉、逆向工程等领域获得广泛应用。目前大部分的在线SPI设备都已经升级到此种技术。但是它采用的离散相移技术要求有精确的正弦结构光栅与精确的相移,在实际系统中不可避免地存在着光栅图像的非正弦化,相移误差与随机误差,它将导致计算位相和重建面形的误差。虽然已经出现了不少算法能降低线性相移误差,但要...