平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

GIS(Gas Insulated Switchgear,气体绝缘金属封闭开关)设备是由断路器、隔离开关、接地(快速)开关、母线、电流互感器、电压互感器、避雷器等多种高压电器组成并密封在金属圆筒之中,在其内部充有一定压力的SF6气体作为绝缘和灭弧介质。GIS设备的这种结构给拆解、检修工作都带来很多的困难,且该设备的维修工作技术难度大、费时长,一旦突发故障造成停电的损失将会十分巨大。随着GIS设备在我国电网中应用的不断增多,如何实现对GIS设备的关键部件进行有效、可靠检测,以及时发现设备的故障或缺陷,避免突发故障的产生,已经成为一种迫切的需求。X射线检测是一种无损方法,在不破坏芯片情况下,利用X射线检测元器件检测内部封装情况。无锡无损检测平板探测器

使用X-Ray检查BGA焊性。X光机是利用X射线透过被检测物体后衰减,由射线接收/转换装置接收并转换成信号,通过半导体传感技术、计算机图像处理技术和信息处理技术,将检测图像直接显示在显示器屏幕上,用于金属或非金属器件的无损检测,它具有快速、准确、直观等特点。

在电子产品中应用于:

1、IC封装:芯片大小量测、芯片位置、空洞、导线架、打线、连接线路的开路、短路、不正常连接、陶瓷电容结构检验。

2、PCB和PCBA:PCB内层走线、焊点孔洞、成型不良、桥连、立碑、焊料不足/过剩、组件吃锡面积比例、器件漏装、引腳弯曲/不共面、异物检查等。

3、其它应用:机械结构、电池结构检验等。 河北X射线检测平板探测器DR显示上图速度快,运动伪影影响小。

噪声是非输入信号造成的输出信号。

噪声的主要来源:探测器的电子噪声、射线图像量子噪声。

信噪比:探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比,用SNR表示。信噪比越高,图像质量越好。

归一化信噪比:比较不同探测器的信噪比,必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式:SNRn=SNRm×88.6/P。SNRn归一化信噪比,SNRm测量信噪比,P探测器像素尺寸(um)。

线性度:是探测器产生的信号在比较大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。

稳定性:是随着工作时间的增加探测器处理信号产生一致性的能力,线性度和稳定性直接影响探测器精度。

响应时间:是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间,它是影响采样的速率及数据质量的关键。

普通屏片组合X线照片的密度分辨率只能达到64灰阶,而数字图像的密度分辨率可达到1024--4096灰阶。虽然人眼对灰阶的分辨率有一定的限度,但固有数字图像可通过变化窗宽、窗位、转换曲线等技术,可使全部灰阶分段得到充分显示。从而扩大了密度分辨率的信息量,扩大照片的诊断范围。如普通屏片组合X线胸部正位片的纵隔、心影后肺组织观察不清,与双膈肌重叠的肋骨也无法观察,如有骨折极易漏诊,但DR照片可以通过调节窗宽、窗位、转换曲线等技术,很清楚看到纵隔、心影后肺组织病变,与膈肌重叠的肋骨也能显示清楚等。 像素尺寸是指相邻像素的中心距离。

平板探测器(简称FPD)是一种半导体检测器,是数字化摄影的主要部件。目前平板探测器可分间接式的CsI(a-Si)(碘化铯,非晶硅)平板探测器和直接式的a—Se(非晶硒)平板探测器,其作用是将X线的光量子信号转换成数字信号。机房环境对平板探测器的影响很大,适当的温湿度是维持探测器正常运行的必要条件。首先要保持设备环境温度的恒定,不要将探测器置于30℃以上的环境中;其次要经常观察探测器内部温度的变化,确保其稳定性,通常床上探测器为(40±3)℃,壁装支架探测器为(38±3)℃。平板探测器如果置于温度过高的环境,可致信息读出错误,并可能损坏探测器。环境湿度高会降低元器件的绝缘性能;灰尘多会影响成像效果,并可能遮盖探测器冷却设备的入口,导致探测器散热不良。平板探测器是精密电子设备,在使用过程中会出现探测器矩阵的某一行或某一列的像素失效,在图像上表现为点状或细线状伪影,其原因是在电场作用下导体中的电子发生定向运动出现了空洞,丧失了原有的成像功能。平板探测器的定时校准可以将失效的像素屏蔽。 平板探测器按接受材料分有三种:非晶硅(a-Si)、非晶硒(a-Se)、CMOS。常州数字影像平板探测器

X射线具有高能量和短波长的特点,因此可以穿透大多数物质,包括金属、玻璃、木板等。无锡无损检测平板探测器

CR和DR的共通点:

1、DR和CR将X射线图像信息转换成数字图像信息。与传统的X射线相比,工作量,工作效率和胶片消耗都具有明显的优势。CR和DR技术不仅省去了薄膜冲洗工艺,而且减少了化学药品的消耗,并且可以很好地控制质量。

2、DR和CR都具有较宽的动态范围和较宽的曝光范围。当X射线曝光参数不足时,可以获得良好的图像。透照的成功率很高,可以有效地减少回收率,并减少废品率。

3、DR和CR获取数字信号图像,并根据需要通过图像处理系统实现图像优化,改善图像细节,达到比较好视觉效果,提高图像质量。 无锡无损检测平板探测器

上海煜影光电科技有限公司一直专注于上海煜影光电科技有限公司成立于2017年,是一家从事平板探测器研发、生产和销售于一体的****。公司专注于平板探测器,自创立以来煜影光电潜心研究,用心探索,产品覆盖医疗、兽用、工业、安防等多个市场,为广大客户提供质优产品和服务。,是一家机械及行业设备的企业,拥有自己**的技术体系。目前我公司在职员工以90后为主,是一个有活力有能力有创新精神的团队。公司以诚信为本,业务领域涵盖平板探测器,动态平板探测器,静态平板探测器,无线平板探测器,我们本着对客户负责,对员工负责,更是对公司发展负责的态度,争取做到让每位客户满意。公司深耕平板探测器,动态平板探测器,静态平板探测器,无线平板探测器,正积蓄着更大的能量,向更广阔的空间、更宽泛的领域拓展。

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