使用X-Ray检查BGA焊性。X光机是利用X射线透过被检测物体后衰减,由射线接收/转换装置接收并转换成信号,通过半导体传感技术、计算机图像处理技术和信息处理技术,将检测图像直接显示在显示器屏幕上,用于金属或非金属器件的无损检测,它具有快速、准确、直观等特点。在电子产品中应用于:1)IC封装:芯片大小量测、芯片位置、空洞、导线架、打线、连接线路的开路、短路、不正常连接、陶瓷电容结构检验。2)PCB和PCBA:PCB内层走线、焊点孔洞、成型不良、桥连、立碑、焊料不足/过剩、组件吃锡面积比例、器件漏装、引腳弯曲/不共面、异物检查等。3)其它应用:机械结构、电池结构检验等。 公司专注于平板探测器,自创立以来煜影光电潜心研究,提供多款动态平板探测器,无线平板探测器。宁波动态平板探测器厂家电话
像素单元是一个面积单位,相当于每个薄膜晶体管单元为139微米×139微米,整块43厘米×43厘米的面积布满了944万像素单元,近千万像素,对应的一般分辨率在3.6LP/mm,毫米单元可以看到3.6个线对,清晰度非常高,可以清晰到看到骨纹理的细节。设计单元太大,则无法看到病灶点的细节,而像素单元太小,则需要提高每个像素单元的入射光子数量,则提高了X光的剂量,对被照体产生伤害。139微米的比较好设计即保障了清晰度,同时也充分利用了入射剂量,减少了对被照体的伤害。除了薄膜晶体管阵列对应的像素单元,芯片设计的是否直接bonding在TFT上也是一个**工艺,一般分为直接bonding在TFT上,该技术为CHIPONGLASS,“COG”。该技术无中间层,提高了转换率无中间层衰减。其它技术则通过软性电路板中间层连接,提高了损耗。总结来看,直接生长工艺的碘化铯非晶硅TFT平板、具备毫秒级反应的工作流、139微米的像素单元设计和芯片直接bonding在TFT上,为目前平板的**设计和比较好设计。 杭州智能平板探测器厂家电话平板探测器涵盖芯片设计、TFT设计、电子电路、光学、**影像算法和人工智能算法等知识。
铸件的缺陷中有一些是会暴露在表面的,这种比较容易甄别出来。麻烦的是内部缺陷,它可能存在也可能没有,可能很微小不足为惧也可能严重到会随时报废引起更大的连锁反应。我们现在使用的很多产品都比以前的小巧美观,这一切多多少少会归功于X射线无损检测技术的保驾护航。X射线检测的原理是利用X射线穿透能力强并且稳定可控,射线穿透检材后被平板探测器收集,根据射线的衰减差异经过软件处理生成检测图像。因为检材中的缺陷和检材自身的密度是不同的,通过缺陷的射线和别处的射线衰减情况一定会不同,在**终的成像上缺陷也会特别的明显。
评价平板探测器成像质量的性能指标主要有两个:量子探测效率(DetectiveQuantumEfficiency,DQE)和空间分辨率。DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能力;而空间分辨率决定了对组织细微结构的分辨能力。考察DQE和空间分辨率可以评估平板探测器的成像能力。不同类型的平板探测器因为材料、结构、工艺的不同而造成DQE和空间分辨率的差异。DQE影响了对组织密度差异的分辨能力;而空间分辨率影响了对细微结构的分辨能力。还没有一款DQE和空间分辨率都做得很高的平板探测器,所以需要在二者间做一个平衡。经过增益校正后,由探测器响应单元不一致性引入的结构噪声得以大量消除。
非晶硒(a-Se)为直接式平板探测器结构,主要由集电矩阵、硒层、电介层、顶层电极和保护层等构成。集电矩阵由按阵元方式排列的薄膜晶体管(TFT)组成。非晶硒半导体材料在薄膜晶体管阵列上方通过真空蒸镀生成约、38mm×45mm见方的薄膜,它对X线很敏感,并有很高的图像解析能力。顶层电极接高压电源,当有X线入射时,由于高压电源在非晶硒表面形成的电场,它们只能沿电场方向垂直穿过绝缘层、X射线半导体、电子封闭层,到达非晶硒,不会出现横向偏离从而出现光的散射。非晶硒阵列直接将X射线转变成电信号,记忆在存储电容器里,脉冲控制门电路使薄膜晶体管导通,把记忆在存储电容器里的电荷送达电荷放大器输出,完成光电信号的转换,再经数字转换器转换,形成数字图像输入计算机,并由计算机将该影像还原在监视器上由医生观察监视器直接诊断。在X线数字成像中噪声定义为:影像上观察到的亮度水平中随机出现的波动。杭州智能平板探测器厂家电话
公司拥有多年研发生产经验,用心探索,探测器性能稳定,准度高,性价比高,提供技术支持服务产品。宁波动态平板探测器厂家电话
现在的电子产品几乎都把***的轻、薄设计作为企业竞争优势的抓手之一,电子产品的内部就变得更复杂,元器件越来越小但算力却几何倍数提升。这对加工和检验环节提出了新的挑战,常规的检查方法:视觉检查,光学检查,电测试和超声检查等很难同时满足既能检测的准确又能跟得上量产速度。目前行业内越来越多人认可X射线检测的准确性、可靠性和快速成像优势。X射线的一项明显特点就是穿透性强,在射线穿透检材后再接收衰减程度不一的射线并通过软件处理成像就可以非常直观的发现缺陷。这项技术在医疗诊断和工业检测中都有非常大范围的应用,并且检测过程是不会破坏检材的也不会影响检材使用性能。 宁波动态平板探测器厂家电话
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