浙江平板探测器应用范围

影像质量是由清晰度、对比度这两个关键要素体现出来的。清晰度主要由X射线球管焦点尺寸和平板探测器（FPD）的空间分辨率决定，空间分辨率是由像素尺寸决定的，相同面积内像素尺寸越小，像素数量就越多，对图像细节的分辨能力就越大。对比度主要由数字平板探测器（FPD）和图像处理算法决定。对比度分辨率是由AD转化的位数决定的，位数越大，图像灰阶度越高，对比度层次分辨能力越强，可以观察到的各个组织结构的黑白亮度差异越明显。 数字化成像，可以得到高清晰度图像和更高分辨率的图像。浙江平板探测器应用范围

CT是影像设备家族的一员，英文全称是Computed Tomography，中文名是计算机断层扫描。所谓“断层”，通俗来说是横截面。X射线就像是CT的这把隐形刀，射线穿过人体之后，由于人体不同结构的密度不同，对射线的衰减程度不同，使得穿过人体射线的强度出现了差异，借助探测器进行探测X射线信号，通过图像重建得到横断面的影像。从上述的描述中可以看出，在硬件组成方面，CT的主要部件也是X线球管和探测器，X线球管和探测器位于环形机架上。与DR不同的是，CT使用的不是平板探测器，而是弧形的线探测器（宽度较窄），之所以要用这种探测器，主要因为CT使用的射线束是扇形束（DR使用的是锥形束）。对于探测器的材质，主要分为固体探测器和气体探测器。 浙江平板探测器应用范围平板探测器工业应用从工业铸件、管道焊缝等传统检测逐步拓展到新能源电池检测、集成电路检测等。

噪声是非输入信号造成的输出信号。噪声的主要来源：探测器的电子噪声、射线图像量子噪声。信噪比：探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比，用SNR表示。信噪比越高，图像质量越好。归一化信噪比：比较不同探测器的信噪比，必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式：SNRn=SNRm×88.6/P。SNRn归一化信噪比，SNRm测量信噪比，P探测器像素尺寸（um）。线性度:是探测器产生的信号在比较大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。稳定性：是随着工作时间的增加探测器处理信号产生一致性的能力，线性度和稳定性直接影响探测器精度。响应时间：是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间，它是影响采样的速率及数据质量的关键。

随着版面密度的提高和器件的体积越来越小，在设计版面时，使ICT测试的点空间变得越来越小，而且，对复杂版材而言，如果直接从SMT生产线送到功能测试岗位，不仅会导致产品合格率降低，还会增加电路板的故障诊断与维修费用，即使造成交货延误，在当今社会激烈竞争的市场上，如果用X-ray检验代替ICT检验，就能保证功能测试的生产轨迹，此外，在SMT生产中采用X-ray进行批量检验，可以减少甚至消除批量误差，值得注意的是：对于ICT不能测量的焊锡过少或过多，此外，还可以测量冷汗、焊接、气孔等X-ray，并且通过ICT甚至功能检测很容易检测出这些缺陷，从而影响了产品的寿命。 分辨率高、获取更多影像细节是数字化X线影像(DR)优于普通放射影像的主要优点。

平板探测器（FPD）的分辨率指图像空间范围内的解像力或解像度，以能够分辨清楚图像中黑白相间线条的能力来表示。黑白相间的线条称为线对，一对黑白相间的线条称为一个线对。分辨率的单位是线对/毫米（LP/mm）。在单位宽度范围内能够分辨清楚线对数越多，表示图像空间分辨率越高。空间分辨率的提高不是无限的，与探测器对X射线光子的检测灵敏度、动态范围、信噪比等有密切关系。实际成像中，影像分辨率的因素有很多：如X射线焦点、曝光时间、探测器感官灵敏度、计算机图像处理、显示器性能等。 选择适当的窗宽和窗位观察图像，使所需要的组织或病变部位清晰地显示出来。贵州便携平板探测器

对光电转换器而言，其响应的较大与较小亮度值之比为动态范围。浙江平板探测器应用范围

闪烁体除了材料区别，还有工艺区分，主要分为直接生长型和贴膜型。1.直接生长型主要为闪烁体晶体通过专业设备蒸镀在非晶硅TFT上，大致形式为将非晶硅TFT倒置在专业蒸镀设备上，可以精确到微米级的晶体生长。约10小时后，晶体直接生长在TFT上，再通过惰性化学物质将晶体长期封装在TFT上。该工艺十分复杂，设备高昂，但直接生长的碘化铯工艺和材料可以确保在低剂量下图像效果为比较好效果。2.除了直接蒸镀就为贴膜工艺，将晶体放到膜上然后通过贴合到TFT表面，该种工艺多了一层中间的转换层降低了转换效率，另外贴合分为全自动覆膜机贴合和人工贴合。该工艺对胶水要求高，要求比例均匀和贴合工艺正确，不然会出现脱落和不均匀影响图像效果。 浙江平板探测器应用范围

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