平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

从应用角度分析,数字图像的优势如下:

1)数字图像的密度分辨力高:屏片组合系统只能达到256灰阶,而数字图像的密度分辨力可达到1024-4096灰阶。数字图像可通过变化窗宽、窗位、转换曲线等技术,使全部灰阶分段充分显示,扩大了密度分辨力的信息量。

2)数字图像可进行后处理:只要保留原始数据,就可以根据诊断需要,通过软件功有针对性的对图像进行处理,以提高诊断率。处理内容有窗位技术、参数测量、特征提取、图像识别、二维和三维重建、灰度变换、数据压缩等。

3)数字图像可以存储、调阅、传输或拷贝:数字图像可以存储于磁盘、磁带、光盘及各种记忆体中,并可随时进行调阅、传输。影像数据的存储和传输是PACS系统建立的重要部分,为联网、远程会诊、实现无胶片化等奠定了基础。 窗位(window level),表示图像灰阶的中心位置。湖南定制平板探测器

使用X-Ray检查BGA焊性。X光机是利用X射线透过被检测物体后衰减,由射线接收/转换装置接收并转换成信号,通过半导体传感技术、计算机图像处理技术和信息处理技术,将检测图像直接显示在显示器屏幕上,用于金属或非金属器件的无损检测,它具有快速、准确、直观等特点。

在电子产品中应用于:

1、IC封装:芯片大小量测、芯片位置、空洞、导线架、打线、连接线路的开路、短路、不正常连接、陶瓷电容结构检验。

2、PCB和PCBA:PCB内层走线、焊点孔洞、成型不良、桥连、立碑、焊料不足/过剩、组件吃锡面积比例、器件漏装、引腳弯曲/不共面、异物检查等。

3、其它应用:机械结构、电池结构检验等。 轻便平板探测器应用范围非晶硒的X射线效率低,因此在剂量较低的情况下,成像质量不好。

根据探测器的闪烁体材料,可分为碘化铯(CsI)平板和硫氧化钆(GdOS)平板两种。二者成像原理基本一致,不过因探测材料不同,成本及性能有明显差异:

1、与碘化铯不同,GdOS不需要长时间蒸镀沉积过程,生产工艺简单,产品稳定可靠,成本较CsI低20%—30%;2、相较于GdOS,针状碘化铯晶体的X射线转换效率高30%—40%,横向光扩散也更小,具有更高的空间分辨率。因此,碘化铯平板的DQE更高,成像更清晰。根据IHSMarkit预测,在闪烁体领域,凭优异的性能,碘化铯将进一步挤占硫氧化钆的市场份额。

平板通过在探测器节电技术方面的发明创新,可以续航至少10小时,或以每分钟拍摄一张图的速度拍摄700幅图像,即使在繁忙的放射室也可以确保一整天的使用而不需要为电池充电或更换电池。高速、稳定、便捷的无线传输是无线平板探测器设计关键。通常环境下平板的无线传输速率与有线千兆网卡相当。可以在3秒完成一副全分辨率的图像传输,即使在糟糕的情况下也不会超过5秒。即使遇到完全没有无线连接的情况,探测器依然可以把采集到的图像保存,等到有网路连接的时候再发送出去。与此同时,探测器图像具有高DQE,高分辨率等品质。探测器具备高度灵敏和稳定自动曝光感应功能,可以方便的与所有高压发生器连接并同步。 数字化X射线影像(DR)要比普通影像辐射量减少30%-70%。

CMOS,即互补金属氧化物半导体,是组成芯片的基本单元。CMOS离我们很近,几乎所有手机的摄像头都是基于CMOS图像传感器芯片,与CMOS平板异曲同工。与非晶硅/IGZO探测器的玻璃衬底不同,CMOS探测器的衬底是单晶硅,其电子迁移率是1400cm²/VS,这是制作晶圆的重要材料。所谓CMOS平板探测器,是指在一块晶圆上集成光电二极管、寻址电路,以及更重要的放大器(这是与非晶硅/IGZO探测器的比较大区别),将信号放大后再传输到外面。因此,具有明显优于非晶硅探测器的低剂量DQE和更高的采集速度。DR技术是快速高效的射线成像技术之一,可以在几秒钟内获得数字图像。轻便平板探测器应用范围

DR显示上图速度快,运动伪影影响小。湖南定制平板探测器

DQE影响了图像的相比较度,空间分辨率影响图像对细节的分辨能力。在摄片中应根据不同的检查部位来选择配置不同类型平板探测器的DR。对于胸部这样的检查,重点在于观察和区别不同组织的密度,所以对密度分辨率的要求比较高,宜使用非晶硅平板探测器的DR,这样DQE比较高,容易获得较高相比较度的图像,更有助于诊断。对于四肢关节、乳腺这些部位的检查,需要对细节有较高的显像,对空间分辨率的要求很高,宜采用非晶硒平板探测器的DR,以获得高空间分辨率的图像。 湖南定制平板探测器

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