上海动态平板探测器技术指导

平板探测器（简称FPD）成像时会受到暗场飘移、响应不一致和坏点等因素影响，因此必须对平板探测器进行一下几种校正。1、暗场校正（OFFSETcorrection），就是在开启射线源进行检测工作时，为了正确反映出透照物体内部结构与图像灰度值之间的对应关系，去除叠加在实际输出响应上的暗场图像值。2、虽然在线性曝光剂量范围内，平板探测器的每个探测单元对X射线响应是线性的，但不同探测单元的X射线响应系数并不完全一致，即响应不一致性。它带来的后果是相同的入射射线强度，但输出不同。因此必须对平板探测器做增益校正（GAINcorrection）。3、平板探测器（FPD）使用过程中，元器件老化、辐射额碰撞损伤都会产生新的坏点，所以定期更新坏点位置图（坏像素校正））是十分重要的。窗位（window level），表示图像灰阶的中心位置。上海动态平板探测器技术指导

现在的电子产品几乎把轻和薄设计作为企业竞争优势。电子产品的内部就变得更复杂，元器件越来越小，但算力却几何倍数提升。这对加工和检验环节提出了新的挑战，常规的检查方法：视觉检查，光学检查，电测试和超声检查等，很难同时满足既能检测得准确又能跟得上量产速度。目前行业内越来越多人认可X射线检测的准确性、可靠性和快速成像优势。X射线的一项明显特点就是穿透性强，在射线穿透检材后再接收衰减程度不一的射线并通过软件处理成像就可以非常直观的发现缺陷。 济南工业平板探测器技术参数辐射剂量被物质吸收表现为吸收剂量，对应的生物效应表现为当量剂量。

平板探测器（简称FPD）面积一定的条件下，为增加空间分辨率，只能减小像素尺寸、降低单位像素面积、增加像素密度。单位像素的面积越小，会使像素有效因子减少，像素的感光性能越低，信噪比越低，动态范围变窄。因此这种减小像素尺寸的方法不可能无限制地增大分辨率，相反会引起图像质量的恶化，***增加的空间分辨率又被因此带来的噪声淹没。要弥补此问题就要增大X射线的曝光剂量，这与X射线影像技术的发展相违背。因此，单有高的空间分辨率并不意味着更高的发现能力。

随着版面密度的提高和器件的体积越来越小，在设计版面时，使ICT测试的点空间变得越来越小，而且，对复杂版材而言，如果直接从SMT生产线送到功能测试岗位，不仅会导致产品合格率降低，还会增加电路板的故障诊断与维修费用，即使造成交货延误，在当今社会激烈竞争的市场上，如果用X-ray检验代替ICT检验，就能保证功能测试的生产轨迹，此外，在SMT生产中采用X-ray进行批量检验，可以减少甚至消除批量误差，值得注意的是：对于ICT不能测量的焊锡过少或过多，此外，还可以测量冷汗、焊接、气孔等X-ray，并且通过ICT甚至功能检测很容易检测出这些缺陷，从而影响了产品的寿命。 非晶硅平板检测器由诸如碘化铯的闪烁晶体涂层和薄膜晶体管组成。

DR平板通过在探测器节电技术方面的发明创新，可以续航至少10小时，或以每分钟拍摄一张图的速度拍摄700幅图像，即使在**为繁忙的放射室也可以确保一整天的使用而不需要为电池充电或更换电池。高速、稳定、便捷的无线传输是无线平板探测器设计关键。通常环境下平板的无线传输速率与有线千兆网卡相当。可以在3秒完成一副全分辨率的图像传输，即使在**糟糕的情况下也不会超过5秒。即使遇到完全没有无线连接的情况，探测器依然可以把采集到的图像保存，等到有网路连接的时候再发送出去。与此同时，探测器图像具有高DQE，高分辨率等***品质。探测器具备高度灵敏和稳定自动曝光感应功能，可以方便的与所有高压发生器连接并同步。 数字化X射线影像(DR)要比普通影像辐射量减少30％-70％。上海工业平板探测器应用范围

Binning 优势：能够在视野面积和比例不变的前提下提高帧数，同时也可以提高暗处对光感应的灵敏度。上海动态平板探测器技术指导

平板探测器（简称FPD）是一种半导体检测器，是数字化摄影的主要部件。目前平板探测器可分间接式的CsI（a-Si）（碘化铯，非晶硅）平板探测器和直接式的a—Se（非晶硒）平板探测器，其作用是将X线的光量子信号转换成数字信号。机房环境对平板探测器的影响很大，适当的温湿度是维持探测器正常运行的必要条件。首先要保持设备环境温度的恒定，不要将探测器置于30℃以上的环境中；其次要经常观察探测器内部温度的变化，确保其稳定性，通常床上探测器为（40±3）℃，壁装支架探测器为（38±3）℃。平板探测器如果置于温度过高的环境，可致信息读出错误，并可能损坏探测器。环境湿度高会降低元器件的绝缘性能；灰尘多会影响成像效果，并可能遮盖探测器冷却设备的入口，导致探测器散热不良。平板探测器是精密电子设备，在使用过程中会出现探测器矩阵的某一行或某一列的像素失效，在图像上表现为点状或细线状伪影，其原因是在电场作用下导体中的电子发生定向运动出现了空洞，丧失了原有的成像功能。平板探测器的定时校准可以将失效的像素屏蔽。 上海动态平板探测器技术指导

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