平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

    平板探测器成像时会受到暗场飘移、响应不一致和坏点等因素影响,因此必须对平板探测器进行暗场校正、增益校正和坏像素校正。1、暗场校正(OFFSET correction),就是在开启射线源进行检测工作时,为了正确反映出透照物体内部结构与图像灰度值之间的对应关系,去除叠加在实际输出响应上的暗场图像值。2、虽然在线性曝光剂量范围内,平板探测器的每个探测单元对X射线响应是线性的,但不同探测单元的X射线响应系数并不完全一致,即响应不一致性。它带来的后果是相同的入射射线强度,但输出不同。因此必须对平板探测器做增益校正(GAIN correction)。3、平板探测器(FPD)使用过程中,元器件老化、辐射额碰撞损伤都会产生新的坏点,所以定期更新坏点位置图(坏像素校正))是十分重要的。 坏点即坏像素,是指对X射线强度不响应或响应不良的探测器单元。苏州动态平板探测器产品介绍

    数字化X线摄影主要基于二维解剖平面成像,在诸多部位的成像上受到重叠影像影响,难以对病灶进行精细的定位与评估。以胸片为例,由于胸部纵膈心影重叠以及膈下肋骨重叠,极易导致漏诊与误诊的发生。此外,由于受到被照物的影响,诸如呼吸以及受检查的运动等因素,影像质量难以控制,由此,一种新的数字化X线摄影技术开始出现:动态数字化X线摄影技术,简称为动态DR。动态DR相较于常规数字化X线摄影,能极大地提升X线影像质量控制效果,同时对于诸多部位的摄片诊断能提供运功功能的视角和评估参考,进一步提升筛查与诊断的精细性。动态DR作为X线摄影技术,在临床中具备大范围的应用价值与优势。举例来说,动态DR在胸部影像诊断中具有可视化功能,可在任意转动**时,结合呼吸运动,排除胸部骨骼、心影和肺门大血管重叠或遮盖。多角度动态观察胸廓、肋骨、心影、膈肌,以及胸腔病变、肺部病变、纵膈病变在呼吸运动状态下的变化,在各种管路位置的提示及医疗效果评估方面也能满足临床需要。 杭州动态平板探测器技术参数像素尺寸:是指成像有效区域长度与像素数之比,或表示为相邻像素的中心距离。

    像素尺寸:是指成像有效区域长度与像素数之比,或表示为相邻像素的中心距离。A、分辨率:两个相邻细节间**小距离的分辨能力。B、系统分辨率:在无被检工件的情况下,当透照几何放大倍数接近于1时,检测系统所能分辨的单位长度上两个相邻细节间**小距离的能力。反映了检测系统本身的特性,也称为系统基本空间分辨率。C、图像分辨率:检测系统所能分辨的被检工件图像中单位长度上两个相邻细节间**小距离的能力,也被称为空间分辨率。D、极限分辨率:在无物理(几何)放大的条件下,检测系统的最大分辨率。像素尺寸太小,会增加图像噪声;像素尺寸太大,会降低图像分辨率。所以在选择探测器像素尺寸时要根据具体的检测需求选择,不能过分追求小像素尺寸的探测器。

    根据探测器的闪烁体材料,可分为碘化铯(CsI)平板和硫氧化钆(GdOS)平板两种。二者成像原理基本一致,不过因探测材料不同,成本及性能有明显差异:1)与碘化铯不同,GdOS不需要长时间蒸镀沉积过程,生产工艺简单,产品稳定可靠,成本较CsI低20%—30%;2)相较于GdOS,针状碘化铯晶体的X射线转换效率高30%—40%,横向光扩散也更小,具有更高的空间分辨率。因此,碘化铯平板的DQE更高,成像更清晰。根据IHSMarkit预测,在闪烁体领域,凭优异的性能,碘化铯将进一步挤占GdOS的市场份额。 无线平板探测器,内置5G模块,超高清晰度的图像从形成到传输到电脑只需3-5秒,速度更快,运行更加稳定。

    平板探测器的空间分辨率指图像空间范围内的解像力或解像度,以能够分辨清楚图像中黑白相间线条的能力来表示。黑白相间的线条称为线对,一对黑白相间的线条称为一个线对。分辨率的线性表达单位是线对/毫米(LP/mm)。在单位宽度范围内能够分辨清楚线对数越多,表示图像空间分辨率越高。图像分辨率可用分辨率测试卡直接测出。但空间分辨率的提高不是无限的,与探测器对X射线光子的检测灵敏度、动态范围、信噪比等有密切关系。实际成像中,影像分辨率的因素有很多:如X射线焦点、曝光时间、探测器感官灵敏度、计算机图像处理、显示器性能等。系统中每个因素发生变化,都会影响整个系统的分辨率。 AED是自动感应曝光技术,该技术可以让平板探测器自动探测X射线,自动进入曝光窗口,把图像输出至计算机。合肥静态平板探测器产品介绍

DR系统主要包括X射线发生装置、平板探测器、系统控制器、影像显示器、影像处理工作站等几部分组成。苏州动态平板探测器产品介绍

    量子探测效率(DQE)是一种对成像系统信号和噪声从输入到输出的传输能力的表达,以百分比表示。DQE反映的是平板探测器的灵敏度、噪声、X线剂量和密度分辨率。在非晶硅平板探测器中,影响DQE的因素主要有两个方面:闪烁体涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。1、闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,所以对DQE会产生影响。闪烁体涂层材料有两种:碘化铯和硫氧化钆。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速率快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯涂层高。2、将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会对DQE产生影响。在碘化铯(或者硫氧化钆)薄膜晶体管这种结构的平板探测器中,因为TFT的阵列可以做成与闪烁体涂层的面积一样大,所以可见光不需要经过透镜折射就可以投射到TFT上,没有光子损失,所以DQE也比较高;在非晶硒平板探测器中,X线转换成电信号完全依赖于非晶硒层产生的电子空穴对,DQE的高低取决于非晶硒层产生电荷能力。总的说来,CsITFT这种结构的间接转换平板探测器的极限DQE高于a-Se直接转换平板探测器的极限DQE。苏州动态平板探测器产品介绍

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