平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

动态范围,是指探测器能够线性地探测出X射线入射剂量的变化,是低剂量与高剂量之比。动态范围大,密度分辨率高,是DR系统优于传统放射影像系统重要的特点,它可以得到更多的影像细节,检出能力高于传统影像。要正确表达探测器的动态范围,必须具有足够位数的深度。以往12位影像只能记录4096等级灰度,不能满足DR影像信号的完整记录。所以目前大多数DR系统采用16位,灰度可达到65536,可以反映很小密度的层次变化。灰阶差异越明显,对比度越大,分辨得就越清楚。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本低。但是转换效率不如碘化铯涂层高。云南DR成像平板探测器

噪声是非输入信号造成的输出信号。

噪声的主要来源:探测器的电子噪声、射线图像量子噪声。

信噪比:探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比,用SNR表示。信噪比越高,图像质量越好。

归一化信噪比:比较不同探测器的信噪比,必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式:SNRn=SNRm×88.6/P。SNRn归一化信噪比,SNRm测量信噪比,P探测器像素尺寸(um)。

线性度:是探测器产生的信号在比较大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。

稳定性:是随着工作时间的增加探测器处理信号产生一致性的能力,线性度和稳定性直接影响探测器精度。

响应时间:是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间,它是影响采样的速率及数据质量的关键。 杭州医疗平板探测器平板探测器按接受材料分有三种:非晶硅(a-Si)、非晶硒(a-Se)、CMOS。

间接转换平板探测器由碘化铯等闪烁晶体涂层与薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)或电荷耦合器件(Charge Coupled Device,CCD)或互补型金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor,CMOS)构成。间接转换平板探测器的工作过程一般分为两步,首先闪烁晶体涂层将X线的能量转换成可见光;其次TFT或CCD或CMOS将可见光转换成电信号。由于在这过程中可见光会发生散射,对空间分辨率产生一定的影响。虽然新工艺中将闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射,但散射光对空间分辨率的影响不能完全消除。

X线摄影主要基于二维解剖平面成像,在诸多部位的成像上受到重叠影像影响,难以对病灶进行精细的定位与评估。以胸片为例,由于胸部纵膈心影重叠以及膈下肋骨重叠,极易导致漏诊与误诊的发生。由此,一种新的数字化X线摄影技术开始出现:动态数字化X线摄影技术,简称为动态DR。动态DR相较于常规数字化X线摄影,能极大地提升X线影像质量控制效果,同时对于诸多部位的摄片诊断能提供运功功能的视角和评估参考,进一步提升筛查与诊断的精细性。动态DR作为X线摄影技术,在临床中具备大范围的应用价值与优势。 分辨率高、获取更多影像细节是数字化X线影像(DR)优于普通放射影像的主要优点。

X射线平板探测器常用的曝光方式为内触发,通过闪烁材料把X射线转换为可见光,可见光照射光电传感器输出电流,配合相关电路输出电平信号,探测器根据这个电平信号来控制曝光。但是光电传感器内触发灵敏度高,容易存在误触发、不触发的情况,且平板清空指令发出的时间不灵活,容易引发上图时间长等问题;同时内触发方式引起的漏电流影响了成像的质量。因此,如何解决X平板探测器内触发造成的误触发、不触发、平板清空指令发出时间不灵活、上图时间长等问题,提高成像质量已成本领域技术人员亟待解决的问题。 X射线成像处理是使用X射线技术来创建物体或材料的图像的过程。宁波X射线检测平板探测器

暗场信息可以用来制作X射线成像,也就是X射线CT或X射线牙科成像。云南DR成像平板探测器

各个分辨率的意义不同,请注意分辨。

1、分辨率:两个相邻细节间**小距离的分辨能力。

2、系统分辨率:在无被检工件的情况下,当透照几何放大倍数接近于1时,检测系统所能分辨的单位长度上两个相邻细节间**小距离的能力。反映了检测系统本身的特性,也称为系统基本空间分辨率。

3、图像分辨率:检测系统所能分辨的被检工件图像中单位长度上两个相邻细节间**小距离的能力,也被称为空间分辨率。

4、极限分辨率:在无物理(几何)放大的条件下,检测系统的最大分辨率。像素尺寸太小,会增加图像噪声;像素尺寸太大,会降低图像分辨率。所以在选择探测器像素尺寸时要根据具体的检测需求选择,不能过分追求小像素尺寸的探测器。 云南DR成像平板探测器

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