TO247封装的快恢复二极管MUR1640CA

20世纪80年代初，绝缘栅双极晶体管(IGBT)和功率M0S场效应管(P0WERM0SFET)的研制成功，并得到急剧发展和商业化，这不仅对电力电子逆变器向高频化发展提供了坚实的器件基础，同时，为用电设备高频化(20kHz以上)和高频设备固态化，为高效、节电、节材，实现机电体化，小型轻量化和智能化提供了重要的技术基础。与此同时，给IGBT,功率MOSFET等高频逆变装置配套的、且不可缺少的FRED也得到了很快的发展。因为，随着装置工作开关频率的提高，若没有FRED给高频逆变装置的开关器件作续流、吸收、箝位、隔离输出整流器和输入整流器。那么IGBT、功率MOSFET、IGCT等开关器件就不能发挥它们的功能和独特作用，这是由于FRED的关断特性参数(反向恢复时间trr、反向恢复电荷Qrr，反向峰值电流IRM)的作用所致，合适参数的FRED与高频开关器件的协调工作。使高频逆变电路内因开关器件换相所引起的过电压尖峰，高频干扰电压以及EMI降低，使开关器件的功能得到充分发挥，FRED模块现已批量在大功率开关电源、高频逆变电焊机、高频逆变开关型电镀电源、高频快速充电器以及高频调速装置等场合使用，结果非常令人满意。本文将简要介绍该FRED模块的工艺结构，技术参数。但是由于整流电路由于频率很低，故只对耐压有要求，只要耐压能满足，肯定是可以代用的.TO247封装的快恢复二极管MUR1640CA

  二极管的软度可以获取更进一步操纵。图3SONIC软恢复二极管的寿命控制该二极管回复波形异常的平滑从未振荡，所以电磁扰乱EMI值十分低。这种软恢复二极管不仅引致开关损失缩减，而且容许除去二极管的并联RC缓冲器。使用轴向寿命抑制因素可以取得较佳性能的二极管。电力电子学中的功率开关器件（IGBT、MOSFET、BJT、GTO）总是和迅速二极管相并联，在增加开关频率时，除传导损耗以外，功率开关的固有的功用和效率均由二极管的反向恢复属性决定（由图2的Qrr,IRM和Irr特点表示）。所以对二极管要求正向瞬态压降小，反向回复时间断，反向回复电荷少，并且具备软恢复特点。反向峰值电流IRM是另一个十分关键的属性。反向电流衰变的斜率dirr/dt由芯片的工艺技术和扩散参数决定。在电路中，这个电流斜率与寄生电感有关，例如连接引线，引起过电压尖峰和高频干扰电压。dirr/dt越高（“硬回复”属性），二极管和并联的开关上产生的附加电压越高。反向电流的缓慢衰减（“软恢复”特点）是令人令人满意的属性。所有的FRED二极管都使用了“软恢复”特点，SONIC二极管的恢复属性更“软”，它们的阻断电压范围宽，使这些迅速软恢复二极管能够作为开关电源(SMPS)的输出整流器安徽快恢复二极管MURF1060快恢复二极管 ，就选常州市国润电子有限公司，让您满意，有想法可以来我司咨询！

  2）快恢复、超快恢复二极管的结构特点快恢复二极管的内部结构与普通二极管不同，它是在P型、N型硅材料中间增加了基区I，构成P-I-N硅片。由于基区很薄，反向恢复电荷很小，大大减小了trr值，还降低了瞬态正向压降，使管子能承受很高的反向工作电压。快恢复二极管的反向恢复时间一般为几百纳秒，正向压降约为，正向电流是几安培至几千安培，反向峰值电压可达几百到几千伏。超快恢复二极管的反向恢复电荷进一步减小，使其trr可低至几十纳秒。20A以下的快恢复及超快恢复二极管大多采用TO-220封装形式。从内部结构看，可分成单管、对管（亦称双管）两种。对管内部包含两只快恢复二极管，根据两只二极管接法的不同，又有共阴对管、共阳对管之分。图2(a)是C20-04型快恢复二极管（单管）的外形及内部结构。(b)图和(c)图分别是C92-02型（共阴对管）、MUR1680A型（共阳对管）超快恢复二极管的外形与构造。它们均采用TO-220塑料封装，主要技术指标见表1。几十安的快恢复二极管一般采用TO-3P金属壳封装。更大容量（几百安～几千安）的管子则采用螺栓型或平板型封装形式。2．检测方法（1）测量反向恢复时间测量电路如图3。由直流电流源供规定的IF，脉冲发生器经过隔直电容器C加脉冲信号。

  二极管的软度可以获取更进一步操纵。图3SONIC软恢复二极管的寿命控制该二极管回复波形异常的平滑从未振荡，所以电磁扰乱EMI值十分低。这种软恢复二极管不仅引致开关损失缩减，而且容许除去二极管的并联RC缓冲器。使用轴向寿命抑制因素可以取得较佳性能的二极管。电力电子学中的功率开关器件（IGBT、MOSFET、BJT、GTO）总是和迅速二极管相并联，在增加开关频率时，除传导损耗以外，功率开关的固有的功用和效率均由二极管的反向恢复属性决定（由图2的Qrr,IRM和Irr特点表示）。所以对二极管要求正向瞬态压降小，反向回复时间断，反向回复电荷少，并且具备软恢复特点。反向峰值电流IRM是另一个十分关键的属性。反向电流衰变的斜率dirr/dt由芯片的工艺技术和扩散参数决定。在电路中，这个电流斜率与寄生电感有关，例如连接引线，引起过电压尖峰和高频干扰电压。dirr/dt越高（“硬回复”属性），二极管和并联的开关上产生的附加电压越高。反向电流的缓慢衰减（“软恢复”特点）是令人令人满意的属性。所有的FRED二极管都使用了“软恢复”特点，SONIC二极管的恢复属性更“软”，它们的阻断电压范围宽，使这些迅速软恢复二极管能够作为开关电源(SMPS)的输出整流器。适用于高频率的电路场合，低频如工频50HZ以下用普通的整流二极管就好。

选择快恢复二极管时，主要看它的正向导通压降、反向耐压、反向漏电流等。但我们却很少知道其在不同电流、不同反向电压、不同环境温度下的关系是怎样的，在电路设计中知道这些关系对选择合适的快恢复二极管显得极为重要，尤其是在功率电路中。快恢复二极管的反向恢复时间为电流通过零点由正向转换成反向，再由反向转换到规定低值的时间间隔，实际上是释放快恢复二极管在正向导通期间向PN结的扩散电容中储存的电荷。反向恢复时间决定了快恢复二极管能在多高频率的连续脉冲下做开关使用，如果反向脉冲的持续时间比反向恢复时间短，则快恢复二极管在正向、反向均可导通就起不到开关的作用。PN结中储存的电荷量与反向电压共同决定了反向恢复时间，而在高频脉冲下不但会使其损耗加重，也会引起较大的电磁干扰。所以知道快恢复二极管的反向恢复时间正确选择快恢复二极管和合理设计电路是必要的，选择快恢复二极管时应尽量选择PN结常州市国润电子有限公司力于提供快恢复二极管 ，有想法的可以来电咨询！上海快恢复二极管MUR3040CA

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二极管质量的好坏取决于芯片工艺。目前，行业内使用的二极管芯片工艺主要有两种：玻璃钝化（GPP）和酸洗（OJ）。二极管的GPP工艺结构，其芯片P-N结是在钝化玻璃的保护之下。玻璃是将玻璃粉采用800度左右的烧结熔化，冷却后形成玻璃层。这玻璃层和芯片熔为一体，无法用机械的方法分开。而二极管的OJ工艺结构，其芯片P-N结是在涂胶的保护之下。采用涂胶保护结，然后在200度左右温度进行固化，保护P-N结获得电压。OJ的保护胶是覆盖在P-N结的表面。玻璃钝化（GPP）和酸洗（OJ）特性对比玻璃钝化（GPP）和酸洗（OJ）芯片工艺由于结构的不同，当有外力产生时，冷热冲击，OJ工艺结构的二极管，由于保护胶和硅片不贴合，会产生漏气，导致器件出现一定比率的失效。GPP工艺结构的TVS二极管，可靠性很高，在150度的HTRB时，表现仍然很出色；而OJ工艺的产品能够承受100度左右的HTRTO247封装的快恢复二极管MUR1640CA