数字化X线探测器有多种分类。按照传感器阵列形状的不同,可分为平板探测器和线阵探测器。按照光子信号的转换方式的不同,可分为积分式探测器和单光子计数式探测器。此外,光学传感面板一般都由光电转化层和TFT阵列开关等寻址电路组成,按照这两部分的组成材料,可分为:非晶硅探测器、CMOS/单晶硅探测器、IGZO探测器、非晶硒探测器和CdTe/CZT(碲化镉/碲锌镉)探测器等。非晶硅、IGZO、CMOS和柔性基板四大传感器技术均有其特定的终端应用场景。非晶硅是目前主流的X线探测器传感器技术,具有大面积、工艺成熟稳定、普通放射的能谱范围响应好、材料稳定可靠、环境适应性好等特点,可同时满足静态和动态探测器的需求。 选择适当的窗宽和窗位观察图像,使所需要的组织或病变部位清晰地显示出来。江西超薄平板探测器
平板探测器(简称FPD)面积一定的条件下,为增加空间分辨率,只能减小像素尺寸、降低单位像素面积、增加像素密度。单位像素的面积越小,会使像素有效因子减少,像素的感光性能越低,信噪比越低,动态范围变窄。因此这种减小像素尺寸的方法不可能无限制地增大分辨率,相反会引起图像质量的恶化,***增加的空间分辨率又被因此带来的噪声淹没。要弥补此问题就要增大X射线的曝光剂量,这与X射线影像技术的发展相违背。因此,单有高的空间分辨率并不意味着更高的发现能力。 山西X射线采集平板探测器X射线是管道焊缝无损检测技术中的一种,它以检测图像的形式可以直观的反映管道焊缝处的缺陷。
评价平板探测器成像质量的性能指标主要有两个:量子探测效率(Detective Quantum Efficiency,DQE)和空间分辨率。DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能力;而空间分辨率决定了对组织细微结构的分辨能力。考察DQE和空间分辨率可以评估平板探测器的成像能力。不同类型的平板探测器因为材料、结构、工艺的不同而造成DQE和空间分辨率的差异。DQE影响了对组织密度差异的分辨能力,而空间分辨率影响了对细微结构的分辨能力。还没有一款DQE和空间分辨率都做得很高的平板探测器,所以需要在二者间做一个平衡。
动态范围是指探测器能够线性地探测出X射线入射剂量的变化,是比较低剂量与比较高剂量之比。动态范围大,密度分辨率高,是DR系统优于传统放射影像系统重要的特点,它可以得到更多的影像细节,检出能力高于传统影像。要正确表达探测器的动态范围,必须具有足够位数的深度。以往12位影像只能记录4096等级灰度,不能满足DR影像信号的完整记录。所以目前大多数DR系统采用16位,灰度可达到65536,可以反映很小密度的层次变化。灰阶差异越明显,对比度越大,分辨得就越清楚。 窗位(window level),表示图像灰阶的中心位置。
调制传递函数(MTF)是描述系统再现成像物体空间频率范围的能力。理想的成像系统要求100%再现成像物体细节,但现实中肯定存在不同程度的衰减,所以MTF始终<1,它说明成像系统不能把输入的影像全部再现出来,换句话说,凡是经过成像系统所获得的图像都不同程度损失了影像的对比度。MTF值越大,成像系统再现成像物体细节能力越强。国际机构的测量结果表明,相比于非晶硅平板探测器,非晶硒平板探测器具有优良的MTF值,但空间分辨率增加时,非晶硅平板探测器的MTF迅速下降,而非晶硒平板探测器仍能保持较好的MTF值。数字影像(DR)具有图像清晰、分辨率高、灰阶度广、动态范围大等优点。苏州乳腺平板探测器
搭载AED后,搭配任意高压发生器,方便地实现平板的自动成像功能。江西超薄平板探测器
影像质量是由清晰度、对比度这两个关键要素体现出来的。清晰度主要由X射线球管焦点尺寸和平板探测器(FPD)的空间分辨率决定,空间分辨率是由像素尺寸决定的,相同面积内像素尺寸越小,像素数量就越多,对图像细节的分辨能力就越大。对比度主要由数字平板探测器(FPD)和图像处理算法决定。对比度分辨率是由AD转化的位数决定的,位数越大,图像灰阶度越高,对比度层次分辨能力越强,可以观察到的各个组织结构的黑白亮度差异越明显。 江西超薄平板探测器
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