量子探测效率(DQE)是一种对成像系统信号和噪声从输入到输出的传输能力的表达,以百分比表示。DQE反映的是平板探测器的灵敏度、噪声、X线剂量和密度分辨率。在非晶硅平板探测器中,影响DQE的因素主要有两个方面:闪烁体涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。1、闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,所以对DQE会产生影响。闪烁体涂层材料有两种:碘化铯和硫氧化钆。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速率快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯涂层高。2、将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会对DQE产生影响。在碘化铯(或者硫氧化钆)薄膜晶体管这种结构的平板探测器中,因为TFT的阵列可以做成与闪烁体涂层的面积一样大,所以可见光不需要经过透镜折射就可以投射到TFT上,没有光子损失,所以DQE也比较高;在非晶硒平板探测器中,X线转换成电信号完全依赖于非晶硒层产生的电子空穴对,DQE的高低取决于非晶硒层产生电荷能力。总的说来,CsITFT这种结构的间接转换平板探测器的极限DQE高于a-Se直接转换平板探测器的极限DQE。线阵与平板相似,不过只有一行像素,因此要形成二维图像,需要使用如传送装置增加时间维度。宁波购买平板探测器应用范围
评价平板探测器成像质量的性能指标主要有两个:量子探测效率(DetectiveQuantumEfficiency,DQE)和空间分辨率。DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能力;而空间分辨率决定了对组织细微结构的分辨能力。考察DQE和空间分辨率可以评估平板探测器的成像能力。不同类型的平板探测器因为材料、结构、工艺的不同而造成DQE和空间分辨率的差异。DQE影响了对组织密度差异的分辨能力;而空间分辨率影响了对细微结构的分辨能力。还没有一款DQE和空间分辨率都做得很高的平板探测器,所以需要在二者间做一个平衡。无锡购买平板探测器技术参数平板探测器实时成像检测技术的数字平板有三种:非晶硅(a-Si)、非晶硒(a-Se)、CMOS。
非晶硅平板探测器为间接数字化X线成像,其基本结构为表面是一层闪烁体材料(碘化铯或硫氧化钆),再下一层是以非晶体硅为材料的光电二极管电路,底层为电荷读出电路。位于探测器表面的闪烁体将透过人体后衰减的X线转换为可见光,闪烁体下的非晶硅光电二极管阵列又将可见光转换为电信号,在光电二极管自身的电容上形成存储电荷,每个像素的存储电荷量与入射X线强度成正比,在控制电路的作用下,扫描读出各个像素的存储电荷,经A/D转换后输出数字信号,传送给计算机进行图像处理从而形成X线数字影像。
间接转换平板探测器由碘化铯等闪烁晶体涂层与薄膜晶体管(ThinFilmTransistor,TFT)或电荷耦合器件(ChargeCoupledDevice,CCD)或互补型金属氧化物半导体(ComplementaryMetalOxideSemiconductor,CMOS)构成。间接转换平板探测器的工作过程一般分为两步,首先闪烁晶体涂层将X线的能量转换成可见光;其次TFT或者CCD,或CMOS将可见光转换成电信号。由于在这过程中可见光会发生散射,对空间分辨率产生一定的影响。虽然新工艺中将闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射,但散射光对空间分辨率的影响不能完全消除。常用的NDT方法有:超声,射线,涡流、磁粉、渗透等原理技术对材料、零件内进行部缺陷、结构,失效分析。
铸件的缺陷中有一些是会暴露在表面的,这种比较容易甄别出来。麻烦的是内部缺陷,它可能存在也可能没有,可能很微小不足为惧也可能严重到会随时报废引起更大的连锁反应。我们现在使用的很多产品都比以前的小巧美观,这一切多多少少会归功于X射线无损检测技术的保驾护航。X射线检测的原理是利用X射线穿透能力强并且稳定可控,射线穿透检材后被平板探测器收集,根据射线的衰减差异经过软件处理生成检测图像。因为检材中的缺陷和检材自身的密度是不同的,通过缺陷的射线和别处的射线衰减情况一定会不同,在**终的成像上缺陷也会特别的明显。 窗位(window level)又称窗水平,在图像显示过程中表示图像灰阶的中心位置。常州工业平板探测器厂家
密度分辨率高、获取更多影像细节是数字化X线影像(DR)优于普通放射影像**重要的特点。宁波购买平板探测器应用范围
X-RAY检测设备的应用非常***,可用于锂电池检测等电池行业、电路板行业、半导体封装、汽车行业、电路板组装行业等,可用于IGBT半导体检测、BGA芯片检测、LED灯条检测、PCB裸板检测、锂电池检测、铝铸件无损探伤检测。以观察和测量包装后内部物体的位置和形状,并观察内部状况,确认产品是否合格,真正的做到无损检测。X射线工业检测的优点:1、X射线成像非常直观。2、X射线检测作为薄壁铸件的无损检测具有很高的灵敏度。3、X射线测试对铸件的表面光洁度没有严格的要求。4、X射线测试结果在各种材料之间几乎没有差异。 宁波购买平板探测器应用范围
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