福建DR成像平板探测器

数字图像的密度分辨率高。普通屏片组合X线照片的密度分辨率只能达到64灰阶，而数字图像的密度分辨率可达到1024--4096灰阶。虽然人眼对灰阶的分辨率有一定的限度，但固有数字图像可通过变化窗宽、窗位、转换曲线等技术，可使全部灰阶分段得到充分显示。从而扩大了密度分辨率的信息量，扩大照片的诊断范围。如普通屏片组合X线胸部正位片的纵隔、心影后肺组织观察不清，与双膈肌重叠的肋骨也无法观察，如有骨折极易漏诊，但DR照片可以通过调节窗宽、窗位、转换曲线等技术，很清楚看到纵隔、心影后肺组织病变，与膈肌重叠的肋骨也能显示清楚等。 分辨率高、获取更多影像细节是数字化X线影像(DR)优于普通放射影像的主要优点。福建DR成像平板探测器

X射线检测是一种被***用于很多行业的无损检测方法，因为X射线检测时的非接触性（区别于超声、磁粉方法），在一些特定环境要求和被测物体具有特定形状时，X射线检测就成了***可行的检测手段。X射线数字成像技术因其有着高效的成像表现，与胶片技术共同成为国内外主流的射线检测技术。在选择平板探测器时，应对所要检测的铸件有一个较为***的了解，材质、透照厚度、外形尺寸、执行的图像标准，都会在**终得到的图像质量上有所表达。在充分了解要求和具体情况后，才能对平板探测器的选择有正确的认识。安徽医疗平板探测器我公司拥有多年研发生产经验，探测器性能稳定，性价比高，提供各类技术支持。

数字化X线探测器有多种分类。按照传感器阵列形状的不同，可分为平板探测器和线阵探测器。按照光子信号的转换方式的不同，可分为积分式探测器和单光子计数式探测器。此外，光学传感面板一般都由光电转化层和TFT阵列开关等寻址电路组成，按照这两部分的组成材料，可分为：非晶硅探测器、CMOS/单晶硅探测器、IGZO探测器、非晶硒探测器和CdTe/CZT（碲化镉/碲锌镉）探测器等。非晶硅、IGZO、CMOS和柔性基板四大传感器技术均有其特定的终端应用场景。非晶硅是目前主流的X线探测器传感器技术，具有大面积、工艺成熟稳定、普通放射的能谱范围响应好、材料稳定可靠、环境适应性好等特点，可同时满足静态和动态探测器的需求。

    若待测器件内部存在金属颗粒杂质时,因金属颗粒较周围物体对X射线有较强的吸收率,所以穿过金属颗粒杂质时X射线产生的衰减程度比周围物体大,因此穿过金属颗粒杂质缺陷区域的X射线强度弱于穿透过缺陷区域外物体的射线强度。此时,在待检测器件下方的平板探测器上与缺陷对应的部位将接受较弱的射线曝光,而其他完好部位接受较强的射线曝光。反之,若待测器件内部存在充满气体的空隙缺陷时,这种缺陷较完好的金属物质或绝缘子材料部位对射线拥有较弱的吸收率,因此穿透过空隙缺陷区域的X射线强度强于缺陷区域外的完好部位。此时,在待检测器件下方的平板探测器上,与缺陷对应的部位将接受较强的射线曝光,而其他完好部位接受较弱的射线曝光。在相同曝光时间条件下,缺陷部位和完好部位不同的曝光量通过探测器光学元件将形成灰度不同的影像,进而实现缺陷的分辨和检出。DR是目前主流X线影像设备，用于医院内科、外科、骨科、创伤科、急诊科、体检科等科室。

直接式平板探测器主要由集电矩阵、硒层、电介层、顶层电极和保护层等构成。集电矩阵由按阵元方式排列的薄膜晶体管(TFT)组成。非晶硒半导体材料在薄膜晶体管阵列上方通过真空蒸镀生成约、38mm×45mm见方的薄膜，它对X线很敏感，并有很高的图像解析能力。顶层电极接高压电源，当有X线入射时，由于高压电源在非晶硒表面形成的电场，它们只能沿电场方向垂直穿过绝缘层、X射线半导体、电子封闭层，到达非晶硒，不会出现横向偏离从而出现光的散射。 DR技术是快速高效的射线成像技术之一，可以在几秒钟内获得数字图像。江苏静态平板探测器

Short-term memory effect 60s：一次曝光60S后探测器短期记忆效应。福建DR成像平板探测器

数字化X线摄影技术的关键在于探测器技术的发展，其主要是通过入射X线光子在硒层中产生电子-空穴对，在顶层电极和集电矩阵间外加高电压电场的作用下，电子和空穴向反方向移动，形成信号电流，被相应单元的接受电极所收集，形成信号电荷，每个像素都有一个场效应管，起开关作用，在读取控制信号的作用下，依次读出并经放大后被同步转换成数字图像信号。数字化X线机具有动态范围广、曝光宽容度宽的特点，因而允许摄影中的技术误差，即使在一些曝光条件难以掌握的部位，也能获得很好的图像。 福建DR成像平板探测器

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