平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

平板探测器(简称FPD)成像时会受到暗场飘移、响应不一致和坏点等因素影响,因此必须对平板探测器进行一下几种校正。1、暗场校正(OFFSETcorrection),就是在开启射线源进行检测工作时,为了正确反映出透照物体内部结构与图像灰度值之间的对应关系,去除叠加在实际输出响应上的暗场图像值。2、虽然在线性曝光剂量范围内,平板探测器的每个探测单元对X射线响应是线性的,但不同探测单元的X射线响应系数并不完全一致,即响应不一致性。它带来的后果是相同的入射射线强度,但输出不同。因此必须对平板探测器做增益校正(GAINcorrection)。3、平板探测器(FPD)使用过程中,元器件老化、辐射额碰撞损伤都会产生新的坏点,所以定期更新坏点位置图(坏像素校正))是十分重要的。数字化X射线影像(DR)要比普通影像辐射量减少30%-70%。合肥动态平板探测器应用范围

GIS(GasInsulatedSwitchgear,气体绝缘金属封闭开关)设备是由断路器、隔离开关、接地(快速)开关、母线、电流互感器、电压互感器、避雷器等多种高压电器组成并密封在金属圆筒之中,在其内部充有一定压力的SF6气体作为绝缘和灭弧介质。GIS设备的这种结构给拆解、检修工作都带来很多的困难,且该设备的维修工作技术难度大、费时长,一旦突发故障造成停电的损失将会十分巨大。随着GIS设备在我国电网中应用的不断增多,如何实现对GIS设备的关键部件进行有效、可靠检测,以及时发现设备的故障或缺陷,避免突发故障的产生,已经成为一种迫切的需求。合肥宠物平板探测器技术指导无损检测技术(NDT)正在应用于汽车、科学研究、增材制造、智能手机等工业领域。

X射线管包含有阳极和阴极两个电极,分别用于用于接受电子轰击的靶材和发射电子的灯丝。两极均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。X射线管供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。当钨丝通过足够的电流使其产生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间,使得电子云被拉往阳极。此时电子以高能高速的状态撞击钨靶,高速电子到达靶面,运动突然受到阻止,一部分动能转化为辐射能,以X射线的形式放出,以这种形式产生的辐射称为轫致辐射。改变灯丝电流的大小可以改变灯丝的温度和电子的发射量,从而改变管电流和X射线强度的大小。改变X光管激发电位或选用不同的靶材可以改变入射X射线的能量或在不同能量处的强度。由于受高能电子轰击,X射线管工作时温度很高,需要对阳极靶材进行强制冷却。

根据探测器的闪烁体材料,可分为碘化铯(CsI)平板和硫氧化钆(GdOS)平板两种。二者成像原理基本一致,不过因探测材料不同,成本及性能有明显差异:1、与碘化铯不同,GdOS不需要长时间蒸镀沉积过程,生产工艺简单,产品稳定可靠,成本较CsI低20%—30%;2、相较于GdOS,针状碘化铯晶体的X射线转换效率高30%—40%,横向光扩散也更小,具有更高的空间分辨率。因此,碘化铯平板的DQE更高,成像更清晰。根据IHSMarkit预测,在闪烁体领域,凭优异的性能,碘化铯将进一步挤占硫氧化钆的市场份额。 DR是目前主流X线影像设备,用于医院内科、外科、骨科、创伤科、急诊科、体检科等科室。

    若待测器件内部存在金属颗粒杂质时,因金属颗粒较周围物体对X射线有较强的吸收率,所以穿过金属颗粒杂质时X射线产生的衰减程度比周围物体大,因此穿过金属颗粒杂质缺陷区域的X射线强度弱于穿透过缺陷区域外物体的射线强度。此时,在待检测器件下方的平板探测器上与缺陷对应的部位将接受较弱的射线曝光,而其他完好部位接受较强的射线曝光。反之,若待测器件内部存在充满气体的空隙缺陷时,这种缺陷较完好的金属物质或绝缘子材料部位对射线拥有较弱的吸收率,因此穿透过空隙缺陷区域的X射线强度强于缺陷区域外的完好部位。此时,在待检测器件下方的平板探测器上,与缺陷对应的部位将接受较强的射线曝光,而其他完好部位接受较弱的射线曝光。在相同曝光时间条件下,缺陷部位和完好部位不同的曝光量通过探测器光学元件将形成灰度不同的影像,进而实现缺陷的分辨和检出。动态平板探测器主流应用场景为术中连续追踪成像、动态影像诊断及医疗辅助定位。合肥动态平板探测器应用范围

使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本低。但是转换效率不如碘化铯涂层高。合肥动态平板探测器应用范围

1)使用X-Ray检查BGA焊性。X光机是利用X射线透过被检测物体后衰减,由射线接收/转换装置接收并转换成信号,通过半导体传感技术、计算机图像处理技术和信息处理技术,将检测图像直接显示在显示器屏幕上,用于金属或非金属器件的无损检测,它具有快速、准确、直观等特点。在电子产品中应用于:1)IC封装:芯片大小量测、芯片位置、空洞、导线架、打线、连接线路的开路、短路、不正常连接、陶瓷电容结构检验。2)PCB和PCBA:PCB内层走线、焊点孔洞、成型不良、桥连、立碑、焊料不足/过剩、组件吃锡面积比例、器件漏装、引腳弯曲/不共面、异物检查等。3)其它应用:机械结构、电池结构检验等。合肥动态平板探测器应用范围

上海煜影光电科技有限公司坐落在上海市嘉定区汇旺东路688号2幢305室,是一家专业的上海煜影光电科技有限公司成立于2017年,是一家从事平板探测器研发、生产和销售于一体的****。公司专注于平板探测器,自创立以来煜影光电潜心研究,用心探索,产品覆盖医疗、兽用、工业、安防等多个市场,为广大客户提供质优产品和服务。公司。公司目前拥有较多的高技术人才,以不断增强企业重点竞争力,加快企业技术创新,实现稳健生产经营。上海煜影光电科技有限公司主营业务涵盖平板探测器,动态平板探测器,静态平板探测器,无线平板探测器,坚持“质量保证、良好服务、顾客满意”的质量方针,赢得广大客户的支持和信赖。公司凭着雄厚的技术力量、饱满的工作态度、扎实的工作作风、良好的职业道德,树立了良好的平板探测器,动态平板探测器,静态平板探测器,无线平板探测器形象,赢得了社会各界的信任和认可。

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