非晶硅、IGZO、CMOS、柔性基板、非晶硒等五种技术适合于不同的应用场景:
1、非晶硅探测器,因具有出色的成本优势,短时间内仍会是平板探测器的主流技术平台。
2、IGZO探测器,因采集时间短,信噪比高等特点,在动态平板上有很大优势。未来随着技术更趋成熟,IGZO替代非晶硅(至少在动态平板领域),应该是大势所趋。
3、CMOS探测器,虽然主要应用在中小尺寸动态成像领域,但因其高分辨率、高帧速率和低剂量性能,在牙科、乳腺、外科及介入等场合,CMOS平板也是主流技术平台。
4、柔性基板探测器,具有超窄边框、轻便、抗冲撞、不易破损等特点。不过目前成本较高,随着工艺不断改善,未来在部分特殊应用场景将取代传统的非晶硅探测器。
5、非晶硒探测器,因为更高的性能和成本,非晶硒在很长时间内仍会继续统治乳腺机,直到光子计数探测器普及。 增益校正后,可以消除由探测器响应单元不一致性,而引入的结构噪声。江西工业检测平板探测器
数字化X线影像(DR)的优点:
1、数字影像(DR)具有图像清晰细腻、高分辨率、广灰阶度、信息量大、动态范围大。
2、密度分辨率高、获取更多影像细节是数字化X线影像(DR)优于普通放射影像重要的特点。
3、DR投照速度快,运动伪影的影响很小。尤其对于哭闹易动的儿童和不耐屏气的老年患者。
4、DR成像具有辐射小。由于数字化X线影像(DR)的平板探测器的灵敏度远高于普通X线片,所以它只需要比较小的能量就可获得满意的图像。拍摄数字化X线影像(DR)要比普通影像辐射量减少30%—70%。
5、数字化影像对骨结构、关节软骨及软组织的显示优于传统的X线影像,数字化影像易于显示纵膈结构如血管和气管,对结节性的病变的检出率高于传统的X线影像。 江苏平板探测器技术参数使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本低。但是转换效率不如碘化铯涂层高。
灵敏度是指探测器输出可检测信号时所需要的至少输入信号强度。非晶硅探测器的灵敏度由四个方面的因素决定:X射线吸收率,X射线-可见光转换系数,填充系数和光电二极管可见光-电子转换系数。通常用X射线灵敏度S表示。如可标注某探测器X射线灵敏度S为:S~1000e-/nGy/pelDN-5Beam。表示该探测器在标准DN-5X射线下每nGy在单个像素上产生的电荷数为1000个。由于X射线灵敏度S与线质有关通常同时给出线质标准如:DN-5Beam。探测器灵敏度精度越高越好,好的探测器灵敏度能达到1个光子。
间接转换的平板探测器(FPD)中,影响DQE的因素主要有两个方面:闪烁体的涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,因此对DQE会产生影响。常见的闪烁体涂层材料有两种:碘化铯(CsI)和硫氧化钆(Gd2O2S)。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强,但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,并减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯涂层高。 X线数字成像中噪声是影像上观察到的亮度中随机出现的波动。
平板探测器(FPD)的分辨率,是指图像空间范围内的解像力或解像度,以能够分辨清楚图像中黑白相间线条的能力来表示。黑白相间的线条称为线对,一对黑白相间的线条称为一个线对。分辨率的单位是线对/毫米(LP/mm)。在单位宽度范围内能够分辨清楚线对数越多,表示图像空间分辨率越高。空间分辨率的提高不是无限的,与探测器对X射线光子的检测灵敏度、动态范围、信噪比等有密切关系。实际成像中,影像分辨率的因素有很多:如X射线焦点、曝光时间、探测器感官灵敏度、计算机图像处理、显示器性能等。静态平板探测器侧重分辨率和感光效率,在图像性能上体现单帧大动态范围。四川X射线检测平板探测器
AED是自动感应曝光技术,可以让平板探测器自动探测X射线,自动进入曝光窗口,把图像输出至计算机。江西工业检测平板探测器
X射线探伤机的穿透能力取决于X射线探伤机的容量,既X射线探伤机的管电压,管电压愈高,X射线愈硬,能量愈大,穿透能力就愈强,穿透能力与管电压平方成正比。另外,在相同的管电压下,还与被检验工件的材质的密度等性质有关,也就是与被检验工件对X射线的衰减能力有关。X射线检测显示的图像是焊缝区域的平面投影,X射线检测的灵敏度取决于缺陷的面积(决定投影面积)及其在面积方向的深度(决定缺陷与正常焊缝的对比度)。体积型缺陷在各个方向上均有一定尺寸,X射线检验对于体积型缺陷的检测灵敏度很高。 江西工业检测平板探测器
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