在间接转换的平板探测器中,影响DQE的因素主要有两个方面:闪烁体的涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。首先闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,因此对DQE会产生影响。常见的闪烁体涂层材料有两种:碘化铯(CsI)和硫氧化钆(Gd2O2S)。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强,但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,并减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯涂层高。 平板探测器在安检领域的应用包括公共场所安检、车辆集装箱检查、可疑包裹排查等。南京无线平板探测器厂家电话
非晶硒(a-Se)为直接式平板探测器结构,主要由集电矩阵、硒层、电介层、顶层电极和保护层等构成。集电矩阵由按阵元方式排列的薄膜晶体管(TFT)组成。非晶硒半导体材料在薄膜晶体管阵列上方通过真空蒸镀生成约、38mm×45mm见方的薄膜,它对X线很敏感,并有很高的图像解析能力。顶层电极接高压电源,当有X线入射时,由于高压电源在非晶硒表面形成的电场,它们只能沿电场方向垂直穿过绝缘层、X射线半导体、电子封闭层,到达非晶硒,不会出现横向偏离从而出现光的散射。非晶硒阵列直接将X射线转变成电信号,记忆在存储电容器里,脉冲控制门电路使薄膜晶体管导通,把记忆在存储电容器里的电荷送达电荷放大器输出,完成光电信号的转换,再经数字转换器转换,形成数字图像输入计算机,并由计算机将该影像还原在监视器上由医生观察监视器直接诊断。苏州宠物平板探测器功能数字化成像,可以得到高清晰度图像和更高分辨率的图像(可转换动态模式)。
非晶硅平板探测器为间接数字化X线成像,其基本结构为表面是一层闪烁体材料(碘化铯或硫氧化钆),再下一层是以非晶体硅为材料的光电二极管电路,底层为电荷读出电路。位于探测器表面的闪烁体将透过人体后衰减的X线转换为可见光,闪烁体下的非晶硅光电二极管阵列又将可见光转换为电信号,在光电二极管自身的电容上形成存储电荷,每个像素的存储电荷量与入射X线强度成正比,在控制电路的作用下,扫描读出各个像素的存储电荷,经A/D转换后输出数字信号,传送给计算机进行图像处理从而形成X线数字影像。
平板探测器是一种半导体检测器,是数字化摄影的主要部件。目前平板探测器一般可分间接式的CsI(a-Si)(碘化铯,非晶硅)平板探测器和直接式的a—Se(非晶硒)平板探测器,其作用是将X线的光量子信号转换成数字信号。机房环境对平板探测器的影响很大,适当的温湿度是维持探测器正常运行的必要条件。首先要保持设备环境温度的恒定,不要将探测器置于30℃以上的环境中;其次要经常观察探测器内部温度的变化,确保其稳定性,通常床上探测器为(40±3)℃,壁装支架探测器为(38±3)℃。有文章认为环境温度达到49℃后,每提高1.1℃,电子元器件的故障率增加约100%。平板探测器如果置于温度过高的环境,可致信息读出错误,并可能损坏探测器。环境湿度高会降低元器件的绝缘性能;灰尘多会影响成像效果,并可能遮盖探测器冷却设备的入口,导致探测器散热不良。平板探测器是精密电子设备,在使用过程中会出现探测器矩阵的某一行或某一列的像素失效,在图像上表现为点状或细线状伪影,其原因是在电场作用下导体中的电子发生定向运动出现了空洞,丧失了原有的成像功能。平板探测器的定时校准可以将失效的像素屏蔽。因此,探测器的定时校准是极其必要的。 平板为面阵结构,主要用于医疗、工业无损检测和安检等领域。
DR是射线数字成像检测的英文简称,工业领域也叫X射线探伤,现大部分采用数字平板。DR可以对缺陷进行定性分析,比较直观。首先,X射线对体积型缺陷比较敏感。在检测进行时,DR检测系统对工件表面要求不高,它是X射线穿透待检物后在平板探测器上接收经过检测物吸收后的光电子,再由计算机和图像软件处理得到明暗区分的图片,从而观测缺陷的种类和估算其大小,图像易于保存,所以可以用于定性和存档。X射线易于检测物体内部的气泡、缩孔、夹杂但难于确定深度方向的尺寸。 数字影像(DR)具有图像清晰细腻、高分辨率、广灰阶度、信息量大、动态范围大。常州智能平板探测器技术指导
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随着电子制造水平的越来越成熟,更多精密的电子产品与设备出现在国民生产生活中。在电子产品的品质检验上,射线检测因其非接触性,有着其他无损检测方法不可替代的地位。微焦点X射线数字成像检测系统是**常用的一种检测设备。通过焦点尺寸控制在50微米以下的微焦点X射线装置,在空间上形成相较于普通金属陶瓷管X射线装置更大的放大倍数的图像。这样的成像方式使得在显示器上观测线路板上的各类器件的产品品质更为容易,且因为焦点尺寸在50微米以下,图像的基本空间分辨率可以高达10~50微米以内。 南京无线平板探测器厂家电话
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