数字化X线摄影主要基于二维解剖平面成像,在诸多部位的成像上受到重叠影像影响,难以对病灶进行精细的定位与评估。以胸片为例,由于胸部纵膈心影重叠以及膈下肋骨重叠,极易导致漏诊与误诊的发生。由于受到被照物的影响,诸如呼吸以及受检查的运动等因素,影像质量难以控制,由此,一种新的数字化X线摄影技术开始出现--动态数字化X线摄影技术,简称为动态DR。动态DR相较于常规数字化X线摄影,能极大地提升X线影像质量控制效果,同时对于诸多部位的摄片诊断能提供运功功能的视角和评估参考,进一步提升筛查与诊断的精细性。硒层对温度比较敏感,其环境的适用性不是很好。成都实时成像平板探测器
间接转换平板探测器由碘化铯等闪烁晶体涂层与薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)或电荷耦合器件(Charge Coupled Device,CCD)或互补型金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor,CMOS)构成。间接转换平板探测器的工作过程一般分为两步,首先闪烁晶体涂层将X线的能量转换成可见光;其次TFT或CCD或CMOS将可见光转换成电信号。由于在这过程中可见光会发生散射,对空间分辨率产生一定的影响。虽然新工艺中将闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射,但散射光对空间分辨率的影响不能完全消除。 常州宠物平板探测器数字化X射线影像(DR)要比普通影像辐射量减少30%-70%。
调制传递函数(MTF)是描述系统再现成像物体空间频率范围的能力。理想的成像系统要求100%再现成像物体细节,但现实中肯定存在不同程度的衰减,所以MTF始终<1,它说明成像系统不能把输入的影像全部再现出来,换句话说,凡是经过成像系统所获得的图像都不同程度损失了影像的对比度。MTF值越大,成像系统再现成像物体细节能力越强。
国际机构的测量结果表明,相比于非晶硅平板探测器,非晶硒平板探测器具有优良的MTF值,但空间分辨率增加时,非晶硅平板探测器的MTF迅速下降,而非晶硒平板探测器仍能保持较好的MTF值。
噪声是非输入信号造成的输出信号。
噪声的主要来源:探测器的电子噪声、射线图像量子噪声。
信噪比:探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比,用SNR表示。信噪比越高,图像质量越好。
归一化信噪比:比较不同探测器的信噪比,必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式:SNRn=SNRm×88.6/P。SNRn归一化信噪比,SNRm测量信噪比,P探测器像素尺寸(um)。
线性度:是探测器产生的信号在比较大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。
稳定性:是随着工作时间的增加探测器处理信号产生一致性的能力,线性度和稳定性直接影响探测器精度。
响应时间:是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间,它是影响采样的速率及数据质量的关键。 平板探测器为面阵结构,主要用于医疗、工业无损检测和安检等领域。
随着版面密度的提高和器件的体积越来越小,在设计PCB时,使ICT测试的点空间变得越来越小,而且,对复杂版材而言,如果直接从SMT生产线送到功能测试岗位,不仅会导致产品合格率降低,还会增加电路板的故障诊断与维修费用,即使造成交货延误,在当今社会激烈竞争的市场上,如果用X-ray检验代替ICT检验,就能保证功能测试的生产轨迹,此外,在SMT生产中采用X-ray进行批量检验,可以减少甚至消除批量误差,值得注意的是:对于ICT不能测量的焊锡过少或过多,此外,还可以测量冷汗、焊接、气孔等X-ray,并且通过ICT甚至功能检测很容易检测出这些缺陷,从而影响了产品的寿命。使用自动化数字X射线无损检测可以实现100%检查,从而实现0故障率。广东乳腺平板探测器
Short-term memory effect 60s:一次曝光60S后探测器短期记忆效应。成都实时成像平板探测器
CR和DR的共通点:
1、DR和CR将X射线图像信息转换成数字图像信息。与传统的X射线相比,工作量,工作效率和胶片消耗都具有明显的优势。CR和DR技术不仅省去了薄膜冲洗工艺,而且减少了化学药品的消耗,并且可以很好地控制质量。
2、DR和CR都具有较宽的动态范围和较宽的曝光范围。当X射线曝光参数不足时,可以获得良好的图像。透照的成功率很高,可以有效地减少回收率,并减少废品率。
3、DR和CR获取数字信号图像,并根据需要通过图像处理系统实现图像优化,改善图像细节,达到比较好视觉效果,提高图像质量。 成都实时成像平板探测器
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