平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

    若待测器件内部存在金属颗粒杂质时,因金属颗粒较周围物体对X射线有较强的吸收率,所以穿过金属颗粒杂质时X射线产生的衰减程度比周围物体大,因此穿过金属颗粒杂质缺陷区域的X射线强度弱于穿透过缺陷区域外物体的射线强度。此时,在待检测器件下方的平板探测器上与缺陷对应的部位将接受较弱的射线曝光,而其他完好部位接受较强的射线曝光。反之,若待测器件内部存在充满气体的空隙缺陷时,这种缺陷较完好的金属物质或绝缘子材料部位对射线拥有较弱的吸收率,因此穿透过空隙缺陷区域的X射线强度强于缺陷区域外的完好部位。此时,在待检测器件下方的平板探测器上,与缺陷对应的部位将接受较强的射线曝光,而其他完好部位接受较弱的射线曝光。在相同曝光时间条件下,缺陷部位和完好部位不同的曝光量通过探测器光学元件将形成灰度不同的影像,进而实现缺陷的分辨和检出。局部放电:在电场作用下,导体间绝缘部分区域被击穿(没有贯穿施加电压的导体之间)的电气放电现象。北京宠物平板探测器

平板探测器(简称FPD)是一种半导体检测器,是数字化摄影的主要部件。目前平板探测器可分间接式的CsI(a-Si)(碘化铯,非晶硅)平板探测器和直接式的a—Se(非晶硒)平板探测器,其作用是将X线的光量子信号转换成数字信号。机房环境对平板探测器的影响很大,适当的温湿度是维持探测器正常运行的必要条件。首先要保持设备环境温度的恒定,不要将探测器置于30℃以上的环境中;其次要经常观察探测器内部温度的变化,确保其稳定性,通常床上探测器为(40±3)℃,壁装支架探测器为(38±3)℃。平板探测器如果置于温度过高的环境,可致信息读出错误,并可能损坏探测器。环境湿度高会降低元器件的绝缘性能;灰尘多会影响成像效果,并可能遮盖探测器冷却设备的入口,导致探测器散热不良。平板探测器是精密电子设备,在使用过程中会出现探测器矩阵的某一行或某一列的像素失效,在图像上表现为点状或细线状伪影,其原因是在电场作用下导体中的电子发生定向运动出现了空洞,丧失了原有的成像功能。平板探测器的定时校准可以将失效的像素屏蔽。 江西数字影像平板探测器搭载AED后,搭配任意高压发生器,方便地实现平板的自动成像功能。

噪声是非输入信号造成的输出信号。噪声的主要来源:探测器的电子噪声、射线图像量子噪声。信噪比:探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比,用SNR表示。信噪比越高,图像质量越好。归一化信噪比:比较不同探测器的信噪比,必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式:SNRn=SNRm×88.6/P。SNRn归一化信噪比,SNRm测量信噪比,P探测器像素尺寸(um)。线性度:是探测器产生的信号在比较大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。稳定性:是随着工作时间的增加探测器处理信号产生一致性的能力,线性度和稳定性直接影响探测器精度。响应时间:是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间,它是影响采样的速率及数据质量的关键。

    Binning是一种图像读出模式,将相邻的像元中感应的电荷被加在一起,以一个像素的模式读出。Binning分为水平方向Binning和垂直方向Binning,水平方向Binning是将相邻的行的电荷加在一起读出;垂直方向Binning是将相邻的列的电荷加在一起读出,Binning这一技术的优点是能将几个像素联合起来作为一个像素使用,在高速摄像机的应用中,BinningMode采用的是2x的Binning,即长宽缩短为原本一般,输出分辨率降低为原本的1/4。优势:能够在视野面积和比例不变的前提下提高帧数,同时也可以提高暗处对光感应的灵敏度。劣势:降低输出图像解析力,只能输出单色图像。 无损检测技术(NDT)正在应用于汽车、科学研究、增材制造、智能手机等工业领域。

动态范围是衡量平板探测器(FPD)性能的一个关键指标。是指FPD能够线性地探测出X射线入射剂量的变化,是低剂量与高剂量之比。动态范围大,密度分辨率高,是DR系统优于传统放射影像系统重要的特点,它可以得到更多的影像细节,检出能力高于传统影像。要正确表达探测器的动态范围,必须具有足够位数的深度。以往12位影像只能记录4096等级灰度,不能满足DR影像信号的完整记录。所以目前大多数DR系统采用16位,灰度可达到65536,可以反映很小密度的层次变化。 坏点是指对X射线强度不响应或响应不良的探测器单元。常州工业平板探测器技术指导

对光电转换器而言,其响应的较大与较小亮度值之比为动态范围。北京宠物平板探测器

量子探测效率(DQE)是一种对成像系统信号和噪声从输入到输出的传输能力的表达,以百分比表示。DQE反映的是平板探测器的灵敏度、噪声、X线剂量和密度分辨率。在非晶硅平板探测器中,影响DQE的因素主要有两个方面:闪烁体涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。 闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,所以对DQE会产生影响。闪烁体涂层材料有两种:碘化铯和硫氧化钆。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速率快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯涂层高。 北京宠物平板探测器

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