激光打标机常见的五种故障分析: 3.激光打标机的标识薄膜粘版产生原因:热压温度高于降解温度,涂料黏性加大就会造成粘版而使薄膜缠绕在全息压印辊上。解决方法:降低热压温度。 4.激光打标机的标识图案暗淡无光解决方法:检查加热温度是否太低,模压压力是否下降。工艺控制要点:模压压力的设定应综...
激光工艺:
经过近20年的发展,目前比较成熟的工艺分为六种:Decap EMC 激光开封环氧树脂塑模封装Gel Removal 激光去除硅胶封装Cross section 激光剖面芯片De-lidding 激光开盖金属陶瓷封装Eco-Blue 激光光化学法无损晶圆开封De-layering 激光逐层剥离微加工。
激光开封是利用激光聚焦能量,汽化EMC(epoxy mould compound)塑封层的工艺。可替代传统的微型CNC机械磨除方法,结合GEL-BLUE工艺,可代替开封的后续滴酸工艺。
激光去除硅胶封装,是利用远红外激光器,汽化silicagel,结合GEL-BLUE溶液,完美除胶直达晶圆层。目前应用的IC主要类型有LED、IGBT、以及高压功率芯片。
掩模版激光都有哪些种类?光掩膜版激光切割
由于激光微加工技术是用于透明材料的一种新的制造技术,因此可以预见微加工技术应用于意想不到的领域。从掌上型和可穿戴式显示器到通信和计算系统,光子设备现已遍及全球。制造光子器件必不可少的材料是透明材料,例如玻璃,聚合物和晶体,我们通常希望它们具有透明和宽带的透明性,稳定性以及多种成分。聚焦的超快激光脉冲会在这些透明材料中引起非线性吸收效应,从而使我们能够在材料的表面或内部进行微加工。这种被称为超快激光微加工的技术已经有了多种应用,例如切割、钻孔、波导耦合器和分路器的直接写入、光学动态记忆,甚至玻璃和玻璃、玻璃和金属或玻璃和陶瓷之间界面的焊接或接合技术。HOYA激光切割激光开封机的使用环境;
半导体业的铜引线封装越来越成为发展主流,传统的化学开封已无法完全满足铜引线封装的开封要求。激光开封机的诞生给分析领域带来了新的技术。
激光开封机特点:
1、对铜引线封装有很好的开封效果
2、对复杂样品的开封极为方便
3、可重复性、一致性极高
、电脑控制开封形状、位置、大小、时间等,操作便利
5、对环境及人体污染伤害较小,安全性高
6、几乎没有耗材,使用成本很低
7、体积较小,容易摆放
激光开封机是怎么操作的?开封,开盖,开帽,指给完整封装的IC做局部腐蚀,使得IC可以暴露出来,同时保持芯片功能的完整无损,保持 die,bond pads,bond wires乃至lead-frame不受损伤,为下一步芯片失效分析实验做准备,方便观察或做其他测试(如FIB,EMMI), Decap后功能正常。
半导体激光器失效机理与案例分析:
半导体激光器失效模式主要表现为工作期间无输出光强,或在恒定驱动电流下输出光功率退化失效,当输出功率退化至特定阈值,就会导致激光器失效。可靠性研究分析中心是国内专业从事电子元器件和各种电子产品失效分析技术研究和技术服务的机构。在对半导体激光器开展的失效分析工作中,经总结,半导体激光器的主要失效机理包括电极退化、欧姆接触、腔面退化、环境污染等因素。
失效机理介绍及相关案例如下文所示。
1)电极退化电极退化通常发生在金属与半导体材料的交界面,由于焊料材料扩散进半导体内部形成缺陷结构,大电流作用下导致缺陷位置热量积累,**终烧毁附近的金属化层[2]。 激光应用之激光成像;
激光掩膜版是芯片制造过程中的图形“底片”,用于转移高精密电路设计,承载了图形设计和工艺技术等知识产权信息。掩模版用于芯片的批量生产,是下游生产流程衔接的关键部分,是芯片精度和质量的决定因素之一。
激光掩膜版的功能类似于传统照相机的底片。制造商通常根据客户所需要的图形,用光刻机在原材料上光刻出相应的图形,将不需要的金属层和胶层洗去,即得到掩膜版。掩膜版的原材料掩膜版基板是制作微细光掩膜图形的感光空白板。通过光刻制版工艺,将微米级和纳米级的精细图案刻制于基板上制作成掩膜版。掩膜版的作用主要体现为利用已设计好的图案,通过透光与非透光方式进行图像(电路图形)复制,从而实现批量生产。 激光掩膜版是芯片制造过程中的图形“底片”;湖南激光磨片
超快激光微加工是超快激光应用;光掩膜版激光切割
光刻掩膜版质量的优劣直接影响光刻的质量。在芯片制造过程中需要经过十几甚至几十次的光刻,每次光刻都需要一块光刻掩膜版,每块光刻掩膜版的质量都会影响光刻的质量。光刻过程中,通常通过一系列光学系统,将掩膜版上的图形按照 4:1 的比例投影在晶圆上的光刻胶涂层上。由于在制作过程中存在一定的设备或工艺局限,光掩膜上的图形并不可能与设计图像完全一致,即在后续的硅片制造过程中,掩膜板上的制造缺陷和误差也会伴随着光刻工艺被引入到芯片制造中。因此光掩膜的品质将直接影响到芯片的良率和稳定性。
光掩膜版激光切割
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