在实际系统中,完全消除码间串扰是十分困难的,而码间串扰对误码率的影响目前尚无法找到数学上便于处理的统计规律,还不能进行准确计算。为了衡量基带传输系统的性能优劣,在实验室中,通常用示波器观察接收信号波形的方法来分析码间串扰和噪声对系统性能的影响,这就是眼图分析法。眼图是一系列数字信号在示波器上累积而显示的图形,它包含了丰富的信息,从眼图上可以观察出码间串扰和噪声的影响,体现了数字信号整体的特征,从而估计系统优劣程度,因而眼图分析是高速互连系统信号完整性分析。另外也可以用此图形对接收滤波器的特性加以调整,以减小码间串扰,改善系统的传输性能。数字信号眼图测试系统。北京眼图测试推荐货源

(5)眼图测量中需要叠加的波形或比特的数量:在眼图测量中,叠加的波形或比特的数量不一样,可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在,叠加波形或比特数量越多,眼的张开程度就会越小,就越能测到是恶劣的情况,但相应的测试时间也会变成。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折中,有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量,比如需要叠加1000个波形或者叠加1Mbit。
(6)眼图位置的选择:当数字信号进行波形或者比特叠加后,形成的不只是一个眼图,而是一个个连续的眼图。如果叠加的波形或者比特数量足够,这些眼图都是很相似的,因此可以对其中任何一个眼图进行测量。 北京眼图测试配件克劳德高速数字信号测试实验室八种状态形成的眼图。

数字信号眼图分析
波形参数测试室数字信号测试常用的测量方法,但是随着数字信号速率的提高,波形参数的测量方法越来越不适用,5G的信号来说,由于受到传输通道的损耗的影响,不同位置的信号的幅度、上升时间,脉冲宽度等都是不一样的。不同的操作人员的波形的不同位置测量得到的结果也是不一样的,这就使用我们必须采用别的方法对于信号的质量进行评估,对于高速数字信号来说常用的就是眼图的测量方法。
所谓眼图,实际上就是高速数字信号不同位置的数据比特按照时钟的间隔叠加在一起自然形成的一个统计分布图,显示了眼图的形成过程。我们可以看到,随着叠加的波形数量的增加,数字信号逐渐形成一个个类似眼睛一样的形状,我们把这种图形叫作眼图。
由于眼图是用一张图形就完整地表征了串行信号的比特位信息,所以成为了衡量信号质量的重要工具,眼图测量有时侯就叫“信号质量测试”。此外,眼图测量的结果是合格还是不合格,其判断依据通常是相对于“模板(Mask)”而言的。模板规定了串行信号“1”电平的容限,“0”电平的容限,上升时间、下降时间的容限。所以眼图测量有时侯又被称为“模板测试(MaskTest)”。模板的形状也各种各样,通常的NRZ信号的模板如图五和图八蓝色部分所示。在串行数据传输的不同节点,眼图的模板是不一样的,所以在选择模板时要注意具体的子模板类型。如果用发送端的模板来作为接收端眼图模板,可能会一直碰模板。但象以太网信号、E1/T1的信号,不是NRZ码形,其模板比较特别。当有比特位碰到模板时,我们就认为信号质量不好,需要调试电路。有的产品要求100%不能碰模板,有的产品是允许碰模板的次数在一定的概率以内。示波器中有测量参数可自动统计出碰到模板的次数。此外,根据“侵犯”模板的位置就能知道信号的哪方面有问题从而指导调试。如图九表明信号的问题主要是下降沿太缓,图十表明1电平和0电平有“塌陷”,可能是ISI问题导致的。眼图测试系统基础知识?

理论分析得到如下几条结论,在实际应用中要以此为参考,从眼图中对系统性能作一论述:(1)比较好抽样时刻应在“眼睛”张开比较大的时刻。(2)对定时误差的灵敏度可由眼图斜边的斜率决定。斜率越大,对定时误差就越灵敏。(3)在抽样时刻上,眼图上下两分支阴影区的垂直高度,表示比较大信号畸变。(4)眼图**的横轴位置应对应判决门限电平。(5)在抽样时刻,上下两分支离门限**近的一根线迹至门限的距离表示各相应电平的噪声容限,噪声瞬时值超过它就可能发生错误判决。(6)对于利用信号过零点取平均来得到定时信息的接收系统,眼图倾斜分支与横轴相交的区域的大小表示零点位置的变动范围,这个变动范围的大小对提取定时信息有重要的影响。 示波器眼图测试中的时基失真估计及修正?广东机械眼图测试检查
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误码率在数字电路系统中,发送端发送出多个比特的数据,由于多种因素的影响,接收端可能会接收到一些错误的比特(即误码)。错误的比特数与总的比特数之比称为误码率,即BitErrorRatio,简称BER。误码率是描述数字电路系统性能的**重要的参数。在GHz比特率的通信电路系统中(比如FibreChannel、PCIe、SONET、SATA),通常要求BER小于或等于。误码率较大时,通信系统的效率低、性能不稳定。影响误码率的因素包括抖动、噪声、信道的损耗、信号的比特率等。 克劳德高速数字信号测试实验室眼高意味噪声;眼宽意味抖动。校准眼图测试参考价格 克劳德高速数字信号测试实验室 设计评估...