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针对多芯MT-FA组件的测试与工艺优化，需构建覆盖设计、制造、检测的全流程控制体系。在测试环节，传统OTDR设备因盲区问题难以精确测量超短连接器的回损，而基于优化算法的分布式回损检测仪可通过白光干涉技...
在超算中心高速数据传输的重要架构中，多芯MT-FA光组件已成为支撑AI算力与大规模科学计算的关键技术载体。其通过精密研磨工艺将光纤阵列端面加工为特定角度的反射镜，结合低损耗MT插芯实现多路光信号的并行...