平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

数字化X线探测器有多种分类。按照传感器阵列形状的不同,可分为平板探测器和线阵探测器。按照光子信号的转换方式的不同,可分为积分式探测器和单光子计数式探测器。此外,光学传感面板一般都由光电转化层和TFT阵列开关等寻址电路组成,按照这两部分的组成材料,可分为:非晶硅探测器、CMOS/单晶硅探测器、IGZO探测器、非晶硒探测器和CdTe/CZT(碲化镉/碲锌镉)探测器等。非晶硅、IGZO、CMOS和柔性基板四大传感器技术均有其特定的终端应用场景。非晶硅是目前主流的X线探测器传感器技术,具有大面积、工艺成熟稳定、普通放射的能谱范围响应好、材料稳定可靠、环境适应性好等特点,可同时满足静态和动态探测器的需求。 像素尺寸是指相邻像素的中心距离。常州X射线成像平板探测器

X线摄影主要基于二维解剖平面成像,在诸多部位的成像上受到重叠影像影响,难以对病灶进行精细的定位与评估。以胸片为例,由于胸部纵膈心影重叠以及膈下肋骨重叠,极易导致漏诊与误诊的发生。由此,一种新的数字化X线摄影技术开始出现:动态数字化X线摄影技术,简称为动态DR。动态DR相较于常规数字化X线摄影,能极大地提升X线影像质量控制效果,同时对于诸多部位的摄片诊断能提供运功功能的视角和评估参考,进一步提升筛查与诊断的精细性。动态DR作为X线摄影技术,在临床中具备大范围的应用价值与优势。 杭州便携平板探测器数字化成像,可以得到高清晰度图像和更高分辨率的图像。

动态范围是衡量平板探测器性能的一个关键指标。是指平板探测器(FPD)能够线性地探测出X射线入射剂量的变化,是低剂量与高剂量之比。动态范围大,密度分辨率高,是DR系统优于传统放射影像系统重要的特点,它可以得到更多的影像细节,检出能力高于传统影像。要正确表达探测器的动态范围,必须具有足够位数的深度。以往12位影像只能记录4096等级灰度,不能满足DR影像信号的完整记录。所以目前大多数DR系统采用16位,灰度可达到65536,可以反映很小密度的层次变化。

间接转换的平板探测器(FPD)中,影响DQE的因素主要有两个方面:闪烁体的涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,因此对DQE会产生影响。常见的闪烁体涂层材料有两种:碘化铯(CsI)和硫氧化钆(Gd2O2S)。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强,但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,并减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯涂层高。 AED是自动感应曝光技术,可以让平板探测器自动探测X射线,自动进入曝光窗口,把图像输出至计算机。

通过实验提取DR成像原始数据,测定灰度均值,获取试块不同厚度下的能量和强度响应曲线。随着阶梯试块厚度的增大,强度响应和能量响应曲线的斜率逐渐减小,由此可以得出,DR系统中线衰减系数随着强度和能量的增大而减小。在DR系统中中积分时间极短,胶片曝光曲线中曝光量的概念在DR中无实际意义。通过管电压代替曝光量,积分时间为200ms,透照不同管电流得到灰度值为2300的图像时,得到管电压与厚度的关系曲线,通过观察,管电压与厚度的关系图像非常直观,随着管电流的增大,管电压与厚度特性曲线的斜率相应减小。无损检测技术(NDT)正在应用于汽车、科学研究、增材制造、智能手机等工业领域。四川手提平板探测器

Binning分为硬件和软件2种方式。常州X射线成像平板探测器

DR是射线数字成像检测的英文简称,工业领域也叫X射线探伤,现大部分采用数字平板。DR可以对缺陷进行定性分析。X射线对体积型缺陷比较敏感。在检测进行时,DR检测系统对工件表面要求不高,它是X射线穿透待检物后在平板探测器上接收经过检测物吸收后的光电子,再由计算机和图像软件处理得到明暗区分的图片,从而观测缺陷的种类和估算其大小,图像易于保存,所以可以用于定性和存档。X射线易于检测物体内部的气泡、缩孔、夹杂但难于确定深度方向的尺寸。常州X射线成像平板探测器

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