平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

高压发生器是供给X射线管阴、阳两极直流高压和灯丝加热电压。其主要由电源电路、高压电路、灯丝电路、控制电路等组成。电源电路主要起到将电源与高压发生器其他电路隔离、给其他电路供电的作用。高压电路主要将交流低电压(220V/380V)升压至直流高电压(150kV),从而给X射线管供电。灯丝电路主要将低电压(220V/380V)降压至电压(12V),从而给灯丝供电,加热灯丝产生自由电子。控制电路主要用于控制高压发生器的输出电压、输出灯丝电流和加载时间,同时与其他X射线设备影像链部件通讯,保证曝光的准确性。X射线的成像过程是X光球管光源照射物体衰减后,形成了有差异的X光信息,通过平板探测器去采集这些信息。上海乳腺平板探测器技术指导

X光机是一种将电能转化为X光的设备,主要由控制台、高压发生器、机头、工作台及各种机械装置组成。这种装置是通过X光管实现,所以X光管成为X光机的内核部件。因为每根X射线管的材料和结构都已经确定,所以极间绝缘强度和阳极热容量是有限的。工作时管电压、管电流和施加管电压的时间的任何组合都不能超过X射线管的公差,否则有立即损坏X射线管的危险。X射线机的高压部分、控制部分、灯丝加热部分、过载保护部分和限时部分均设置好,以保证X射线管的正常工作。 上海无线平板探测器搭载AED后,配合任意高压发生器,方便地实现平板的自动成像功能。

分辨率定义为单位长度上可分辨两个相邻细节间**小距离的能力,用lp/mm表示。分辨率可分为系统分辨率和图像分辨率,用双线型像质计或分辨率测试卡测试。数字图像的分辨率(力),限定了图像所能分辨的、处于与射线束垂直平面内的相邻细节(缺陷)间的**小尺寸,即图像可以分辨的细节**小间距。分辨率和分辨力的主要区别在于分辨率是相对值,分辨力是***值,分辨率等于2倍分辨力的倒数。如果你对分辨率还有不清楚的地方,请联系我们进行咨询。

X射线管包含有阳极和阴极两个电极,分别用于接受电子轰击的靶材和发射电子的灯丝。两极被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。X射线管供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。当钨丝通过足够的电流使其产生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间,使得电子云被拉往阳极。此时电子以高能高速的状态撞击钨靶,高速电子到达靶面,运动突然受到阻止,其动能的一小部分便转化为辐射能,以X射线的形式放出,以这种形式产生的辐射称为轫致辐射。 X射线检测是一种无损方法,在不破坏芯片情况下,利用X射线检测元器件检测内部封装情况。

平板探测器(简称FPD)成像时会受到暗场飘移、响应不一致和坏点等因素影响,因此必须对平板探测器进行一下几种校正。

1、暗场校正(OFFSET correction),就是在开启射线源进行检测工作时,为了正确反映出透照物体内部结构与图像灰度值之间的对应关系,去除叠加在实际输出响应上的暗场图像值。

2、虽然在线性曝光剂量范围内,平板探测器的每个探测单元对X射线响应是线性的,但不同探测单元的X射线响应系数并不完全一致,即响应不一致性。它带来的后果是相同的入射射线强度,但输出不同。因此必须对平板探测器做增益校正(GAIN correction)。

3、平板探测器(FPD)使用过程中,元器件老化、辐射额碰撞损伤都会产生新的坏点,所以定期更新坏点位置图(坏像素校正))是十分重要的。 静态平板探测器侧重分辨率和感光效率,在图像性能上体现单帧大动态范围。苏州安防平板探测器

DR是目前主流X线影像设备,用于医院内科、外科、骨科、创伤科、急诊科、体检科等科室。上海乳腺平板探测器技术指导

常用无损探伤方法:

1、超声波探伤:利用超声能透入金属材料的深处,并由一截面进入另一截面时,在界面边缘发生反射的特点来检查零件缺陷的一种方法,当超声波束自零件表面由探头通至金属内部,遇到缺陷与零件底面时就分别发生反射波来,在荧光屏上形成脉冲波形,根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小。

2、射线探伤(X射线、γ射线):利用射线穿透物体来发现物体内部缺陷的探伤方法。

3、磁粉探伤:是用来检测铁磁性材料表面和近表面缺陷的一种检测方法。当工件磁化时,若工件表面有缺陷存在,由于缺陷处的磁阻增大而产生漏磁,形成局部磁场,磁粉便在此处显示缺陷的形状和位置,从而判断缺陷的存在。 上海乳腺平板探测器技术指导

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