半导体晶圆是一种薄而平的半导体材料圆片，组成通常为硅，主要用于制造集成电路（IC）和其他电子器件的基板。晶圆是构建单个电子组件和电路的基础，各种材料和图案层在晶圆上逐层堆叠形成。由于优异的电子特性，硅成为了常用的半导体晶圆材料。根据掺杂物的添加，硅可以作为良好的绝缘体或导体。此外，硅的储量也十分丰富，上述这些特性都使其成为半导体行业的成本效益选择。其他材料如锗、氮化镓（GaN）、砷化镓（GaAs）和碳化硅（SiC）也具有一定的适用场景，但它们的市场份额远小于硅。晶圆切割后清洗设备中清航科专利设计，残留颗粒＜5个/片。连云港碳化硅半导体晶圆切割测试
针对航天电子需求，中清航科在屏蔽室内完成切割（防宇宙射线干扰）。采用低介电刀具材料，避免静电放电损伤，芯片单粒子翻转率降至10⁻⁹errors/bit-day。中清航科提供IATF16949认证切割参数包：包含200+测试报告（剪切力/热冲击/HAST等），加速客户车规芯片认证流程，平均缩短上市时间6个月。中清航科残渣图谱数据库：通过质谱分析切割碎屑成分，溯源工艺缺陷。每年帮助客户解决15%的隐性良率问题，挽回损失超$300万。中清航科气动悬浮切割头：根据晶圆厚度自动调节压力（范围0.1-5N，精度±0.01N）。OLED显示面板切割良率提升至99.8%，边缘像素损坏率<0.01%。泰州蓝宝石晶圆切割宽度针对柔性晶圆，中清航科开发低温切割工艺避免材料变性。
针对晶圆切割过程中的静电防护问题，中清航科的设备采用全流程防静电设计。从晶圆上料的导电吸盘到切割区域的离子风扇，再到下料区的防静电输送轨道，形成完整的静电防护体系，将设备表面静电电压控制在50V以下，有效避免静电对敏感芯片造成的潜在损伤。中清航科的晶圆切割设备具备强大的数据分析能力，内置数据挖掘模块可对历史切割数据进行深度分析，识别影响切割质量的关键因素，如环境温度波动、晶圆批次差异等，并自动生成工艺优化建议。通过持续的数据积累与分析，帮助客户不断提升切割工艺水平，实现持续改进。
晶圆切割/裂片是芯片制造过程中的重要工序，属于先进封装(advancedpackaging)的后端工艺(back-end)之一，该工序可以将晶圆分割成单个芯片，用于随后的芯片键合。随着技术的不断发展，对高性能和更小型电子器件的需求增加，晶圆切割/裂片精度及效率控制日益不可或缺。晶圆切割的重要性在于它能够在不损坏嵌入其中的精细结构和电路的情况下分离单个芯片，成功与否取决于分离出来的芯片的质量和产量，以及整个过程的效率。为了实现这些目标，目前已经开发了多种切割技术，每种技术都有其独特的优点和缺点。切割冷却液在线净化装置中清航科研发，杂质浓度自动控制＜1ppm。
中清航科原子层精切技术：采用氩离子束定位轰击（束斑直径2nm），实现石墨烯晶圆无损伤分离。边缘锯齿度<5nm，电导率波动控制在±0.5%，满足量子芯片基材需求。中清航科SmartCool系统通过在线粘度计与pH传感器，实时调整冷却液浓度（精度±0.1%）。延长刀具寿命40%，减少化学品消耗30%，单线年省成本$12万。中清航科开发振动指纹库：采集设备运行特征频谱，AI定位振动源（如电机偏心/轴承磨损）。主动抑制系统将振动能量降低20dB，切割线宽波动<±0.5μm。晶圆切割大数据平台中清航科开发，实时分析10万+工艺参数。芯片晶圆切割测试
中清航科提供切割工艺认证服务，助客户通过车规级标准。连云港碳化硅半导体晶圆切割测试
在晶圆切割的质量检测方面，中清航科引入了三维形貌检测技术。通过高分辨率confocal显微镜对切割面进行三维扫描，生成精确的表面粗糙度与轮廓数据，粗糙度测量精度可达0.1nm，为工艺优化提供量化依据。该检测结果可直接与客户的质量系统对接，实现数据的无缝流转。针对晶圆切割过程中的热变形问题，中清航科开发了恒温控制切割舱。通过高精度温度传感器与PID温控系统，将切割舱内的温度波动控制在±0.1℃以内，同时采用热误差补偿算法，实时修正温度变化引起的机械变形，确保在不同环境温度下的切割精度稳定一致。连云港碳化硅半导体晶圆切割测试
