CR和DR存在一些共同点。1、DR和CR将X射线图像信息转换成数字图像信息。与传统的X射线相比,工作量,工作效率和胶片消耗都具有明显的优势。CR和DR技术不仅省去了薄膜冲洗工艺,而且减少了化学药品的消耗,并且可以很好地控制质量。2、DR和CR都具有较宽的动态范围和较宽的曝光范围。当X射线曝光参数不足时,可以获得良好的图像。透照的成功率很高,可以有效地减少回收率,并减少废品率。3、DR和CR获取数字信号图像,并根据需要通过图像处理系统实现图像优化,改善图像细节,达到比较好视觉效果,提高图像质量。 使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本低。但是转换效率不如碘化铯涂层高。青岛平板探测器
间接转换的平板探测器中,影响DQE的因素主要有两个方面:闪烁体的涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。首先闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,因此对DQE会产生影响。常见的闪烁体涂层材料有两种:碘化铯(CsI)和硫氧化钆(Gd2O2S)。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强,但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,并减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯涂层高。 云南乳腺平板探测器在压力管道无损检测技术的应用中,射线检测是一种常见的检测技术。
平板探测器(简称FPD)成像时会受到暗场飘移、响应不一致和坏点等因素影响,因此必须对平板探测器进行一下几种校正。1、暗场校正(OFFSETcorrection),就是在开启射线源进行检测工作时,为了正确反映出透照物体内部结构与图像灰度值之间的对应关系,去除叠加在实际输出响应上的暗场图像值。2、虽然在线性曝光剂量范围内,平板探测器的每个探测单元对X射线响应是线性的,但不同探测单元的X射线响应系数并不完全一致,即响应不一致性。它带来的后果是相同的入射射线强度,但输出不同。因此必须对平板探测器做增益校正(GAINcorrection)。3、平板探测器(FPD)使用过程中,元器件老化、辐射额碰撞损伤都会产生新的坏点,所以定期更新坏点位置图(坏像素校正))是十分重要的。
像素是一个面积单位,相当于每个薄膜晶体管单元为139微米×139微米,整块43厘米×43厘米的面积布满了944万像素单元,清晰度非常高。像素太大,则无法看到病灶点的细节,而像素太小,则需要提高每个像素的入射光子数量,则提高了X光的剂量,对被照体产生伤害。139微米的比较好设计即保障了清晰度,同时也充分利用了入射剂量,减少了对被照体的伤害。除了薄膜晶体管阵列对应的单元,芯片设计的是否直接bonding在TFT上也是一个**工艺,一般分为直接bonding在TFT上,该技术为CHIPONGLASS。该技术无中间层,提高了转换率无中间层衰减。其它技术则通过软性电路板中间层连接,提高了损耗。总结来看,直接生长工艺的碘化铯非晶硅TFT平板、具备毫秒级反应的工作流、139微米的像素单元设计和芯片直接bonding在TFT上,为目前平板的**设计和比较好设计。 常见方法是使用X射线成像来创建一个设备内部元件的详细图像,然后使用计算机软件来分析该并计算数量。
平板探测器(简称FPD)面积一定的条件下,为增加空间分辨率,只能减小像素尺寸、降低单位像素面积、增加像素密度。单位像素的面积越小,会使像素有效因子减少,像素的感光性能越低,信噪比越低,动态范围变窄。因此这种减小像素尺寸的方法不可能无限制地增大分辨率,相反会引起图像质量的恶化,***增加的空间分辨率又被因此带来的噪声淹没。要弥补此问题就要增大X射线的曝光剂量,这与X射线影像技术的发展相违背。因此,单有高的空间分辨率并不意味着更高的发现能力。 暗场信息可以用来制作X射线成像,也就是X射线CT或X射线牙科成像。湖北数字影像平板探测器
软件Binning是在读出之后,使用软件将数字化的像素电荷包相加,不会提高信噪比。青岛平板探测器
根据探测器的闪烁体材料,可分为碘化铯(CsI)平板和硫氧化钆(GdOS)平板两种。二者成像原理基本一致,不过因探测材料不同,成本及性能有明显差异:1、与碘化铯不同,GdOS不需要长时间蒸镀沉积过程,生产工艺简单,产品稳定可靠,成本较CsI低20%—30%;2、相较于GdOS,针状碘化铯晶体的X射线转换效率高30%—40%,横向光扩散也更小,具有更高的空间分辨率。因此,碘化铯平板的DQE更高,成像更清晰。根据IHSMarkit预测,在闪烁体领域,凭优异的性能,碘化铯将进一步挤占硫氧化钆的市场份额。 青岛平板探测器
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