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测试系统基本参数
  • 品牌
  • 上海柏毅
  • 型号
  • 齐全
  • 类型
  • 离子迁移测试系统,微电阻测试系统/低电阻测试系统,高电流测试
  • 加工定制
  • 产地
  • 上海
  • 厂家
  • 上海柏毅试验设备有限公司
测试系统企业商机

PCB板的检测是时候要注意一些细节方面,以便更准备的保证产品质量,在检测PCB板的时候,我们应注意下面的小常识。测试PCB板不要造成引脚间短路电压测量或用示波器探头测试波形时,表笔或探头不要由于滑动而造成集成电路引脚间短路,比较好在与引脚直接连通的周边印刷电路上进行测量。任何瞬间的短路都容易损坏集成电路,在测试扁平型封装的CMOS集成电路时更要加倍小心。5、检测PCB板测试仪表内阻要大测量集成电路引脚直流电压时,应选用表头内阻大于20KΩ/V的万用表,否则对某些引脚电压会有较大的测量误差。6、检测PCB板要注意功率集成电路的散热功率集成电路应散热良好,不允许不带散热器而处于大功率的状态下工作。上海柏毅试验设备有限公司随时欢迎您的咨询! 上海柏毅试验设备有限公司专业提供各类测试系统,可以随时来电咨询!上海CAF测试系统哪家好

PCB的绝缘性劣化,突出表现在电极之间产生离子迁移现象。当对PCB工作下施加的电压增高时,它的绝缘性就会有很快的下降。而离子迁移的间隙,就是导体间的绝缘体中的树脂内微细空隙、玻璃纤维布和树脂的粘接界面、铜箔与树脂的粘接界面、树脂中的填充材料的粘接界面、绝缘体受到热冲击后产生的微细裂缝等。层间剥离界面剥离、处理液等的不纯物的浸入、绝缘体内含有不纯物、绝缘材料的劣化等,都易于诱发离子迁移现象在PCB上发生。在玻纤布的纤维与树脂之间产生的离子迁移现象,称作CAF(ConductiveAnodicF1iament)现象。将PCB放置于高温高湿的环境试验箱中,并在线路板上焊接电缆线,施加偏置电压,然后每隔一段时间,将PCB从环境试验箱中取出,进行绝缘电阻测试,这种间断式的测试方法,会漏过很多实际发生的离子迁移。一方面因为将PCB从环境试验箱中取出,PCB会变得干燥,从而导致绝缘电阻的上升,另一方面,当PCB在高温高湿的环境试验箱中承受偏置电压时,离子迁移可能随时发生。有效的PCB离子迁移测试,需要将PCB放置于高温高湿的环境试验箱中,并在线路板上焊接电缆线,引出至环境试验箱外的有关测试设备上。 江西耐电流测试系统生产厂家上海柏毅试验设备有限公司可以为您提供各种测试系统,有需要可以来电咨询!!

CHCT恒温耐电流测试是耐电流测试的一种方法。测试中,孔链被施加直流电流,此电流在测试过程中随孔链温度反馈而实时变化,使得孔链以设定的升温速度V达到设定的高温T1,然后让孔链在该设定的高温T1下保持设定的时间(t2-t1),停止施加电流,使孔链冷却时间(t3-t2),直到达到室温。根据测试需要还可以进行循环测试。在测试过程中,需要实时检测孔链的温度,温度变化,电阻,电流。★CHCT耐电流测试仪CHCT耐电流测试仪是用于PCB孔链导通可靠性测试样品的恒温耐电流测试的仪器。仪器采用高精度的电源模块和温度以及电阻测量模块,控制PCB孔链以设定的升温速度(℃/Sec)升温,达到设定的温度后,保持设定的时间,并实时监测孔链的温度,电流,以及电阻变化。

表面绝缘电阻(SIR)测试是一种标准的工业方法。它用来评估在经受腐蚀和与离子污染物相伴产生的一些作用,板组装件的潜在问题。这些故障可能有材料交互作用、不充分的过程控制或拙劣的材料性能引起。SIR典型地运用于温度升高和湿度级。这里的电阻定为两个电导体之间的电阻。薄层电阻、体传导性和电解污染物泄露都是影响绝缘电阻的因素。随着业务量的增加以及测试要求的不断提高,离子迁移评估及绝缘评估愈发重要。**依靠人工测试,已不能妈祖当今细微化和高密度电子设备的测试需求,如何在现有的测试要求基础上开发新的表面绝缘电阻测试系统,快速准确的完成表面绝缘电阻的自动化测试,已成为进一步提高服务质量、发展业务必须解决的问题。上海柏毅试验设备有限公司欢迎您随时咨询! 整车气候环境模拟及检测系统、多因素环境模 拟系统以及各种非标试验系统。

离子迁移测试系统主要用途:该系统***用于印制电路板、阻焊油墨、绝缘漆、胶粘剂,封装树脂微间距图形、IC封装材料等绝缘材料性能退化特性评估,以及焊锡膏、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝缘性能退化评估。该系统能够充分满足IEC、EIA、IPC、GB、GJB、QJ等相关测试规范,通过将评估试样置于高压、高温高湿环境下,通过实时监测材料绝缘阻抗的变化,记录相关数据和曲线,帮助使用人员对材料特性进行量化分析。主要应用行业:通讯设备、船舶汽车、计算机、航空航天、半导体,印制电路板等。总部位于上海,营销中心在昆山,主要工厂在湖南,并且公司在全国有多个办事处和服务网络,在国内各地如天津、东莞、珠海、武汉等拥有办事处,甚至以及步入海外,服务及时。 上海柏毅|半导体原器件失效分析可靠性测试。微电阻测试系统生产厂家

上海柏毅|可靠性环境测试系统。上海CAF测试系统哪家好

HCT测试,Highcurrenttest,耐电流测试,Currentloadingtest耐电流测试是测试PCB产品的孔互联可靠性的一种测试方法。耐电流测试是在特殊设计的孔链上施加一定的直流电流,并持续一段时间,电流在孔链上产生焦耳热,热量传导到孔附近的基材,基材受热膨胀,Z方向尺寸变大,产生膨胀应力,作用于孔上下焊盘之间,当孔的互联可靠性不良时,膨胀应力会导致孔断裂,从而检测出孔的互联可靠性不良。耐电流测试具有快速的特点。耐电流测试具有直观的特点。耐电流测试具有范围较广的特点,所有印制电路板在制板上均可以设置孔链。上海柏毅试验设备有限公司的产品和技术都非常成熟。公司拥有技术和产品**100余份,公司研发团队实力雄厚,新品研发效率比较高;通过多年的沉淀积累,拥有多项技术**,通ISO9001:2015质量管理体系认证,可生产符合MIL、IEC、DIN等各种国际标准的环境试验设备。 上海CAF测试系统哪家好

上海柏毅试验设备有限公司成立于2010-09-07,位于安亭镇杨木桥支路8号6幢A区,公司自成立以来通过规范化运营和高质量服务,赢得了客户及社会的一致认可和好评。公司主要产品有可程式恒温恒湿试验箱,小型高低温试验箱,冷热冲击试验箱,快速温变试验箱箱等,公司工程技术人员、行政管理人员、产品制造及售后服务人员均有多年行业经验。并与上下游企业保持密切的合作关系。上海柏毅集中了一批经验丰富的技术及管理专业人才,能为客户提供良好的售前、售中及售后服务,并能根据用户需求,定制产品和配套整体解决方案。我们本着客户满意的原则为客户提供可程式恒温恒湿试验箱,小型高低温试验箱,冷热冲击试验箱,快速温变试验箱箱产品售前服务,为客户提供周到的售后服务。价格低廉优惠,服务周到,欢迎您的来电!

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