平板探测器基本参数
  • 品牌
  • 煜影
  • 型号
  • 4343SA;3543SA;4343WA;
  • 类型
  • X射线探测器
  • 加工定制
平板探测器企业商机

平板探测器(简称FPD)面积一定的条件下,为增加空间分辨率,只能减小像素尺寸、降低单位像素面积、增加像素密度。单位像素的面积越小,会使像素有效因子减少,像素的感光性能越低,信噪比越低,动态范围变窄。因此这种减小像素尺寸的方法不可能无限制地增大分辨率,相反会引起图像质量的恶化,***增加的空间分辨率又被因此带来的噪声淹没。要弥补此问题就要增大X射线的曝光剂量,这与X射线影像技术的发展相违背。因此,单有高的空间分辨率并不意味着更高的发现能力。 我公司拥有多年研发生产经验,探测器性能稳定,性价比高,提供各类技术支持。苏州购买平板探测器应用范围

每天我们会受到多少剂量的辐射?日常生活中我们受到的天然辐射剂量为2-4毫西弗。日常生活中,我们坐10小时飞机,相当于接受0.03毫西弗辐射。一日抽一包烟,一年下来受到的剂量在0.5-1毫希弗。胸部、口腔、四肢X射线诊断0.01毫西弗,乳腺、髋部、脊柱、腹部、骨盆X射线诊断、头部CT为1毫西弗,腹部CT约10毫西弗,当然这只是大概剂量。一次小于100毫西弗的辐射,临床上观测不到任何变化,对人体无影响。任何确定性效应都有剂量效应关系,因此一次医学照射是不可能引起不良反应的。 杭州智能平板探测器技术指导坏点是指对X射线强度不响应或响应不良的探测器单元。

随着无损检测手段的不断发展,利用X射线对设备进行非接触式的无损检测,可以在设备带电运行条件下观测其内部的结构异常,检测结果直观而且准确。

数字化X射线成像检测方法利用高频射线机和平板探测器对GIS设备透照,再将检测的图像传递给计算机,进而采用计算机智能处理的方法为设备的图像检测提供客观的依据。目前利用X射线成像技术检出了一些大型的GIS缺陷。然而在GIS生产与运行中,可能引入金属前列、金属颗粒、以及绝缘子裂纹等微小的潜在缺陷。这些缺陷具有尺寸小、对X射线吸收率低等特点,缺陷位置也多种多样,这将使得X射线成像检测变得更加困难。可以根据潜在缺陷材料对X射线的吸收率,然后建立了缺陷实体模型,检验X射线数字成像方法用于检测GIS潜在缺陷的效果。

非晶硅平板探测器是间接数字化X线成像,其表面是一层闪烁体材料(碘化铯或硫氧化钆),再下一层是以非晶体硅为材料的光电二极管电路,底层为电荷读出电路。位于探测器表面的闪烁体将透过人体后衰减的X线转换为可见光,非晶硅光电二极管阵列又将可见光转换为电信号,在光电二极管自身的电容上形成存储电荷,每个像素的存储电荷量与入射X线强度成正比,在控制电路的作用下,扫描读出各个像素的存储电荷,经A/D转换后输出数字信号,传送给计算机进行图像处理从而形成X线数字影像。 数字化X射线影像(DR)要比普通影像辐射量减少30%-70%。

X-RAY设备主要是利用X光射线的穿透作用,X光射线波长很短,能量特别大,照在物质上时,物质只能吸收一小部分,而大部分X光射线的能量会从物质原子的间隙中穿过去,表现出极强的穿透能力。而x-ray设备能检测出来是利用X光射线的穿透力与物质密度的关系,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开来。所以如果被检测物品出现断裂、厚度不一,形状改变时,对于X光射线的吸收不同,产生的图像也不同,故而能够产生出差异化的黑白图像。当X射线穿过物质时,它会把物质中的电子撞出来,从而产生一种叫做暗场的效应。南京智能平板探测器应用范围

平板探测器在安检领域的应用包括公共场所安检、车辆集装箱检查、可疑包裹排查等。苏州购买平板探测器应用范围

X射线检测技术可以分为CR和DR技术,CR就是计算机X射线成像系统,使用成像板IP作为图像载体来代替传统的X射线胶片,并使用与传统X射线摄影相同的投影技术来曝光成像X射线检查板,并记录X射线图像信息,对该信息进行读取和处理之后,可以获得数字X射线图像信号;DR则是数字化X射线摄影系统,是指在计算机的控制下直接读取感应介质记录的X射线图像信息,并以数字图像模式复制或记录图像的技术方法。它由检测板,扫描控制器,系统控制器和图像显示器组成,它们通过电缆串联在一起,使用方法更简洁。 苏州购买平板探测器应用范围

上海煜影光电科技有限公司是以提供平板探测器,动态平板探测器,静态平板探测器,无线平板探测器为主的有限责任公司,公司位于上海市嘉定区汇旺东路688号2幢305室,成立于2017-11-21,迄今已经成长为机械及行业设备行业内同类型企业的佼佼者。公司承担并建设完成机械及行业设备多项重点项目,取得了明显的社会和经济效益。产品已销往多个国家和地区,被国内外众多企业和客户所认可。

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