科学研究支持:揭示材料行为的微观机制。作为基础研究的强大工具,纳米力学测试使科学家能够在微观尺度量化物质行为,验证理论模型,发现新现象。致城科技每年支持超过百项学术研究项目,测试数据出现在众多高影响力论文中。公司与科研机构的合作模式包括测试服务、方法开发和联合攻关等多个层次。在新型高熵合金研究中,致城科技的原位高温纳米力学测试系统帮助研究团队初次观察到B2相在特定温度区间的异常强化现象。通过精确控制测试温度和加载速率,并同步采集声发射信号,揭示了相变诱导塑性变形的微观机制。这项发现为设计具有温度自适应性能的新合金提供了重要思路,相关成果发表在《Nature Materials》上。多加载周期压痕为 MEMS 悬臂梁结构优化提供关键力学数据支撑。广东微电子纳米力学测试应用

在半导体微电子行业蓬勃发展的当下,从芯片制造到电子设备组装,每一个环节对材料与组件性能的精确把控都至关重要。纳米力学测试技术凭借其在微观尺度下对材料力学特性的精细探测能力,成为推动半导体微电子行业持续创新与质量提升的关键力量。致城科技作为纳米力学测试领域的先锋企业,以其先进的技术与定制化服务,深度融入半导体微电子行业的各个流程,为行业发展提供了坚实的技术支撑。半导体微电子产品材料的力学性能剖析:MEMS 结构与悬臂梁。在半导体微电子领域,MEMS(微机电系统)结构与悬臂梁普遍应用于传感器、执行器等关键部件。这些微小结构的性能直接关系到设备的灵敏度、稳定性与可靠性。湖南空心纳米力学测试仪纳米力学测试推动半导体微电子行业材料性能提升。

太阳能行业:微纳尺度下的光电效率提升:致城科技的解决方案:纳米划痕与力学性能成像:通过栅控力曲线Mapping技术,定位钙钛矿薄膜的薄弱区,指导涂覆工艺优化。纳米冲击测试:模拟冰雹冲击(能量>10mJ),评估双玻组件的抗冲击阈值。原子力显微镜(AFM)与扫描探针显微镜(SPM):实时监测镀膜过程中的表面形貌演变,避免小孔与裂纹缺陷。案例:某头部光伏企业利用致城科技的NanoScan®系统,将TOPCon电池表面SiNx涂层的耐磨性提升40%,组件年衰减率降低0.5%。
定义聚合物性能的新维度:从化妆品流变特性到航天材料极端环境适应性,纳米力学测试正在重塑聚合物材料的研发范式。致城科技通过金刚石压头的极好定制与测试系统的智能化升级,构建起连接分子链行为与宏观性能的完整技术图谱。当定制压头的顶端与新材料表面接触的瞬间,这场始于纳米尺度的力学探索,终将在产业变革中绽放璀璨光芒。这不仅是测量技术的进化,更是人类解决材料密码、创造未来文明的必经之路。机械性能的一致性同样不可忽视。批次稳定性确保同一型号不同压头之间的性能差异较小化。高温纳米力学测试揭示电子封装材料热稳定性的变化规律。

致城科技的创新解决方案:1. 定制化压头开发,针对聚合物微结构测试,致城科技推出系列创新压头:仿生鲨鱼皮压头(沟槽间距5μm)用于超疏水涂层摩擦测试;三棱柱压头(接触角60°)适配ASTM D2197标准;纳米压痕-划痕一体压头(载荷范围10μN-50mN);某半导体企业定制的钨针尖压头(曲率半径2nm),成功实现Micro-LED封装胶的亚微米级划伤测试。2. 多尺度测试平台:集成环境控制系统与高精度传感器的测试系统具备:温度范围:-196℃(液氮)至600℃真空环境;载荷精度:0.1μN;位移分辨率:0.001nm;在航空聚醚醚酮(PEEK)构件测试中,系统在300℃真空下完成100N级载荷测试,测得高温蠕变应变率(ε̇=1×10⁻⁵ s⁻¹)较室温下降80%。3. 智能数据分析系统:自主研发的AI算法可自动识别:蠕变寿命预测(误差<5%);界面分层萌生位置(定位精度±1μm);动态交联网络演化进程;在锂电池隔膜测试中,该算法通过声发射信号特征提取,成功区分锂枝晶穿刺(主频150kHz)与机械刺穿(主频80kHz),为电池安全设计提供新方法。纳米力学测试在半导体微电子行业质量控制中不可或缺。广东微电子纳米力学测试应用
多加载周期压痕技术研究材料疲劳,延长 MEMS 器件使用寿命。广东微电子纳米力学测试应用
原位纳米力学测试系统是一种用于材料科学领域的仪器,于2011年10月27日启用。压痕测试单元:(1)可实现70nN~30mN不同加载载荷,载荷分辨率为3nN;(2)位移分辨率:0.006nm,较小位移:0.2nm,较大位移:5um;(3)室温热漂移:0.05nm/s;(4)更换压头时间:60s。能够实现薄膜或其他金属或非金属材料的压痕、划痕、摩擦磨损、微弯曲、高温测试及微弯曲、NanoDMA、模量成像等功能。纳米压痕力学测试系统是一种用于力学、材料科学领域的物理性能测试仪器,于2012年7月4日启用。较大加载载荷:500mN;载荷分辨率:500nN;可实现的较小载荷:1μN;位移分辨率:0.3nm; 可实现的较小位移:0.5nm;可实现的较大位移:500μm。广东微电子纳米力学测试应用