南京平板探测器技术指导

分辨率定义为单位长度上可分辨两个相邻细节间**小距离的能力，用lp/mm表示。分辨率分为系统分辨率和图像分辨率，用双线型像质计或分辨率测试卡测试。数字图像的分辨率（力），限定了图像所能分辨的、处于与射线束垂直平面内的相邻细节（缺陷）间的**小尺寸，即图像可以分辨的细节**小间距。分辨率和分辨力的主要区别在于分辨率是相对值，分辨力是***值，分辨率等于2倍分辨力的倒数。如果你对分辨率还有不清楚的地方，请联系我们进行咨询。 坏点是指对X射线强度不响应或响应不良的探测器单元。南京平板探测器技术指导

较高的管电压可以发出较高能量的X射线光子，能够穿透较厚的样品。所以管电压越高，X射线的穿透能力越强。X射线线源的焦点尺寸越小，图像的分辨率越高，图片也越清晰。管电流越大，单位时间内照射到样品上的X射线光子就越多（可以类比为电灯越亮）；成像的信噪比越好，所需的曝光时间也越短。综上所述，样品厚可以考虑调高管电压；样品的结构精细可以选择较小的焦点尺寸；希望缩短成像时间，则可以尝试增加管电流。实验中需要不断变化参数进行尝试，取得较好质量的图像。 安徽实时成像平板探测器X射线具有高能量和短波长的特点，因此可以穿透大多数物质，包括金属、玻璃、木板等。

X射线检测是一种被***用于很多行业的无损检测方法，因为X射线检测时的非接触性（区别于超声、磁粉方法），在一些特定环境要求和被测物体具有特定形状时，X射线检测就成了***可行的检测手段。X射线数字成像技术因其有着高效的成像表现，与胶片技术共同成为国内外主流的射线检测技术。在选择平板探测器时，应对所要检测的铸件有一个较为***的了解，材质、透照厚度、外形尺寸、执行的图像标准，都会在**终得到的图像质量上有所表达。在充分了解要求和具体情况后，才能对平板探测器的选择有正确的认识。

CMOS，即互补金属氧化物半导体，是组成芯片的基本单元。CMOS离我们很近，几乎所有手机的摄像头都是基于CMOS图像传感器芯片，与CMOS平板异曲同工。与非晶硅/IGZO探测器的玻璃衬底不同，CMOS探测器的衬底是单晶硅，其电子迁移率是1400cm^2/VS，这是制作晶圆的重要材料。所谓CMOS平板探测器，是指在一块晶圆上集成光电二极管、寻址电路，以及更重要的放大器(这是与非晶硅/IGZO探测器的比较大区别)，将信号放大后再传输到外面。因此，具有明显优于非晶硅探测器的低剂量DQE和更高的采集速度。 分辨率高、获取更多影像细节是数字化X线影像(DR)优于普通放射影像的主要优点。

首先，DR要有一个良好的清洁环境，并经常保持清洁，严格防尘，以防污染。其次，震动也会对机架和平板探测器产生影响，因此，在实际操作过程中，操作人员一定要防止探测器与探测器外壳发生碰撞而产生震动。再者，温度和湿度也是影响电气系统、平板探测器正常运行的重要因素。另外，校正是进行DR日常维护保养中非常重要的环节，需要对设备定期进行校准。校准的内容主要包括：球管校正和平板探测器校正，平板探测器校正又主要包括增益校准和缺陷校准两个方面。通常校准时间定为半年一次，如果有特殊情况，则应3个月进行一次。 DR显示上图速度快，运动伪影影响小。天津便携平板探测器

使用自动化数字X射线无损检测可以实现100%检查，从而实现0故障率。南京平板探测器技术指导

平板探测器（FPD），是数字化X线摄影（DR）系统的重要装备，起到X线探测作用。在全球范围内，数字化X线摄影系统主要应用于医学诊断领域，需求占比达到75%以上，因此医用平板探测器市场规模大。数字化X线摄影技术于20世纪90年代开始发展，是一种新型医疗成像技术，具有成像速度快、图像分辨率高、动态范围大、操作简单、辐射小等优点。骨结构、关节软骨、软组织等显像效果优，可用于儿童、老年患者疾病诊断与医疗领域，是现阶段X线摄影技术发展的主要方向。 南京平板探测器技术指导

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