平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

现在的电子产品几乎把轻薄设计作为企业竞争优势。电子产品的内部就变得更复杂,元器件越来越小,但算力却几何倍数提升。这对加工和检验环节提出了新的挑战。

常规的检查方法:视觉检查,光学检查,电测试和超声检查等,很难同时满足既能检测得准确又能跟得上量产速度。目前行业内越来越多人认可X射线检测的准确性、可靠性和快速成像优势。X射线的一项明显特点就是穿透性强,在射线穿透检材后再接收衰减程度不一的射线并通过软件处理成像就可以非常直观的发现缺陷。 选择适当的窗宽和窗位观察图像,使所需要的组织或病变部位清晰地显示出来。深圳动态平板探测器应用范围

高压发生器是供给X射线管阴、阳两极直流高压和灯丝加热电压。其主要由电源电路、高压电路、灯丝电路、控制电路等组成。电源电路主要起到将电源与高压发生器其他电路隔离、给其他电路供电的作用。高压电路主要将交流低电压(220V/380V)升压至直流高电压(150kV),从而给X射线管供电。灯丝电路主要将低电压(220V/380V)降压至电压(12V),从而给灯丝供电,加热灯丝产生自由电子。控制电路主要用于控制高压发生器的输出电压、输出灯丝电流和加载时间,同时与其他X射线设备影像链部件通讯,保证曝光的准确性。合肥乳腺平板探测器应用范围简单的X射线图像,可以使得许多造成次品的原因一目了然。

将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式会对DQE产生影响。在碘化铯(或者硫氧化钆)薄膜晶体管这种结构的平板探测器中,因为TFT的阵列可以做成与闪烁体涂层的面积一样大,所以可见光不需要经过透镜折射就可以投射到TFT上,没有光子损失,所以DQE也比较高。在非晶硒平板探测器中,X线转换成电信号完全依赖于非晶硒层产生的电子空穴对,DQE的高低取决于非晶硒层产生电荷能力。总的说来,碘化铯TFT这种结构的间接转换平板探测器的极限DQE高于碘化铯直接转换平板探测器的极限DQE。

非晶硅平板探测器是间接数字化X线成像,其表面是一层闪烁体材料(碘化铯或硫氧化钆),再下一层是以非晶体硅为材料的光电二极管电路,底层为电荷读出电路。位于探测器表面的闪烁体将透过人体后衰减的X线转换为可见光,非晶硅光电二极管阵列又将可见光转换为电信号,在光电二极管自身的电容上形成存储电荷,每个像素的存储电荷量与入射X线强度成正比,在控制电路的作用下,扫描读出各个像素的存储电荷,经A/D转换后输出数字信号,传送给计算机进行图像处理从而形成X线数字影像。 Binning能够在视野面积和比例不变的前提下提高帧数,同时也可以提高暗处对光感应的灵敏度。

X-RAY检测应用***,可用于锂电池检测等电池行业、电路板行业、半导体封装、汽车行业、电路板组装行业等,可用于IGBT半导体检测、BGA芯片检测、LED灯条检测、PCB裸板检测、锂电池检测、铝铸件无损探伤检测。观察和测量包装后内部物体的位置和形状,并观察内部状况,确认产品是否合格,真正的做到无损检测。

X射线工业检测的优点:

1、X射线成像非常直观。

2、X射线检测作为薄壁铸件的无损检测具有很高的灵敏度。

3、X射线测试对铸件的表面光洁度没有严格的要求。

4、X射线测试结果在各种材料之间几乎没有差异。 Short-term memory effect 20s:一次曝光20S后探测器短期记忆效应。杭州无线平板探测器技术指导

数字化X线影像系统因成像质量高、曝光时间短,成为工业无损检测优先。深圳动态平板探测器应用范围

噪声是非输入信号造成的输出信号。

噪声的主要来源:探测器的电子噪声、射线图像量子噪声。

信噪比:探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比,用SNR表示。信噪比越高,图像质量越好。

归一化信噪比:比较不同探测器的信噪比,必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式:SNRn=SNRm×88.6/P。SNRn归一化信噪比,SNRm测量信噪比,P探测器像素尺寸(um)。

线性度:是探测器产生的信号在比较大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。

稳定性:是随着工作时间的增加探测器处理信号产生一致性的能力,线性度和稳定性直接影响探测器精度。

响应时间:是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间,它是影响采样的速率及数据质量的关键。 深圳动态平板探测器应用范围

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