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底部填充胶基本参数
  • 品牌
  • Hanstars汉思
  • 型号
  • HS700系列
  • 产品名称
  • 汉思BGA芯片底部填充胶HS700系列
  • 硬化/固化方式
  • 齐全,多温度区域硬化,加温硬化,低温硬化
  • 主要粘料类型
  • 金属类,陶瓷,医学类,BGA芯片电子元件,玻璃,塑料类,合成热塑性材料,合成热固性材料
  • 基材
  • 改性环氧树脂胶粘剂
  • 物理形态
  • 齐全
  • 性能特点
  • 抗冲击,跌落,抗振性好,提高可靠性
  • 用途
  • BGA/CSP/ic/芯片底部填充,芯片粘接保护
  • 有效成分含量
  • 97
  • 生产执行标准
  • ROHS
  • 外观
  • 齐全
  • 使用温度
  • -50~300
  • 粘度
  • 300-2500
  • 剪切强度
  • 26
  • 固化时间
  • 加温;3min@150℃
  • 保质期
  • 6个月
  • 产地
  • 东莞汉思
  • 厂家
  • 东莞汉思
底部填充胶企业商机

随着电子行业高精密、智能化的发展,BGA封装芯片在电子组装中应用越来越广,随之而来的则是BGA芯片容易因应力集中导致的可靠性质量隐患问题。为了使BGA封装工艺获得更高的机械可靠性,需对BGA进行底部填充。底部填充胶简单来说就是底部填充之义,对BGA或PCB封装模式的芯片进行底部填充,利用加热的固化形式,将BGA 底部空隙大面积 (一般覆盖80%以上)填满,从而达到加固的目的,增强BGA 封装模式的芯片和PCB之间的机械可靠性。底部填充胶主要的作用就是解决BGA/CSP芯片与PCB之间的热应力、机械应力集中的问题,因此对底部填充胶而言,重要的可靠性试验是温度循环实验和跌落可靠性实验。底部填充胶与锡膏是否兼容,是底部填充胶选择与评估时需要重点关注的项目。秦皇岛裸芯片粘接胶厂家

底部填充胶流动型空洞的检测方法:采用多种施胶图案,或者采用石英芯片或透明基板进行试验是了解空洞如何产生,并如何来消除空洞的直接方法。通过在多个施胶通道中采用不同颜色的下填充材料是使流动过程直观化的理想方法。流动型空洞的消除方法:通常,往往采用多个施胶通道以降低每个通道的填充量,但如果未能仔细设定和控制好各个施胶通道间的时间同步,则会增大引入空洞的几率。采用喷射技术来替代针滴施胶,控制好填充量的大小就可以减少施胶通道的数量,同时有助于有助于对下底部填充胶(underfill)流动进行控制和定位。锂电池电源管理系统底部填充胶用途底部填充胶可以在微米级倒装芯片下均匀流动,没有空隙。

底部填充胶填充,通常实施方法有操作人员的手动填充和机器的自动填充,无论是手动和自动,一定需要借助于胶水喷涂控制器,其两大参数为喷涂气压和喷涂时间设定。底部填充胶不同产品不同PCBA布局,参数有所不同。由于底部填充胶的流动性,填充的原则:尽量避免不需要填充的元件被填充;禁止填充物对扣屏蔽罩有影响。依据这两个原则可以确定喷涂位置。在底部填充胶用于量产之前,需要对填充环节的效果进行切割研磨试验,也就是所谓的破坏性试验,检查内部填充效果。通常满足两个标准:跌落试验结果合格;满足企业质量要求。

底部填充胶应用可靠性是为了验证产品在不同的环境下,胶体性能变化的情况,一般用衰减率的大小或者表面破坏程度的情况来判定,也是为了验证该底部填充胶的使用寿命。常见的可靠性项目有冷热冲击,高温老化,高温高湿等,性能衰减率越低,使用寿命越长,无表面破损现象,比如开裂,起皱,鼓泡等现象,应用可靠性越好,使用寿命就越长,反之应用寿命就越短。底部填充胶具有良好的耐冷热冲击、绝缘、抗跌落、低吸湿、低线性热膨胀系数、低粘度、流动性好、可返修等性能,普遍应用于通讯设备、仪器仪表、数码电子、汽车电子、家用电器、安防器械等行业。底部填充胶是一种单组分、低粘度、流动性好、可返修的底部填充剂。

良好的底部填充胶,需具有较长的储存期,解冻后较长的使用寿命。一般来说,BGA/CSP填充胶的有效期不低于六个月(储存条件:-20°C~5℃),在室温下(25℃)的有效使用寿命需不低于48小时。底部填充胶有效使用期是指,胶水从冷冻条件下取出后在一定的点胶速度下可保证点胶量的连续性及一致性的稳定时间,期间胶水的粘度增大不能超过10%。微小形球径的WLP和FC器件,胶材的有效使用期相比于大间距的BGA/CSP器件通常要短一些,因胶水的粘度需控制在1000mpa.s以下,以利于填充的效率。好的底部填充胶,需具有较长的储存期,解冻后较长的使用寿命。安徽电子芯片胶水厂家

一般底部填充胶是增强BGA组装可靠性的重要辅料,选择底部填充胶的好坏对产品可靠性有很大影响。秦皇岛裸芯片粘接胶厂家

底部填充胶在使用过程中,出现空洞和气隙是很普遍的问题,出现空洞的原因与其封装设计和使用模式相关,典型的空洞会导致可靠性的下降。了解空洞形成的不同起因的及其特性,以及如何对它们进行测试,将有助于解决底部填充胶underfill的空洞问题。了解空洞的特性有助于将空洞与它们的产生原因相联系,其中包括:1.1形状——空洞是圆形的还是其他的形状?1.2尺寸——通常描述成空洞在芯片平面的覆盖面积。1.3产生频率——是每10个器件中出现一个空洞,还是每个器件出现10个空洞?空洞是在特定的时期产生,还是一直产生,或者是任意时间产生?1.4定位——空洞出现在芯片的某个确定位置还是任意位置?空洞出现是否与互连凸点有关?空洞与施胶方式又有什么关系。秦皇岛裸芯片粘接胶厂家

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