马波斯的非接触式激光尺寸测量技术值得信赖。激光测量仪已被应用于机械行业的大量生产工艺，包括导线、电缆和光纤生产以及塑料挤出成形等其它工业领域。国际空间站（ISS）上所配的激光测量仪可测量直低至为30微米（千分之三十毫米）的被测物体，测量重复精度（精度）可达30纳米，在特殊环境中中可确保光纤生产达到更高质量标准。其中Aeroel是集团中提供精密激光测量仪的一个产品线。其激光测量仪成功入选并整合在国际空间站（ISS）的全自动光纤产线上UNIMAR测头应用于连续/中断内部、外部研磨、高精度车床、加工后测量站、机械加工中心、无中心研磨。安徽高精度车床测量仪方法
马波斯为内径测量过程监控需求提供了全套测量仪器。Thruvar产品系列包括不同尺寸与性能的每类设备用测量仪器。这些测量仪器的设计旨在优化空间的使用，适合用于机床主轴内，且能够通过Quick设置技术将机械加工流程效率尽可能优化。在磨削周期（加工中）中测量零件。测量仪器连同相关电子控制单元与机床交换信息与信号，以将性能优化以及实现预期的结果。Thruvar产品即便在很难靠近这些内径的情况中也可以实现内径的测量。它尊重机床内部的可用空间：测量仪器的设计旨在适合用于主轴内部，同时可以减少快速零件交换设置系统引起的机床停机时间。并且根据可获取的大量测量仪器选取各种解决方案，以及通过选择相关电子控制单元为每类要求以及性能级配置应用；并将内径测量功能集成在总体马波斯监控系统中（砂轮平衡、声信号、艺术表面控制、统计过程监控）。山东外圆磨床在线加工测量仪品牌马波斯测量科技可以供应外圆磨床在线加工测量仪。
标准测量件/工业电脑及软件马波斯给量规制造商提供了他们构建测量站和固定装置所需的部件。提供的部件包括：探针与测量传输元件：机械部件与传感器指示器与显示单元：详述并呈现结果的机械与电子单元信号转换器：转换设备之间的传感器值数据采集系统：将模拟和数字传感器与工业个人电脑连接起来的接口单元工业电脑用于数据处理与控制（嵌入式电脑、平板电脑与工作站）为统计过程和质量控制（SPC）创建分布式工场数据采集系统的应用软件。马波斯为量规与固定装置制造商提供了完整的位移传感器与机械传输元件生产线，以创建**测量应用程序。这些传感器通过光学或者机械位移探测待转换为电子信号的尺寸偏差。RedCrown2™是由马波斯***开发的一款笔试探头，可以在各种应用程序中发挥高水平的计量性能。造型紧凑，测量精细，坚固的设计，易于夹紧等特点使该类型的传感器成为您理想的定制化解决方案。
马波斯除了可以在线测量锂离子电池的电极极片，还能够进行方形电芯的电气检测。马波斯在电芯测量方面，能够提供EOL（电芯生产）或BOL（模组组装）阶段智能方形电芯检测台以供测量。智能方形电芯检测台的检测范围很多，可以包括外形尺寸测量、电性能和绝缘性能检测以及电解液泄漏示踪检测。从特征的角度来看，一方面，马波斯智能方形电芯检测台可以适应不同类型方形电芯的检测要求，同时，测量过程中可以提供手动和自动上料解决方案。与此同时，设备的电性能检测范围广，可分容。主动测量仪系统厂家--马波斯测量科技。
Marposs设计的用户界面基于先进的表示方法，实际上，这些表示方法使用的开发环境与为消费者标记创建界面所用的开发环境相同。这确保了与设备交互的用户能够找到与市场上其他设备（触摸屏、各种软件级别的组织、类似的图形对象等）相同的性能。软件均包可根据所用设备的结构、客户的要求和必要的通信方法进行配置。Marposs生产的设备可根据硬件/软件配置进行划分：有“单功能设备”管理单一类型的控制，并允许低程度的定制和外部接口；有大扩展可能性的系统“多功能/多任务设备”，可执行各种控制类型，具有更复杂的周期和更大的外部信息交换。图形选项有各种级别，从简单的状态或数字或条形图到时间图、直方图和图形。MARPOSS嗅探氦气泄漏测试方案能够测量10-2 - 10-4 SCC/sec的泄漏，该技术在漏率范围内取得了良好测试结果。江西后数控机床测量仪方法
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统计过程控制规定了三个活动阶段：了解过程：必须在其行为中识别过程，并且必须明确规定每个受控特征的规格界限。可变性的特殊原因必须消除，以使过程稳定。使用控制图监控生产过程：这些图表用于及时检测受控特征的均值或方差的变化。控制图的目的是识别始终存在的可变性的常见原因，并将其与特殊原因区分开来。统计过程控制的目标不是检查零件是否良好，而是预测并防止生产出有缺陷的零件。为此，可将控制图作为预测工具，并确定可能导致生产出有缺陷的零件的原因。一旦控制图表示存在不稳定的过程（SPC警报），就必须采取措施控制生产，从而限制了部件不合格和生产线的减速。当控制图没有发出任何警报信号时，该过程可被视为“稳定”或“受控制”；其“过程能力”可以通过“能力研究”进行计算。过程能力是一种用来计算过程在未来指定限制时间内生产零件的能力的指数。**初的Shewart理论基于过程，其特征*由一种正态分布进行描述。随着时间的推移，统计过程控制的能力得到了改进，能够（使用Pearson控制图）分析不同分布描述的连续特征，（使用P控制图和NP控制图）分析离散特征，以及（使用C控制图）和U控制图）分析具有多个缺陷的离散特征。安徽高精度车床测量仪方法
