DR是射线数字成像检测的英文简称,工业领域也叫X射线探伤,现大部分采用数字平板。DR可以对缺陷进行定性分析。X射线对体积型缺陷比较敏感。在检测进行时,DR检测系统对工件表面要求不高,它是X射线穿透待检物后在平板探测器上接收经过检测物吸收后的光电子,再由计算机和图像软件处理得到明暗区分的图片,从而观测缺陷的种类和估算其大小,图像易于保存,所以可以用于定性和存档。X射线易于检测物体内部的气泡、缩孔、夹杂但难于确定深度方向的尺寸。如果您有平板探测器的需求,欢迎致电联系我们。宁波医疗平板探测器
间接转换的平板探测器(FPD)中,影响DQE的因素主要有两个方面:闪烁体的涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,因此对DQE会产生影响。常见的闪烁体涂层材料有两种:碘化铯(CsI)和硫氧化钆(Gd2O2S)。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强,但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,并减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯涂层高。 宁波医疗平板探测器公司专注于平板探测器,自创立以来,煜影光电潜心研究,提供多款动态、无线平板探测器。
噪声是指非输入信号造成的输出信号。主要来源是探测器的电子噪声、射线图像量子噪声。
信噪比:探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比,用SNR表示。信噪比越高,图像质量越好。比较不同探测器的信噪比,必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式:SNRn=SNRm×88.6/P。
SNRn归一化信噪比,SNRm测量信噪比,P探测器像素尺寸(um)。
线性度:是探测器产生的信号在比较大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。
稳定性:是随着工作时间的增加探测器处理信号产生一致性的能力,线性度和稳定性直接影响探测器精度。
响应时间:是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间,它是影响采样的速率及数据质量的关键。由探测器预备时间,曝光等待时间,曝光窗口,图像读出时间四部分构成。
X射线管包含有阳极和阴极两个电极,分别用于接受电子轰击的靶材和发射电子的灯丝。两极被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。X射线管供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。当钨丝通过足够的电流使其产生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间,使得电子云被拉往阳极。此时电子以高能高速的状态撞击钨靶,高速电子到达靶面,运动突然受到阻止,其动能的一小部分便转化为辐射能,以X射线的形式放出,以这种形式产生的辐射称为轫致辐射。 Binning分为硬件和软件2种方式。
平板探测器(简称FPD),按工作模式,可分为静态(Static)和动态(Dynamic)两种。静态平板探测器是指单次X射线或由单次X射线组合的序列拍片下成像的平板探测器。利用静态平板探测器制造的数字化X射线影像系统在成像时,主要凸显被检测物体的大小和形状,无时间维度上的变化。动态平板探测器是指脉冲式或连续X射线曝光拍片下成像的平板探测器。相比静态而言,增加了时间维度的连续观察摄像功能,能在连续的情况下动态观察被检测物体的情况,可更好地满足特定使用需求。 像素尺寸是指相邻像素的中心距离。贵州动态平板探测器
Short-term memory effect 20s:一次曝光20S后探测器短期记忆效应。宁波医疗平板探测器
X射线检测技术可以分为CR和DR技术。CR就是计算机X射线成像系统,使用成像板IP作为图像载体来代替传统的X射线胶片,并使用与传统X射线摄影相同的投影技术来曝光成像X射线检查板,并记录X射线图像信息,对该信息进行读取和处理之后,可以获得数字X射线图像信号。DR则是数字化X射线摄影系统,是指在计算机的控制下直接读取感应介质记录的X射线图像信息,并以数字图像模式复制或记录图像的技术方法。它由检测板,扫描控制器,系统控制器和图像显示器组成,它们通过电缆串联在一起,使用方法更简洁。 宁波医疗平板探测器