重庆静态平板探测器

X射线检测是一种用于很多行业的无损检测方法，因为X射线检测时的非接触性（区别于超声、磁粉方法），在一些特定环境要求和被测物体具有特定形状时，X射线检测就成了可行的检测手段。X射线数字成像技术因其有着高效的成像表现，与胶片技术共同成为国内外主流的射线检测技术。在选择平板探测器时，应对所要检测的铸件有一个较为***的了解，材质、透照厚度、外形尺寸、执行的图像标准，都会在图像质量上有所表达。在充分了解要求和具体情况后，才能对平板探测器的选择有正确的认识。 数字影像(DR)具有图像清晰、分辨率高、灰阶度广、动态范围大等优点。重庆静态平板探测器

X射线探伤机的穿透能力取决于X射线探伤机的容量，既X射线探伤机的管电压，管电压愈高，X射线愈硬，能量愈大，穿透能力就愈强，穿透能力与管电压平方成正比。另外，在相同的管电压下，还与被检验工件的材质的密度等性质有关，也就是与被检验工件对X射线的衰减能力有关。X射线检测显示的图像是焊缝区域的平面投影，X射线检测的灵敏度取决于缺陷的面积（决定投影面积）及其在面积方向的深度（决定缺陷与正常焊缝的对比度）。体积型缺陷在各个方向上均有一定尺寸，X射线检验对于体积型缺陷的检测灵敏度很高。 上海实时成像平板探测器分辨率高、获取更多影像细节是数字化X线影像(DR)优于普通放射影像的主要优点。

动态范围是衡量平板探测器性能的一个关键指标。是指平板探测器（FPD）能够线性地探测出X射线入射剂量的变化，是低剂量与高剂量之比。动态范围大，密度分辨率高，是DR系统优于传统放射影像系统重要的特点，它可以得到更多的影像细节，检出能力高于传统影像。要正确表达探测器的动态范围，必须具有足够位数的深度。以往12位影像只能记录4096等级灰度，不能满足DR影像信号的完整记录。所以目前大多数DR系统采用16位，灰度可达到65536，可以反映很小密度的层次变化。

间接转换平板探测器中，影响DQE的因素主要有两个方面：闪烁体的涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力，因此对DQE会产生影响。常见的闪烁体涂层材料有两种：碘化铯(CsI)和硫氧化钆(Gd2O2S)。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强，但成本比较高；将碘化铯加工成柱状结构，可以进一步提高捕获X线的能力，并减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快，性能稳定，成本较低，但是转换效率不如碘化铯涂层高。 对光电转换器而言，其响应的较大与较小亮度值之比为动态范围。

屏幕上人们肉眼所见的一个点，即一个像素，它是由红、绿、蓝（RGB）三原色组成的。每一个基色，其背后的光源都可以显现出不同的亮度级别。把三基色每一个颜色从纯色（如纯红）不断变暗到黑的过程中的变化级别划分成为色彩的灰阶，并用数字表示，就是常见的色彩存储原理。这中间层级越多，所能够呈现的画面效果也就越细腻。例如8bit我们就称之为256灰阶。在数字信息存贮中，计算设备用2进制数来表示，每个0或1就是一个位(bit)。假设1表示黑、0表示白，在黑白双色系统中有2bit。单基色为nbit，画面位数就为2ⁿbit，位数越大，灰度越多。 动态平板探测器主流应用场景为术中连续追踪成像、动态影像诊断及医疗辅助定位。江苏动态平板探测器

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随着无损检测手段的不断发展，利用X射线对产品进行非接触式的无损检测，可以在产品带电运行条件下观测其内部的结构异常，检测结果直观而且准确。数字化X射线成像检测方法利用高频射线机和平板探测器对GIS设备透照，再将检测的图像传递给计算机，进而采用计算机智能处理的方法为设备的图像检测提供客观的依据。目前利用X射线成像技术检出了一些大型的GIS缺陷。然而在GIS生产与运行中，可能引入金属前列、金属颗粒、以及绝缘子裂纹等微小的潜在缺陷。这些缺陷具有尺寸小、对X射线吸收率低等特点，缺陷位置也多种多样，这将使得X射线成像检测变得更加困难。可以根据潜在缺陷材料对X射线的吸收率，然后建立了缺陷实体模型，检验X射线数字成像方法用于检测GIS潜在缺陷的效果。重庆静态平板探测器

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