企业商机
光学非接触应变测量基本参数
  • 品牌
  • Correlated Solutions
  • 型号
  • VIC-2D, VIC-3D, VIC-Volume
光学非接触应变测量企业商机

全息散斑干涉术:理论奠基与实验室验证全息散斑干涉术通过记录物体变形前后的全息图,利用干涉条纹提取位移信息。该技术理论上可实现波长量级的测量精度,但对防振平台、激光相干性等实验条件要求严苛,难以推广至工业现场。数字散斑相关法:计算光学驱动的工程化突破数字散斑相关法(即DIC的前身)通过数字图像处理替代全息记录,降低了系统复杂度。其关键创新在于引入亚像素位移搜索算法(如牛顿-拉夫逊迭代法),使测量精度突破像素级限制。现代DIC系统结合蓝光LED光源与高分辨率工业相机,在室温条件下即可实现0.01με(微应变)的测量精度,满足工程测试需求。研索仪器非接触光学测量仪具有亚微米级位移分辨率,可捕捉微小变形(如MEMS器件热膨胀)。云南哪里有卖光学非接触式测量

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作为美国 Correlated Solutions 公司(全球 DIC 技术创始者)的中国区合作伙伴,研索仪器构建了覆盖 "基础测试 - 特殊场景 - 行业定制" 的全维度产品体系,将国际技术与本土需求深度融合。其产品布局呈现出鲜明的多尺度、全工况适配特征,从微观材料分析到大型结构检测均能提供解决方案。在基础测量领域,VIC 系列产品构成了技术基石。VIC-2D 平面应变测量系统以超过 100 万数据点 / 秒的处理速度,支持光学畸变与 SEM 漂移校正,可在拉伸、压缩、弯曲等常规工况下快速输出平面应变云图,成为高校材料力学实验室的标准配置。VIC-3D 三维表面应变测量系统则通过双目立体视觉原理,实现了三维位移与应变场的同步测量,其行业前沿的精度与可重复性,可满足从金属材料到高分子复合材料的多样化测试需求。该系统搭载的先进算法不仅能输出位移、应变等基础参数,还可直接计算泊松比、杨氏模量等材料本构参数,为材料性能评估提供一站式数据支撑。江西哪里有卖全场三维非接触式测量研索仪器光学非接触全场应变测量系统是一种基于光学原理(如数字图像相关DIC)的高精度应变分析工具。

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随着数字孪生技术的兴起,光学非接触应变测量正从“数据采集工具”向“模型驱动引擎”演进。通过将光学测量数据实时注入数字孪生体,可实现材料变形-损伤-失效的全过程仿真,构建“感知-预测-决策”的闭环系统。例如,在风电叶片监测中,光学测量数据驱动的数字孪生模型可预测叶片裂纹扩展,指导预防性维护,降低停机损失。光学非接触应变测量技术以其独特的非侵入性与全场测量能力,正在重塑传统力学测试的范式。从微观材料表征到宏观结构评估,从实验室研究到工业现场应用,光学测量的边界持续拓展。未来,随着人工智能、物联网与先进制造技术的融合,光学应变测量将迈向智能化、自动化与普适化新阶段,为工程安全与材料创新提供更强有力的技术支撑。

可以采用相似材料结构模型实验的手段,以钢筋混凝土框架结构为研究对象,通过数字散斑的光学非接触应变测量方式,获取强烈地震作用下模型表面的三维全场位移及应变数据。应变计作为应变测量的工具,存在着贴片过程繁琐,测量精度严重依赖其贴片质量,对环境温度敏感等问题。此外,应变计无法进行全场测量,难以捕捉到关键位置的变形出现的初始位置,当框架结构发生较大范围变形或断裂,应变计在试件出现断裂时容易损坏,影响测试数据的质量。采用先进DIC/VIC技术,研索系统提供亚微米级非接触应变测量解决方案。

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光学非接触应变测量的崛起源于对传统测量痛点的攻破。接触式测量中,应变片的粘贴会改变材料表面应力状态,引伸计的夹持力可能导致样品早期损伤,而这些干扰在航空航天钛合金构件、半导体晶圆等精密测试场景中足以造成数据失真。更关键的是,传统方法同时监测数十个测点,对于复合材料裂纹扩展、混凝土结构变形等非均匀变化,根本无法完整还原全场力学响应。光学非接触应变测量技术彻底改变了这一局面,其原理是通过光学系统捕获物体表面的特征信息,利用数字算法实现变形量的计算。光学非接触应变测量就找研索仪器科技(上海)有限公司!湖北VIC-Gauge 3D视频引伸计总代理

三维应变测量技术对于塑性材料研究来说是非常重要的工具。云南哪里有卖光学非接触式测量

研索仪器的竞争力不仅在于硬件设备的先进性,更体现在对测量数据价值的深度挖掘,尤其在 "实验测量 - 仿真分析" 闭环构建方面形成了独特优势。传统测试与仿真往往处于割裂状态,实验数据难以有效支撑仿真模型的验证与修正,导致仿真结果的可信度受限。研索仪器通过技术整合,彻底打破了这一行业痛点。在断裂力学研究领域,研索仪器的 DIC 系统展现出强大的数据分析能力。基于 DIC 技术获取的高分辨率位移场信息,可实现裂尖位置的定位与应力强度因子(SIF)的准确计算,这两项参数是评估结构完整性与寿命预测的指标。云南哪里有卖光学非接触式测量

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