石家庄高分辨率高光谱成像仪源头厂家

另外，Co-Aligned HP结构紧凑，是一套完整的Turnkey解决方案，重量为4.0kg，内部除了集成有高光谱成像仪外，同时集成有高精度GNSS/IMU模块和嵌入式采集控制模块，高光谱数据和姿态信息可同时保存在SSD中，系统配有大尺寸反射率定标毯，尺寸为3*3m，包含三种梯度反射率，可通过SpectralView后处理软件对数据进行批量辐射校正，反射率校正和几何校正等，并且支持第三方DSM进行几何校正，图像镶嵌。Co-Aligned HP让用户无需再考虑复杂的硬件系统集成，专注于飞行计划的制定和高光谱数据的后期处理。Nano HP 的后处理软件集成几何校正功能，优化图像镶嵌后的整体效果。石家庄高分辨率高光谱成像仪源头厂家

Nano HP 搭载全新升级的高精度 GNSS/IMU 模块，支持后差分处理技术，定位精度达到厘米级，同时 Pitch&Roll 精度小于 0.03°，Heading 精度达 0.08°。这些高精度参数为高光谱影像的空间校准提供了重要支撑，在推扫式成像过程中，GNSS/IMU 模块实时记录设备的位置与姿态信息，结合后差分处理技术，能够精确修正飞行过程中的位置偏差与姿态抖动。在几何校正环节，高精度的位置与姿态数据可有效提升校正精度，减少影像畸变，让拼接后的影像具备良好的空间一致性。对于需要进行精确空间分析的应用场景，如地块边界划分、植被三维建模、地形测绘等，厘米级的定位精度与高精度姿态数据能够确保分析结果的准确性，让 Nano HP 的输出数据不仅具备光谱优势，更在空间维度上满足科研与行业应用的严苛要求。石家庄高分辨率高光谱成像仪厂家直销Co-Aligned HP 为 4.0kg Turnkey 解决方案，适用于探矿、地质调查、矿物识别等专业场景。

Co-Aligned HP 在地质勘探领域具备不可替代的应用优势，其 400-2500nm 的全波段覆盖能够精确捕捉不同矿物、岩石的特征光谱，为高光谱探矿、地质灾害调查、矿物填图等任务提供重要数据支持。在高光谱探矿中，短波红外波段可有效识别金、铜、铁等金属矿物的特征吸收峰，即使是隐伏在地表以下的矿物异常，也能通过光谱差异被精确捕捉；在地质灾害调查中，能够快速识别滑坡、泥石流等灾害体的物质组成与光谱特征，为灾害风险评估与应急响应提供依据；在矿物填图中，可通过全波段光谱数据精确区分不同矿物类型，绘制高精度的矿物分布图。相较于传统的地质勘探手段，Co-Aligned HP 具有快速、高效、非接触式的优势，能够大幅缩短勘探周期、降低人力成本，同时提升勘探结果的精确度，成为地质勘探领域的变革性技术装备。

Co-Aligned HP 配备 3*3m 的大尺寸反射率定标毯，该定标毯包含三种梯度反射率标准，为辐射校正提供了精确、可靠的参考依据。辐射校正是高光谱数据处理的重要环节，直接影响数据的定量分析精度，Co-Aligned HP 的定标毯尺寸与梯度设计经过专业优化，能够适应不同光照条件下的校正需求，确保在野外作业中快速完成辐射定标。配合 SpectralView 后处理软件，用户可实现批量辐射校正操作，大幅提升数据处理效率。经过校正后的高光谱数据，辐射精度明显提升，不同批次、不同场景下采集的数据具备良好的可比性，能够满足矿物填图、地质灾害动态监测等对数据一致性要求极高的应用场景。这一专业的辐射校正方案，让 Co-Aligned HP 的输出数据具备更强的科学性与实用性，为后续分析决策提供坚实保障。Co-Aligned HP 无需用户集成硬件，专注飞行计划与后期数据处理即可。

Co-Aligned HP 凭借全波段覆盖与高精度数据表现，在多个专业领域展现出极强的适配性，尤其适用于矿物填图、火山监测、高光谱探矿等复杂场景。在矿物填图中，其 400-2500nm 的全波段范围能够捕捉不同矿物的特征吸收峰，精确识别矿物类型与空间分布，为地质填图提供精确数据；在火山监测中，可通过短波红外波段捕捉火山气体排放、地表温度变化等异常特征，为火山活动预警提供支持；在高光谱探矿中，能有效识别深埋地下或隐伏的矿物异常信息，提升找矿效率与精确度。此外，该设备还适用于地质灾害调查、树种分类等场景，在地质灾害调查中可快速识别滑坡、崩塌等灾害体的光谱特征，在树种分类中能精确区分不同植被类型的光谱差异。其专业的应用适配性让 Co-Aligned HP 成为科研机构、地质勘探、环境监测等领域的重要设备。Nano HP 覆盖 400-1000nm 波段，重 < 1kg，集成高光谱与存储模块，适配轻小型无人机推扫成像。太原无人机载高光谱成像仪供应商

Nano HP的空间像素数是1020，光谱通道数有340个，采控和IMU模块均集成在光谱成像仪内部。石家庄高分辨率高光谱成像仪源头厂家

Co-Aligned HP 的分光光路基于 Headwall 公司的 Offner 像差校正型凸面全息反射光栅技术，这一先进的光路设计带来了极低的杂散光与成像畸变，同时赋予系统极高的热稳定性与信噪比。杂散光是影响光谱数据质量的重要因素，会导致光谱信号失真，Offner 光路设计通过独特的反射光栅结构，有效抑制杂散光干扰，确保光谱信号的纯净度；成像畸变的降低则提升了空间配准精度，让光谱数据与空间信息能够精确对应。在复杂环境下，高热稳定性确保设备在温度变化较大的场景中仍能保持稳定的光谱响应，不会因温度波动导致数据漂移；高信噪比则让设备在低光照、远距离等恶劣条件下，仍能捕捉到清晰、可靠的光谱信号。这些性能优势让 Co-Aligned HP 在各类复杂作业环境中都能输出稳定、高质量的数据，展现出极强的环境适应能力。石家庄高分辨率高光谱成像仪源头厂家