数字信号眼图分析
波形参数测试室数字信号测试常用的测量方法,但是随着数字信号速率的提高,波形参数的测量方法越来越不适用,5G的信号来说,由于受到传输通道的损耗的影响,不同位置的信号的幅度、上升时间,脉冲宽度等都是不一样的。不同的操作人员的波形的不同位置测量得到的结果也是不一样的,这就使用我们必须采用别的方法对于信号的质量进行评估,对于高速数字信号来说常用的就是眼图的测量方法。
所谓眼图,实际上就是高速数字信号不同位置的数据比特按照时钟的间隔叠加在一起自然形成的一个统计分布图,显示了眼图的形成过程。我们可以看到,随着叠加的波形数量的增加,数字信号逐渐形成一个个类似眼睛一样的形状,我们把这种图形叫作眼图。 深入剖析眼图及高速串行设计中的眼图测试?云南眼图测试维修

波形参数测试是数字信号质量评估使常用的测量方法,但是随着数字信号速率的提高,靠幅度、上升时间等的波形参数的测量方法越来越不适用了。比如下图的一个5Gbps的信号来说,由于受到传输通道的损耗的影响,不同位置的信号的幅度、上升时间、脉冲宽度等都是不一样的。不同的操作人员在波形的不同位置测量得到的结果也是不一样的。
因此我们必须采用别的方法对于信号的质量进行评估,对于高速数字信号来说使常用的就是眼图的测量方法。 福建眼图测试代理商一种眼图示波器系统及眼图测试方法?

眼图是怎么形成的一般均可以用示波器观测到信号的眼图,其具体的操作方法为:将示波器跨接在接收滤波器的输出端,然后调整示波器扫描周期,使示波器水平扫描周期与接收码元的周期同步,这时示波器屏幕上看到的图形就称为眼图。示波器一般测量的信号是一些位或某一段时间的波形,更多的反映的是细节信息,而眼图则反映的是链路上传输的所有数字信号的整体特征。如果示波器的整个显示屏幕宽度为100ns,则表示在示波器的有效频宽、取样率及记忆体配合下,得到了100ns下的波形资料。但是,对于一个系统而言,分析这么短的时间内的信号并不具有代表性,例如信号在每一百万位元会出现一次突波(Spike),但在这100ns时间内,突波出现的机率很小,因此会错过某些重要的信息。如果要衡量整个系统的性能,这么短的时间内测量得到的数据显然是不够的。设想,如果可以以重复叠加的方式,将新的信号不断的加入显示屏幕中,但却仍然记录着前次的波形,只要累积时间够久,就可以形成眼图,从而可以了解到整个系统的性能,如串扰、噪声以及其他的一些参数,为整个系统性能的改善提供依据。一个完整的眼图应该包含从"000"到"111"的所有状态组,且每一个状态组发生的次数要尽量一致。
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克劳德高速数字信号测试实验室眼图测试其他概念编辑播报消光比消光比(ExtinctionRatio)定义为眼图中“1”电平与“0”电平的统计平均的比值,其计算公式可以是如下的三种:消光比在光通信发射源的量测上是相当重要的参数,它的大小决定了通信信号的品质。消光比越大,象征在接收机端会有越好的逻辑鉴别率;消光比越小,表示信号较易受到干扰,系统误码率会上升。消光比直接影响光接收机的灵敏度,从提高接收机灵敏度的角度希望消光比尽可能大,有利于减少功率代价。但是,消光比也不是越大越好,如果消光比太大会使激光器的图案相关抖动增加。因此,一般的对于FP/DFB直调激光器要求消光比不小于,EML电吸收激光器消光比不小于10dB。一般建议实际消光比与比较低要求消光比大。这不是一个完全的数值,之所以给出这么一个数值是害怕消光比太高了,传输以后信号劣化太厉害,导致误码产生或通道代价超标。眼图测试 系统参数主要介绍?测量眼图测试配件
示波器观测到的眼图。云南眼图测试维修
一种眼图测试方法,装置,电子设备及计算机可读存储介质,该方法包括:获取目标数据,并将目标数据写入目标文件;将目标文件中的寄存器数据读取至寄存器;将寄存器中的寄存器数据刷新至内存中,并在刷新完成后进行眼图测试;该方法可以将目标文件中的寄存器数据读取到寄存器中.通过目标文件对目标数据进行中转,即数据先写入目标文件,再读取至寄存器,可以实现在设备工作时对寄存器中的数据进行更新,减少了对软件的修改编译次数和设备的重启次数,在设备不关机的情况下实时更新参数,减少了眼图测试所需的时间,提高了测试效率.云南眼图测试维修
误码率在数字电路系统中,发送端发送出多个比特的数据,由于多种因素的影响,接收端可能会接收到一些错误的比特(即误码)。错误的比特数与总的比特数之比称为误码率,即BitErrorRatio,简称BER。误码率是描述数字电路系统性能的**重要的参数。在GHz比特率的通信电路系统中(比如FibreChannel、PCIe、SONET、SATA),通常要求BER小于或等于。误码率较大时,通信系统的效率低、性能不稳定。影响误码率的因素包括抖动、噪声、信道的损耗、信号的比特率等。 克劳德高速数字信号测试实验室眼高意味噪声;眼宽意味抖动。校准眼图测试参考价格 克劳德高速数字信号测试实验室 设计评估...