上海全场三维数字图像相关应变与运动测量系统

在产业生态构建方面，研索仪器将发挥自身技术优势，推动 "产学研用" 协同创新网络的建设。通过与高校共建科研平台、与企业联合开发设备、与行业协会共建标准体系等方式，促进测量技术的标准化与规范化发展。公司将持续举办技术交流活动，分享前沿技术与应用案例，培育光学测量技术人才，推动整个行业的技术进步。在精密测量成为质量控制与创新研发核心竞争力的现在，光学非接触应变测量技术已从单纯的测试工具升级为推动技术进步的重要引擎。研索仪器科技（上海）有限公司凭借专业的技术引进、完善的产品布局、深度的技术整合与贴心的服务支撑，正带领中国光学非接触测量领域的发展方向。从微观材料研究到大型结构检测，从常规环境到极端条件，研索仪器正以精确的数据力量，助力中国科研突破与产业升级，在高质量发展的道路上持续赋能。研索仪器VIC-3D非接触全场变形测量系统可用于科研实验复合材料分层失效研究，微电子封装焊点疲劳评估。上海全场三维数字图像相关应变与运动测量系统

技术特点与优势非接触性：避免了传统接触式测量可能引入的误差和损伤，保持被测试物体的完整性和原始状态。高精度：能够在微小尺度下精确测量应变，提供准确的数据支持工程分析和决策。全场测量：能够同时测量物体表面的全场应变分布，有助于了解物体的变形情况。高效率：快速获取数据并进行实时监测，提高了生产效率和质量控制的能力。光学非接触应变测量技术广泛应用于航空航天、土木工程、机械制造、生物医学等领域。例如，在航空航天领域，它用于飞行器的结构健康监测；在土木工程领域，它用于监测大型建筑物和桥梁的结构健康；在机械制造领域，它用于评估机械部件的应力和应变状态；在生物医学领域，它用于研究生物组织的力学性能和变形行为。四川全场数字图像相关技术测量装置研索仪器非接触光学测量仪具有亚微米级位移分辨率，可捕捉微小变形（如MEMS器件热膨胀）。

作为当前主流的技术路径，数字图像相关（DIC）技术的工作流程已形成标准化范式：首先在被测物体表面制备随机散斑图案，这一图案如同 "光学指纹"，为后续识别提供特征标记，可通过人工喷涂、光刻或利用材料自然纹理实现；随后采用高分辨率相机阵列同步采集变形前后的图像序列，捕捉每一个微小形变瞬间；通过零均值归一化互相关系数（ZNCC）等算法，追踪散斑在图像中的位移变化，经三维重建计算得到全场位移场与应变场数据。这种技术路径带来三大突破：其一，非接触特性消除了测量器件对测试系统的力学干扰，尤其适用于软材料、微纳结构等易损伤样品的测试；其二，全场测量能力实现了从 "点测量" 到 "面分析" 的跨越，单次测试可获取数百万个数据点，使变形分布可视化成为可能；其三，亚像素级测量精度突破了传统方法的极限，位移测量精度可达 0.01 像素，配合高分辨率相机可实现纳米级形变检测。这些优势让光学非接触测量成为解决复杂力学测试问题的方案。

计算光学成像：突破物理极限的“虚拟透镜”计算光学通过算法优化光路设计，突破传统成像系统的衍射极限与景深限制。结构光照明技术与压缩感知算法的结合，使DIC系统在低光照条件下仍可实现微米级分辨率测量。在半导体封装检测中，计算光学DIC无需移动平台或变焦镜头，即可完成芯片级封装体的全场应变测量，检测效率较传统方法提升30倍。量子传感：纳米级应变的“量子标尺”量子纠缠与squeezedstate技术为应变测量引入了全新物理维度。基于氮-空位（NV）色心的量子传感器，通过检测钻石晶格中电子自旋共振频率变化，可实现单应变分辨率的纳米级测量。在MEMS器件表征中，量子DIC系统可定位微梁弯曲过程中的局部应变集中点，精度达0.1nm，为微纳电子机械系统的可靠性设计提供了前所未有的检测手段。研索仪器VIC-3D非接触全场变形测量系统可用于工程监测中大型结构（风电叶片、钢结构桥梁）的长期健康诊断。

研索仪器基于 DIC 技术构建的产品矩阵，展现了光学非接触测量的全场景适配能力。作为美国 Correlated Solutions 公司（全球 DIC 技术创始者）的中国区合作伙伴，研索仪器引入的 VIC 系列产品涵盖从平面到立体、从静态到动态的全维度测量需求。VIC-2D 平面应变场测量系统以超过 1,000,000 数据点 / 秒的处理速度，支持光学畸变与 SEM 漂移校正，成为材料平面力学测试的高效工具；VIC-3D 表面应变场测量系统则实现了多尺度、多物理场的综合测量，其行业前沿的精度与可重复性，可满足从微观材料到大型结构的复杂测试需求。三维应变测量技术采用可移动式非接触测量头，可方便地整合应用到静态、动态、高速和高温等测量环境中。四川三维全场数字图像相关应变测量

研索仪器光学非接触应变测量系统无需贴片或预加工，避免接触式传感器对试样的干扰，适用于各种恶劣环境。上海全场三维数字图像相关应变与运动测量系统

针对特殊测试场景，研索仪器提供了定制化解决方案。在介观尺度测量领域，µTS 介观尺度原位加载系统填补了纳米压头与宏观加载设备之间的技术空白，通过 DIC 技术与显微镜结合，可获取局部应变场的精细数据；面对极端环境需求，MML 极端环境微纳米力学测试系统能在真空环境下 - 100℃至 1000℃的温度范围内实现纳米级力学测试，攻克了恶劣条件下的测量难题。此外，红外 3D 温度场耦合 DIC 系统、3D Micro-DIC 显微测量系统等特色产品，进一步拓展了测量技术的应用边界。上海全场三维数字图像相关应变与运动测量系统