合肥动态平板探测器技术参数

非晶硅、IGZO、CMOS、柔性基板、非晶硒等五种技术适合于不同的应用场景：1）非晶硅探测器，因具有出色的成本优势，短时间内仍会是平板探测器的主流技术平台。2）IGZO探测器，因采集时间短，信噪比高等特点，在动态平板上有很大优势。未来随着技术更趋成熟，IGZO替代非晶硅(至少在动态平板领域)，应该是大势所趋。3）CMOS探测器，虽然主要应用在中小尺寸动态成像领域，但因其高分辨率、高帧速率和低剂量性能，在牙科、乳腺、外科及介入等场合，CMOS平板也是主流技术平台。4）柔性基板探测器，具有超窄边框、轻便、抗冲撞、不易破损等特点。不过目前成本较高，随着工艺不断改善，未来在部分特殊应用场景将取代传统的非晶硅探测器。5）非晶硒探测器，因为更高的性能和成本，非晶硒在很长时间内仍会继续统治乳腺机，直到光子计数探测器普及。 静态平板探测器侧重分辨率和感光效率，在图像性能上体现单帧大动态范围。合肥动态平板探测器技术参数

随着版面密度的提高和器件的体积越来越小，在设计版面时，使ICT测试的点空间变得越来越小，而且，对复杂版材而言，如果直接从SMT生产线送到功能测试岗位，不仅会导致产品合格率降低，还会增加电路板的故障诊断与维修费用，即使造成交货延误，在当今社会激烈竞争的市场上，如果用X-ray检验代替ICT检验，就能保证功能测试的生产轨迹，此外，在SMT生产中采用X-ray进行批量检验，可以减少甚至消除批量误差，值得注意的是：对于ICT不能测量的焊锡过少或过多，此外，还可以测量冷汗、焊接、气孔等X-ray，并且通过ICT甚至功能检测很容易检测出这些缺陷，从而影响了产品的寿命。 无锡轻便平板探测器坏点是指对X射线强度不响应或响应不良的探测器单元。

    人体组织结构的密度可归纳为三类：属于高密度的有骨组织和钙化灶等；中等密度的有软骨、肌肉、神经、实质***、结缔组织以及体内液体等；低密度的有脂肪组织以及存在于呼吸道、胃肠道、鼻窦和乳突内的气体等。当强度均匀的X线穿透厚度相等的不同密度组织结构时，由于吸收程度不同，荧屏上显出具有黑白（或明暗）对比、层次差异的X线影像。在人体结构中，胸部的肋骨密度高，对X线吸收多，照片上呈白影；肺部含气体密度低，X线吸收少，照片上呈黑影。X线穿透低密度组织时，被吸收少，剩余X线多，使X线胶片感光多，经光化学反应还原的金属银也多，故X线胶片呈黑影；使荧光屏所生荧光多，故荧光屏上也就明亮。高密度组织则恰相反病理变化也可使人体组织密度发生改变。

直接式平板探测器主要由集电矩阵、硒层、电介层、顶层电极和保护层等构成。集电矩阵由按阵元方式排列的薄膜晶体管(TFT)组成。非晶硒半导体材料在薄膜晶体管阵列上方通过真空蒸镀生成约、38mm×45mm见方的薄膜，它对X线很敏感，并有很高的图像解析能力。顶层电极接高压电源，当有X线入射时，由于高压电源在非晶硒表面形成的电场，它们只能沿电场方向垂直穿过绝缘层、X射线半导体、电子封闭层，到达非晶硒，不会出现横向偏离从而出现光的散射。 不开射线情况下，对平板探测器进行数据采集，仍有信号输出，此时采集到的图像称为暗场图像。

CMOS，即互补金属氧化物半导体，是组成芯片的基本单元。CMOS离我们很近，几乎所有手机的摄像头都是基于CMOS图像传感器芯片，与CMOS平板异曲同工。与非晶硅/IGZO探测器的玻璃衬底不同，CMOS探测器的衬底是单晶硅，其电子迁移率是1400cm^2/VS，这是制作晶圆的重要材料。所谓CMOS平板探测器，是指在一块晶圆上集成光电二极管、寻址电路，以及更重要的放大器(这是与非晶硅/IGZO探测器的比较大区别)，将信号放大后再传输到外面。因此，具有明显优于非晶硅探测器的低剂量DQE和更高的采集速度。 DR平板探测器可分为两种：非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器。南京工业检测平板探测器

窗宽（window width）是显示信号强度值的范围。合肥动态平板探测器技术参数

平板探测器（简称FPD）对kV、mAs（或mA、s）的响应特性是不同的。FPD对kV的响应特性呈阶段性：当kV小于100kV时，呈准线性响应，影像的原始灰度值随着kV的增加近乎呈线性增加；当kV大于100kV时，其响应性明显变弱，影像的灰度值随着kV的增加而增加的幅度明显下降。FPD对mAs（或mA、s）的响应几近线性。这一特性指导我们对较厚肢体照射时，在满足被照肢体穿透力（kV大于100kV后）的情况下，不要只靠调节kV来增加曝光量，所以此时应适当增加mAs（或加大mA或延长曝光时间或二者都相应加大），增加曝光量以增加图像灰度值；而对较薄肢体部位照射时，其穿透kV远远小于100kV，此时应适当提高kV，降低mAs（或减小mA或缩短曝光时间或二者都相应减少）。 合肥动态平板探测器技术参数

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