芯片可靠性测试试验

上海天梯检测——输入电压跌落及输出动态负载 一次模块在实际使用过程中，当输入电压跌落时，电源模块突加负载的极限情况是可能发生的，此时功率器件、磁性元件工作在较大瞬态电流状态，试验可以检验控制时序、限流保护等电路及软件设计的合理性。 A、将输入电压调整为在欠压点＋5V（持续时间为5s）、过压点-5V（持续时间为5s）之间跳变，输出调整在较大负载（较大额定容量，持续时间为500ms）、空载（持续时间为500ms）之间跳变，运行1小时； B、将输入电压调整为欠压点＋5V（持续时间为5s）、过压点-5V（持续时间为5s）之间跳变，输出调整在较大负载（较大额定容量，持续时间为1s）、空载（持续时间为500ms）之间跳变，运行1小时。可靠性测试是检验和试验产品的重要质量指标。芯片可靠性测试试验

HALT(Highly Accelerated Life Test，高加速寿命试验)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening，高加速应力筛选)、这是一种能够提高产品可靠性的测试手段，HALT/HASS 是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6 个月甚至1 年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT/HASS 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在美国之外，许多国际的3C 电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。 HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。加诸于产品的应力有振动，高低温，温度循环，电力开关循环，电压边际及频率边际测试等。HALT 应用于产品的研发阶段，能够及早地发现产品可靠性的薄弱环节。温度可靠性测试公司可靠性测试已经列为产品的重要质量指标加以考核和检验。

可靠性验收测试是满足批量生产的产品是否能在规定的环境应力条件下及具体的工作条件，是否满足规定的可靠性要求。它主要考核批生产的产品可靠性是否随生产期间工艺、工装、元器件、零部件等的变化而降低。可靠性验收测试前需要确定测试方案，它应该尽可能的真实模拟实际使用条件，施加的可靠性测试应力和可靠性鉴定试验相同。试验过程中如果出现故障，只允许修复或更换，不允许采取改进措施，是否需要进行可靠性验收试验，一般由采购方提出。

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 11、倾跌与翻倒： 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ec和导则:倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。 12、砂尘试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验L：沙尘试验 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定气压。 13、盐雾试验： 环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾，交变(氯化钠溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996； 人造气氛腐蚀试验 盐雾试验 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006； 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ka：盐雾 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。 14、温度冲击试验： 环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。对产品而言，可靠性测试结果越高就越好。

可靠性的强化实验通常应用在产品设计初期或者发展初期，由于市场验证和反馈较少，为了确保其性能稳定定通常就以该实验来发现产品的不足之处，然后再对其进行设计上的修改。这种可靠性的强化实验分几个阶段进行。在研发设计阶段可以对实验样品进行测试。如果该产品的结构设计、制作工艺，材料应用等方面出现问题，就可以及时将其解决掉了。如此这般经过反复多次试验，反复多次改进就能进一步提高产品初期的可靠性。在产品投产和试产阶段，是根据市场环境这条思路出发的。可靠性测试中的“双85”试验被普遍地应用于LED和光伏产业中。上海汽车零部件可靠性测试价格

可靠性强化测试是一种激发性测试。芯片可靠性测试试验

上海天梯检测——高压空载，低压限流态运行试验 测试说明： 高压空载运行是测试模块的损耗情况，尤其是带软开关技术的模块，在空载情况下，软开关变为硬开关，模块的损耗相应增大。低压满载运行是测试模块在较大输入电流时，模块的损耗情况，通常状态下，模块在低压输入、满载输出时，效率较低，此时模块的发热较为严重。 测试方法： A、将模块的输入电压调整为输入过压保护点-3V，模块的输出为较低输出电压，空载运行，此时，模块的占空比为较小，连续运行2小时，模块不应损坏； B、将模块的输入电压调整为欠压点+3V，模块的输出为较高输出电压的拐点状态，此时模块的占空比为较大，连续运行2小时，模块不应出现损坏芯片可靠性测试试验

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