动态平板探测器常用知识

GIS(GasInsulatedSwitchgear，气体绝缘金属封闭开关)设备是由断路器、隔离开关、接地(快速)开关、母线、电流互感器、电压互感器、避雷器等多种高压电器组成并密封在金属圆筒之中，在其内部充有一定压力的SF6气体作为绝缘和灭弧介质。GIS设备的这种结构给拆解、检修工作都带来很多的困难，且该设备的维修工作技术难度大、费时长，一旦突发故障造成停电的损失将会十分巨大。随着GIS设备在我国电网中应用的不断增多，如何实现对GIS设备的关键部件进行有效、可靠检测，以及时发现设备的故障或缺陷，避免突发故障的产生，已经成为一种迫切的需求。便携DR检测系统一般由射线机、数字探测器阵列、计算机、软件、电缆、电源线、网线等组成。动态平板探测器常用知识

DR平板通过在探测器节电技术方面的发明创新，可以续航至少10小时，或以每分钟拍摄一张图的速度拍摄700幅图像，即使在**为繁忙的放射室也可以确保一整天的使用而不需要为电池充电或更换电池。高速、稳定、便捷的无线传输是无线平板探测器设计关键。通常环境下平板的无线传输速率与有线千兆网卡相当。可以在3秒完成一副全分辨率的图像传输，即使在**糟糕的情况下也不会超过5秒。即使遇到完全没有无线连接的情况，探测器依然可以把采集到的图像保存，等到有网路连接的时候再发送出去。与此同时，探测器图像具有高DQE，高分辨率等***品质。探测器具备高度灵敏和稳定自动曝光感应功能，可以方便的与所有高压发生器连接并同步。 X射线采集平板探测器厂家直销搭载AED后，可以搭配任意高压发生器，更加方便地实现平板的分享功能。

    数字图像的密度分辨率高。普通屏片组合X线照片的密度分辨率只能达到26灰阶，而数字图像的密度分辨率可达到210-12灰阶。虽然人眼对灰阶的分辨率有一定的限度，但固有数字图像可通过变化窗宽、窗位、转换曲线等技术，可使全部灰阶分段得到充分显示。从而扩大了密度分辨率的信息量，扩大照片的诊断范围。如普通屏片组合X线胸部正位片的纵隔、心影后肺组织观察不清，与双膈肌重叠的肋骨也无法观察，如有骨折极易漏诊，但DR照片可以通过调节窗宽、窗位、转换曲线等技术，很清楚看到纵隔、心影后肺组织病变，与膈肌重叠的肋骨也能显示清楚等。

X光机是利用X射线透过被检测物体后衰减，由射线接收/转换装置接收并转换成信号，通过半导体传感技术、计算机图像处理技术和信息处理技术，将检测图像直接显示在显示器屏幕上，用于金属或非金属器件的无损检测,它具有快速、准确、直观等特点。在电子产品中应用于:  1) IC封装:芯片大小量测、芯片位置、空洞、导线架、打线、连接线路的开路、短路、不正常连接、陶瓷电容结构检验。2) PCB和PCBA:PCB内层走线、焊点孔洞、成型不良、桥连、立碑、焊料不足/过剩、组件吃锡面积比例、器件漏装、引腳弯曲/不共面、异物检查等。3) 其它应用:机械结构、电池结构检验等。辐射剂量率系指单位时间内的照射剂量。

    非晶硒(a-Se)为直接式平板探测器结构，主要由集电矩阵、硒层、电介层、顶层电极和保护层等构成。集电矩阵由按阵元方式排列的薄膜晶体管(TFT)组成。非晶硒半导体材料在薄膜晶体管阵列上方通过真空蒸镀生成约、38mm×45mm见方的薄膜，它对X线很敏感，并有很高的图像解析能力。顶层电极接高压电源，当有X线入射时，由于高压电源在非晶硒表面形成的电场，它们只能沿电场方向垂直穿过绝缘层、X射线半导体、电子封闭层，到达非晶硒，不会出现横向偏离从而出现光的散射。非晶硒阵列直接将X射线转变成电信号，记忆在存储电容器里，脉冲控制门电路使薄膜晶体管导通，把记忆在存储电容器里的电荷送达电荷放大器输出，完成光电信号的转换，再经数字转换器转换，形成数字图像输入计算机，并由计算机将该影像还原在监视器上由医生观察监视器直接诊断。平板为面阵结构，主要用于医疗、工业无损检测和安检等领域。X射线采集平板探测器应用范围

普通X光机主要由控制台、高压发生器、机头、工作台及各种机械装置组成。动态平板探测器常用知识

    平板探测器是一种半导体检测器，是数字化摄影的主要部件。目前平板探测器一般可分间接式的CsI（a-Si）（碘化铯，非晶硅）平板探测器和直接式的a—Se（非晶硒）平板探测器，其作用是将X线的光量子信号转换成数字信号。机房环境对平板探测器的影响很大，适当的温湿度是维持探测器正常运行的必要条件。首先要保持设备环境温度的恒定，不要将探测器置于30℃以上的环境中；其次要经常观察探测器内部温度的变化，确保其稳定性，通常床上探测器为（40±3）℃，壁装支架探测器为（38±3）℃。有文章认为环境温度达到49℃后，每提高1.1℃，电子元器件的故障率增加约100%。平板探测器如果置于温度过高的环境，可致信息读出错误，并可能损坏探测器。环境湿度高会降低元器件的绝缘性能；灰尘多会影响成像效果，并可能遮盖探测器冷却设备的入口，导致探测器散热不良。平板探测器是精密电子设备，在使用过程中会出现探测器矩阵的某一行或某一列的像素失效，在图像上表现为点状或细线状伪影，其原因是在电场作用下导体中的电子发生定向运动出现了空洞，丧失了原有的成像功能。平板探测器的定时校准可以将失效的像素屏蔽。因此，探测器的定时校准是极其必要的。 动态平板探测器常用知识

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