GIS(GasInsulatedSwitchgear,气体绝缘金属封闭开关)设备是由断路器、隔离开关、接地(快速)开关、母线、电流互感器、电压互感器、避雷器等多种高压电器组成并密封在金属圆筒之中,在其内部充有一定压力的SF6气体作为绝缘和灭弧介质。GIS设备的这种结构给拆解、检修工作都带来很多的困难,且该设备的维修工作技术难度大、费时长,一旦突发故障造成停电的损失将会十分巨大。随着GIS设备在我国电网中应用的不断增多,如何实现对GIS设备的关键部件进行有效、可靠检测,以及时发现设备的故障或缺陷,避免突发故障的产生,已经成为一种迫切的需求。像素尺寸:是指成像有效区域长度与像素数之比,或表示为相邻像素的中心距离。安徽工业检测平板探测器
平板探测器(简称FPD)对kV、mAs(或mA、s)的响应特性是不同的。FPD对kV的响应特性呈阶段性:当kV小于100kV时,呈准线性响应,影像的原始灰度值随着kV的增加近乎呈线性增加;当kV大于100kV时,其响应性明显变弱,影像的灰度值随着kV的增加而增加的幅度明显下降。FPD对mAs(或mA、s)的响应几近线性。这一特性指导我们对较厚肢体照射时,在满足被照肢体穿透力(kV大于100kV后)的情况下,不要只靠调节kV来增加曝光量,所以此时应适当增加mAs(或加大mA或延长曝光时间或二者都相应加大),增加曝光量以增加图像灰度值;而对较薄肢体部位照射时,其穿透kV远远小于100kV,此时应适当提高kV,降低mAs(或减小mA或缩短曝光时间或二者都相应减少)。 宁波轻便平板探测器数字化 X 线影像 系统因成像质量高、曝光时间短,成为工业无损检测优先。
X射线是一种不可见光,具有光的一切特性。光是一种电磁波,且有波、粒两像性。这是光的本质,也是X射线的本质。在电磁波谱中,X射线是介于紫外线和γ射线之间的电磁波,同时具有波动性和微粒性。前者的特征是具有波长和频率;后者的特征是具有能量、动量和质量。两像性是统一的。同时,它还具有与其他电磁波不同的特殊性质,如物理效应、化学效应和生物效应等。所谓生物效应,就是结构分析X射线管发射的X射线对生物组织细胞具有破坏和瓦解的作用。凡生长力强和分解活动快的组织细胞,对X射线特别敏感,容易被破坏;X射线停照后,恢复也慢。而软组织对X射线敏感性较差,破坏性也相对小一些。
1)使用X-Ray检查BGA焊性。X光机是利用X射线透过被检测物体后衰减,由射线接收/转换装置接收并转换成信号,通过半导体传感技术、计算机图像处理技术和信息处理技术,将检测图像直接显示在显示器屏幕上,用于金属或非金属器件的无损检测,它具有快速、准确、直观等特点。在电子产品中应用于:1)IC封装:芯片大小量测、芯片位置、空洞、导线架、打线、连接线路的开路、短路、不正常连接、陶瓷电容结构检验。2)PCB和PCBA:PCB内层走线、焊点孔洞、成型不良、桥连、立碑、焊料不足/过剩、组件吃锡面积比例、器件漏装、引腳弯曲/不共面、异物检查等。3)其它应用:机械结构、电池结构检验等。非晶硒平板探测器的转换效率比较高,其动态范围很广,空间分辨率也高,成像清晰度高,图像锐度高。
常用无损探伤方法:1、超声波探伤:利用超声能透入金属材料的深处,并由一截面进入另一截面时,在界面边缘发生反射的特点来检查零件缺陷的一种方法,当超声波束自零件表面由探头通至金属内部,遇到缺陷与零件底面时就分别发生反射波来,在荧光屏上形成脉冲波形,根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小。2、射线探伤(X射线、γ射线):利用射线穿透物体来发现物体内部缺陷的探伤方法。3、磁粉探伤:是用来检测铁磁性材料表面和近表面缺陷的一种检测方法。当工件磁化时,若工件表面有缺陷存在,由于缺陷处的磁阻增大而产生漏磁,形成局部磁场,磁粉便在此处显示缺陷的形状和位置,从而判断缺陷的存在。按照传感器阵列形状不同,数字化 X 线探测器可分为平板探测器和线阵探测器。长沙平板探测器厂家直销
X射线是管道焊缝无损检测技术中的一种,它以检测图像的形式可以直观的反映管道焊缝处的缺陷。安徽工业检测平板探测器
噪声是指非输入信号造成的输出信号。主要来源:探测器的电子噪声、射线图像量子噪声。信噪比:探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比,用SNR表示。信噪比越高,图像质量越好。比较不同探测器的信噪比,必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式:SNRn=SNRm×88.6/P。SNRn归一化信噪比,SNRm测量信噪比,P探测器像素尺寸(um)。线性度:是探测器产生的信号在比较大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。稳定性:是随着工作时间的增加探测器处理信号产生一致性的能力,线性度和稳定性直接影响探测器精度。响应时间:是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间,它是影响采样的速率及数据质量的关键。由探测器预备时间,曝光等待时间,曝光窗口,图像读出时间四部分构成。 安徽工业检测平板探测器
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