上海芯片可靠性综合测试实验室

对产品而言，可靠性测试结果越高就越好。可靠性高的产品，可以长时间正常工作（这正是所有消费者需要得到的），一般来说，研发和生产成本会较高，但是后期维护费用较少；可靠性低的产品，一般来说，研发和生产成本会较低，但是后期维护费用较高。从专业术语上来说，就是产品的可靠性越高，产品可以无故障工作的时间就越长。产品实际使用的可靠性叫做工作可靠性。工作可靠性又可分为固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性是产品设计制造者必须确立的可靠性，即按照可靠性规划，从原材料和零部件的选用，经过设计、制造、测试，直到产品出产的各个阶段所确立的可靠性。可靠性测试有哪些?怎么办理可靠性测试？上海芯片可靠性综合测试实验室

材料可靠性测试 分析对各种环境状况的反应 对于许多产品和零组件来说，材料和可靠性测试是必须的，因为它证实了产品或材料如何应对挑战性的环境。在上海天梯检测，我们将可靠性测试方法分为四大类：气候环境测试、动态环境测试、工业及户外环境测试和机械压力测试。 我们的测试服务 气候环境测试：仿真不同的温度、湿度和气压组合。 动态环境测试：仿真运输、安装及使用环境对产品造成的压力。 工业及户外环境测试：模拟不同的户外场景，包括接触沙、尘、雨、水，暴露在阳光和紫外线中，以及被气体和风腐蚀。 机械压力测试：验证产品机械结构的强度。包括推拉测试、弯曲测试、扭曲测试、刺穿测试、连接器寿命/耐久性测试和染色/撬动测试。上海电机可靠性测试实验室对产品进行可靠性环境测试可以让生产者及时调整产品的成分、生产方式、包装等。

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 11、倾跌与翻倒： 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ec和导则:倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。 12、砂尘试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验L：沙尘试验 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定气压。 13、盐雾试验： 环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾，交变(氯化钠溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996； 人造气氛腐蚀试验 盐雾试验 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006； 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ka：盐雾 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。 14、温度冲击试验： 环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。

上海天梯检测技术有限公司可靠性试验目的： 要包括高温试验、低温试验、温度快速变化试验、温度冲击试验、恒定温湿度试验、温湿度循环试验、盐雾试验、防水防尘试验、紫外老化试验和氙灯老化试验等。是考核产品在各种环境条件下的适应能力，是评价产品可靠性的重要试验方法之一。 温度快速变化试验 试验目的：快速温变是规定了温度变化速率的温度变化，常常模拟昼夜温差大的地区环境，也可用于寿命试验，用以考核元器件或产品的外观、机械性能及电气性能。 试验设备：快速温变试验箱可靠性测试哪家好？上海天梯检测是您的*****！

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 1、低温试验： 低温测试标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温GB/T 2423.1-2008，只做：温度≥-70℃。 2、高温试验： 高温测试标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 只做：温度≤300℃。 3、恒定湿热试验： 湿热试验标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy: 恒定湿热主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995。只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH 电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001 只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH。 4、交变湿热试验： 电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Db：交变湿热（12h＋12h循环） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005。只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH。在产品的整个生命周期当中，都离不开可靠性测试。上海芯片可靠性测试标准

如何确定产品需做哪些可靠性试验?上海芯片可靠性综合测试实验室

软件可靠性是软件系统在规定的时间内以及规定的环境条件下，完成规定功能的能力。一般情况下，只能通过对软件系统进行测试来度量其可靠性。压力测试是指模拟巨大的工作负荷以查看应用程序在峰值使用情况下如何执行操作。利用组件压力测试，可隔离构成组件和服务、推断出它们公开的导航方法、函数方法和接口方法以及创建调用这些方法的测试前端。对于那些进入数据库服务器或一些其他组件的方法，可创建一个提供所需格式的哑元数据的后端。测试仪器在观察结果的同时，反复插入哑元数据。上海芯片可靠性综合测试实验室

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