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    底座具有朝上的上表面，烧录结构包括校正平台结构、对位结构、具有除静电功能的探头结构和用于i芯片烧录的优力胶压头结构，扫码结构与龙门焊件呈活动连接，校正平台结构和对位结构均固定在底座的上表面，优力胶压头结构固定在第二龙门焊件上，探头结构固定在龙门焊件上；当i芯片经过扫码结构扫描后，放入校正平台结构，对位结构识别i芯片的特征并通过校正平台结构调整芯片的位置，优力胶压头结构压接芯片进行烧录，同时探头结构检测i芯片的烧录完成状态。上述的多工位i芯片烧录设备，i芯片上贴有二维码，二维码包含i芯片的编号、加工状态等等信息，通过扫码结构扫描二维码，可以将i芯片的信息储存在数据库，并确定需要烧录到i芯片中的程序；扫描完成后，工作人员将i芯片放入校正平台结构，并将对位结构对准i芯片，对位结构识别i芯片的特征，校正平台结构调整i芯片的位置，当i芯片的位置与预设的基准一致时，优力胶压头结构压接i芯片并将程序烧录到i芯片中，优力胶压头结构和i芯片分离后，探头结构检测i芯片的烧录状态，同时工作人员取出i芯片，烧录完成。扫码结构让i芯片的信息可以及时储存，防止丢失数据，提高数据的安全性，方便管理和查看，提高了工作的便捷性。三合一的测试分选机要找金创图电子。徐州编带测试分选机厂商

    多个烧录结构使得一个工作人员可以同时操作多个i芯片的烧录过程，实现多工位操作，提高了设备的工作效率，降低了企业的生产成本。为了使的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具实施例用以解释，并不用于限定。以下结合具实施例对的实现进行详细的描述。本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，是为了便于描述和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语用于示例性说明，不能理解为对本的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具情况理解上述术语的具含义。参照图-所示，为提供的较佳实施例。本实施例提供的多工位i芯片烧录设备，用于解决i芯片烧录设备生产效率低下的问题。多工位i芯片烧录设备包括扫码结构、多个烧录结构和基座，扫码结构用于扫描i芯片的二维码信息。沿基座的长度方向，多个烧录结构依次排列，基座包括底座、龙门焊件和第二龙门焊件。徐州编带测试分选机电话普通测试分选机可以支持编带和托盘来料吗？

    测试分选机的支架的从后侧观察的立体。测试分选机的第二支架的从后面观察的立体。和是示出了接合槽的修改的视。是示出了从前侧观察的球塞的视。是示意性地示出了从侧面观察的球塞的视。至是解释根据所示的一个实施方式如何将下匹配板安装到测试分选机中的视。是示出了根据所示的一个实施方式的测试分选机的压板的从前侧观察的视。是用于解释根据所示的一个实施方式的测试分选机中轴与压板的连接结构的视。是根据另一个实施方式的测试分选机的推动装置的侧视。是示出了根据所示的另一个实施方式的测试分选机的锁定模块的立体。是示意性地示出了根据另一实施方式的测试分选机的推动装置的主视。具体实施方式通过以下连同附给出的、对示例性实施方式的描述，本公开的优点和特征以及实现这些优点和特征的方法将变得显而易见。将具体地描述示例性实施方式，以使得本领域技术人员可容易地实施发明构思。然而，应注意的是，这些示例性实施方式在任何方式均不旨在为限制性的，并且可进行各种修改而不脱离本公开的技术概念。本发明构思的范围将由以下权利要求限定，而不是由对示例性实施方式的具体描述来限定。

    烧录结构包括校正平台结构、对位结构、具有除静电功能的探头结构和用于i芯片烧录的优力胶压头结构，扫码结构与龙门焊件呈活动连接，校正平台结构和对位结构均固定在底座的上表面，优力胶压头结构固定在二龙门焊件上，探头结构固定在龙门焊件上；当i芯片经过扫码结构扫描后，放入校正平台结构，对位结构识别i芯片的特征并通过校正平台结构调整芯片的位置，优力胶压头结构压接芯片进行烧录，同时探头结构检测i芯片的烧录完成状态。上述的多工位i芯片烧录设备，i芯片上贴有二维码，二维码包含i芯片的编号、加工状态等等信息。通过扫码结构扫描二维码，可以将i芯片的信息储存在数据库，并确定需要烧录到i芯片中的程序；扫描完成后，工作人员将i芯片放入校正平台结构，并将对位结构对准i芯片，对位结构识别i芯片的特征，校正平台结构调整i芯片的位置，当i芯片的位置与预设的基准一致时，优力胶压头结构压接i芯片并将程序烧录到i芯片中，优力胶压头结构和i芯片分离后，探头结构检测i芯片的烧录状态，同时工作人员取出i芯片，烧录完成。扫码结构让i芯片的信息可以及时储存，防止丢失数据，提高数据的安全性，方便管理和查看，提高了工作的便捷性。测试分选机器操作视频找金创图。

    可大幅减少上匹配板的上端部分以及下匹配板的下端部分中的积累变形量。上匹配板的下端部分以及下匹配板的上端部分可与轨道接触。例如，上匹配板可安置在轨道上。下匹配板可与轨道接合并且可悬挂于轨道。这使得可抑制上匹配板的下端部分以及下匹配板的上端部分的热变形。结果，匹配板和匹配板的热变形整体竖直对称地发生。因而，与常规匹配板相比较，可减小测试盘的相应插入件与电子部件之间的位置偏差。例如，常规匹配板安置在存在于压板下方的轨道上。随着匹配板朝上热变形，匹配板的中心部分也变形。在本实施方式的情况下，上匹配板的下端部分和下匹配板的上端部分不经受变形。因而，当将匹配板和匹配板看作一个整体时，在中心部分不发生变形。另外，热变形在竖直对称部中均匀出现并且初始长度短。因此，与常规匹配板相比较，可减小在匹配板和匹配板的端部中的积累变形量。上匹配板和下匹配板可从压板的另一端侧朝向压板的一端侧安装。例如，参照至，匹配板和可在通过轨道、轨道和轨道在x方向上引导时，安装至压板。匹配板和匹配板的安装将稍后进行描述。如可在中确认的是，上匹配板的上端部分可与第三轨道间隔开，并且下匹配板的下端部分可与第二轨道间隔开。因而。测试分选机工作原理找金创图。江苏全自动测试分选机好处

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    本发明涉及测试分选机。背景技术：测试分选机是支持对通过预定制造工艺制造的、诸如半导体装置的电子部件的测试、根据测试结果按等级分类电子部件、以及将电子部件安装在用户盘上的装置。和是示出了典型的测试分选机的立体和平面。参照和，测试分选机可包括加载装置、浸泡室、测试室、去浸泡室和卸载装置。在测试盘和中提供了可安置电子部件的多个插入件。测试盘和可通过多个传送装置(未示出)沿预定封闭路线循环。加载装置能够在加载位置将安装在用户盘上的未测试的电子部件加载到测试盘和中。由于可能在不同的温度环境下使用电子部件，所以有必要确定该电子部件是否在具体温度环境下良好工作。在进行测试之前，可在浸泡室中对安装在测试盘和上的电子部件进行预加热或预冷却。经由浸泡室传送至测试位置并安装在测试盘和上的电子部件可在测试室中进行测试。具体地，安装在测试盘和上的电子部件可由推动装置朝向测试器推动。电子部件和测试器可通过其接触或接合彼此电连接。在该状态下，可对电子部件执行测试。推动装置可包括与测试盘和匹配的匹配板以及用于朝测试盘和移动匹配板的配置。在匹配板的每个中都以矩阵案设置有多个推动器。徐州编带测试分选机厂商