平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

    调制传递函数(MTF)是描述系统再现成像物体空间频率范围的能力。理想的成像系统要求100%再现成像物体细节,但现实中肯定存在不同程度的衰减,所以MTF始终<1,它说明成像系统不能把输入的影像全部再现出来,换句话说,凡是经过成像系统所获得的图像都不同程度损失了影像的对比度。MTF值越大,成像系统再现成像物体细节能力越强。系统的MTF是必须要测定的。要评价数字X线摄影系统的固有成像质量,必须计算出不受主观影响的、系统所固有的预采样MTF。国际机构的测量结果表明,相比于非晶硅平板探测器,非晶硒平板探测器具有优良的MTF值,但空间分辨率增加时,非晶硅平板探测器的MTF迅速下降,而非晶硒平板探测器仍能保持较好的MTF值,这是与非晶硒平板探测器直接将入射的不可见X光光子直接转换为电信号的成像原理密切相关的。 在X线数字成像中噪声定义为:影像上观察到的亮度水平中随机出现的波动。杭州安防平板探测器功能

    量子探测效率(DQE)是一种对成像系统信号和噪声从输入到输出的传输能力的表达,以百分比表示。DQE反映的是平板探测器的灵敏度、噪声、X线剂量和密度分辨率。在非晶硅平板探测器中,影响DQE的因素主要有两个方面:闪烁体涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。1、闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,所以对DQE会产生影响。闪烁体涂层材料有两种:碘化铯和硫氧化钆。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速率快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯涂层高。2、将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会对DQE产生影响。在碘化铯(或者硫氧化钆)薄膜晶体管这种结构的平板探测器中,因为TFT的阵列可以做成与闪烁体涂层的面积一样大,所以可见光不需要经过透镜折射就可以投射到TFT上,没有光子损失,所以DQE也比较高;在非晶硒平板探测器中,X线转换成电信号完全依赖于非晶硒层产生的电子空穴对,DQE的高低取决于非晶硒层产生电荷能力。总的说来,CsITFT这种结构的间接转换平板探测器的极限DQE高于a-Se直接转换平板探测器的极限DQE。苏州无线平板探测器厂家直销搭载AED后,可以搭配任意高压发生器,更加方便地实现平板的分享功能。

    CR和DR存在一些共同点。1、DR和CR将X射线图像信息转换成数字图像信息。与传统的X射线相比,检查员的工作量,工作效率和胶片消耗都具有明显的优势。CR和DR技术不仅省去了薄膜冲洗工艺,而且减少了化学药品的消耗,并且可以很好地控制质量。2、DR和CR都具有较宽的动态范围和较宽的曝光范围。当X射线曝光参数不足时,可以获得良好的图像。透照的成功率很高,可以有效地减少回收率,并减少废品率。减少胶片消耗有利于节省资源,检查人员的工作量也相对减少。3、DR和CR获取数字信号图像,并根据需要通过图像处理系统实现图像优化,改善图像细节,达到比较好视觉效果,提高图像质量。

    非晶硅、IGZO、CMOS、柔性基板、非晶硒等五种技术适合于不同的应用场景:1)非晶硅探测器,因具有出色的成本优势,短时间内仍会是平板探测器的主流技术平台。2)IGZO探测器,因采集时间短,信噪比高等特点,在动态平板上有很大优势。未来随着技术更趋成熟,IGZO***替代非晶硅(至少在动态平板领域),应该是大势所趋。3)CMOS探测器,虽然主要应用在中小尺寸动态成像领域,但因其高分辨率、高帧速率和低剂量性能,在牙科、乳腺、外科及介入等场合,CMOS平板也是主流技术平台。4)柔性基板探测器,具有超窄边框、轻便、抗冲撞、不易破损等特点。不过目前成本较高,随着工艺不断改善,未来在部分特殊应用场景将取代传统的非晶硅探测器。5)非晶硒探测器,因为更高的性能和成本,非晶硒在很长时间内仍会继续“统治”中**乳腺机,直到光子计数探测器普及。 DR系统主要包括X射线发生装置、平板探测器、系统控制器、影像显示器、影像处理工作站等几部分组成。

    噪声:非输入信号造成的输出信号。噪声的主要来源:探测器的电子噪声、射线图像量子噪声。信噪比:探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比,用SNR表示。信噪比越高,图像质量越好。归一化信噪比:比较不同探测器的信噪比,必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式:SNRn=SNRm×88.6/P。SNRn归一化信噪比,SNRm测量信噪比,P探测器像素尺寸(um)。线性度:是探测器产生的信号在比较大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。稳定性:是随着工作时间的增加探测器处理信号产生一致性的能力,线性度和稳定性直接影响探测器精度。响应时间:是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间,它是影响**采样的速率及数据质量的关键。由探测器预备时间,曝光等待时间,曝光窗口,图像读出时间四部分构成。 密度分辨率高、获取更多影像细节是数字化X线影像(DR)优于普通放射影像**重要的特点。无锡智能平板探测器应用范围

线阵与平板相似,不过只有一行像素,因此要形成二维图像,需要使用如传送装置增加时间维度。杭州安防平板探测器功能

    评价平板探测器成像质量的性能指标主要有两个:量子探测效率(DetectiveQuantumEfficiency,DQE)和空间分辨率。DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能力;而空间分辨率决定了对组织细微结构的分辨能力。考察DQE和空间分辨率可以评估平板探测器的成像能力。不同类型的平板探测器因为材料、结构、工艺的不同而造成DQE和空间分辨率的差异。DQE影响了对组织密度差异的分辨能力;而空间分辨率影响了对细微结构的分辨能力。还没有一款DQE和空间分辨率都做得很高的平板探测器,所以需要在二者间做一个平衡。杭州安防平板探测器功能

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