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光波干涉法常利用平晶进行，图为测量所得的不同干涉条纹。图中a的干涉条纹是直的，而且间距相等，只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的，但与光学平晶不平行，而且在圆周部分有微小的偏差。图中b的干涉条纹弯曲而且间隔不相等，表明被检验表面是球形的，平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍，表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c的干涉条纹呈圆形，同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半，即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d的干涉条纹成椭圆形排列，说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线，因此可以画出该表面的形状。这种方法只适宜测量高光洁表面，测量面积也较小，但测量精确度很高。通常指解决问题的方法。手机指纹识别按键测量仪器

空气湿度大、测量机房密封性不好是造成机房湿度大的主要原因。在湿度比较大地区机房的密封性要求好一些，必要时增加除湿机。解决的办法就是改变管理方式，将“放假前打扫卫生”改为“上班时打扫卫生”，而且要打开空调和除湿机清理水份。要定期清洁计算机和控制系统中的灰尘，减少或避免因此而造成的故障隐患。使用标准件检查机器是非常好的，但是相对来说比较麻烦，只能是一段时间做一次。比较方便的办法是用一个典型零件，编好自动测量程序后，在机器精度校验好的情况下进行多次测量，将结果按照统计规律计算后得出一个合理的值及公差范围记录下来。操作员可以经常检查这个零件以确定机器的精度情况。隔膜厚度测量抑制行业客户化发展的障碍。

2、打表测量法：打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上，以标准平板作为测量基准面，用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。打表测量法按评定基准面分为三点法和对角线法：三点法是用被测实际表面上相距较远的三点所决定的理想平面作为评定基准面，实测时先将被测实际表面上相距较远的三点调整到与标准平板等高；对角线法实测时先将实际表面上的四个角点按对角线调整到两两等高。然后用测微计进行测量，测微计在整个实际表面上测得的比较大变动量即为该实际表面的平面度误差。

地磁场

① 定义：在地球周围的空间里存在的磁场，磁针指南北是因为受到地磁场的作用。

②磁极：地磁场的北极在地理的南极附近，地磁场的南极在地理的北极附近。且地磁场磁极与地理两极并没有互相重合，存在磁偏角。

③磁偏角：首先由我国宋代的沈括发现。并在《梦溪笔谈》中提到。磁针的北极指示地理位置的北方和地磁的南方，磁针的南极指示地理位置的南方和地磁的北方。

④形状：跟条形磁体的磁场很相似

磁现象

磁体两端磁极强，指南S指北N.

异名相吸同名排(斥)，常见磁体靠磁化。 间接需求分析与直接需求分析。

尤其是符合较小条件的评定基准面的位置是按实际表面的形状确定的，不可能在测量之前预先确定。且测量所得到的原始数据中的较大值与较小值并不一定是实际表面上的比较高点和比较低点，故在数据处理之前，一般应根据所测数据对实际表面的形状特征进行大致分析，初步判断实际表面是凸形、凹形、鞍形或其它复杂形态，以免过多重复计算花费时间，必要时还可画出其数据空间分布示意图，进而确定其评定基准面。数据处理方法有：解析法、坐标变换法和投影作图法等。其中坐标变换法对数据处理带有一般性。问题涉及到更多的要素，问题之间也有复杂的联系。隔膜厚度测量

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光电传感器一般由处理通路和处理元件2 部分组成。其基本原理是以光电效应为基础，把被测量的变化转换成光信号的变化，然后借助光电元件进一步将非电信号转换成电信号。光电效应是指用光照射某一物体，可以看作是一连串带有一定能量为的光子轰击在这个物体上，此时光子能量就传递给电子，并且是一个光子的全部能量一次性地被一个电子所吸收，电子得到光子传递的能量后其状态就会发生变化，从而使受光照射的物体产生相应的电效应。通常把光电效应分为3 类：（1 ）在光线作用下能使电子逸出物体表面的现象称为外光电效应，如光电管、光电倍增管等；（2 ）在光线作用下能使物体的电阻率改变的现象称为内光电效应，如光敏电阻、光敏晶体管等；（3 ）在光线作用下，物体产生一定方向电动势的现象称为光生伏te xiao应，如光电池等。手机指纹识别按键测量仪器

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