福建平板探测器技术参数

平板探测器（简称FPD），按工作模式，可分为静态（Static）和动态（Dynamic）两种。静态平板探测器是指单次X射线或由单次X射线组合的序列拍片下成像的平板探测器。利用静态平板探测器制造的数字化X射线影像系统在成像时，主要凸显被检测物体的大小和形状，无时间维度上的变化。动态平板探测器是指脉冲式或连续X射线曝光拍片下成像的平板探测器。相比静态而言，增加了时间维度的连续观察摄像功能，能在连续的情况下动态观察被检测物体的情况，可更好地满足特定使用需求。 无损检测技术（NDT）正在应用于汽车、科学研究、增材制造、智能手机等工业领域。福建平板探测器技术参数

平板探测器（简称FPD）面积一定的条件下，为增加空间分辨率，只能减小像素尺寸、降低单位像素面积、增加像素密度。单位像素的面积越小，会使像素有效因子减少，像素的感光性能越低，信噪比越低，动态范围变窄。因此这种减小像素尺寸的方法不可能无限制地增大分辨率，相反会引起图像质量的恶化，增加的空间分辨率又被因此带来的噪声淹没。要弥补此问题就要增大X射线的曝光剂量，这与X射线影像技术的发展相违背。因此，单有高的空间分辨率并不意味着更高的发现能力。 福建平板探测器技术参数非晶硒平板探测器的转换效率高，动态范围很广，空间分辨率高，成像清晰度高，图像锐度高。

将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式会对DQE产生影响。在碘化铯(或者硫氧化钆)薄膜晶体管这种结构的平板探测器中，因为TFT的阵列可以做成与闪烁体涂层的面积一样大，所以可见光不需要经过透镜折射就可以投射到TFT上，没有光子损失，所以DQE也比较高。在非晶硒平板探测器中，X线转换成电信号完全依赖于非晶硒层产生的电子空穴对，DQE的高低取决于非晶硒层产生电荷能力。总的说来，碘化铯TFT这种结构的间接转换平板探测器的极限DQE高于碘化铯直接转换平板探测器的极限DQE。

X射线平板探测器常用的曝光方式为内触发，通过闪烁材料把X射线转换为可见光，可见光照射光电传感器输出电流，配合相关电路输出电平信号，探测器根据这个电平信号来控制曝光。但是光电传感器内触发灵敏度高，容易存在误触发、不触发的情况，且平板清空指令发出的时间不灵活，容易引发上图时间长等问题；同时内触发方式引起的漏电流影响了成像的质量。因此，如何解决X平板探测器内触发造成的误触发、不触发、平板清空指令发出时间不灵活、上图时间长等问题，提高成像质量已成本领域技术人员亟待解决的问题。 Binning能够在视野面积和比例不变的前提下提高帧数，同时也可以提高暗处对光感应的灵敏度。

现在的电子产品几乎把轻薄设计作为企业竞争优势。电子产品的内部就变得更复杂，元器件越来越小，但算力却几何倍数提升。这对加工和检验环节提出了新的挑战。

常规的检查方法：视觉检查，光学检查，电测试和超声检查等，很难同时满足既能检测得准确又能跟得上量产速度。目前行业内越来越多人认可X射线检测的准确性、可靠性和快速成像优势。X射线的一项明显特点就是穿透性强，在射线穿透检材后再接收衰减程度不一的射线并通过软件处理成像就可以非常直观的发现缺陷。 DR是目前主流X线影像设备，用于医院内科、外科、骨科、创伤科、急诊科、体检科等科室。苏州手提平板探测器

动态DR作为X线摄影技术，在临床中具备大范围的应用价值与优势。福建平板探测器技术参数

分辨率定义为单位长度上可分辨两个相邻细节间**小距离的能力，用lp/mm表示。分辨率可分为系统分辨率和图像分辨率，用双线型像质计或分辨率测试卡测试。数字图像的分辨率（力），限定了图像所能分辨的、处于与射线束垂直平面内的相邻细节（缺陷）间的**小尺寸，即图像可以分辨的细节**小间距。分辨率和分辨力的主要区别在于分辨率是相对值，分辨力是***值，分辨率等于2倍分辨力的倒数。如果你对分辨率还有不清楚的地方，请联系我们进行咨询。 福建平板探测器技术参数

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