显微镜基本参数
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  • BM
显微镜企业商机

扫描透射电子显微镜兼具扫描成像与透射分析的特点,其仪器结构可看作SEM与TEM的结合。STEM主要由电子枪、电子光学系统、样品室、环形探测器与成像设备等组成。STEM与TEM的主要区别在于添加了扫描附件;与SEM的不同在于电子信号探测器安置在样品下方。

优缺点:

优点:(1)成像质量高,受样品厚度与仪器干涉小(2)可达到原子分辨率(3)结果分析简单、直观(4)能够快速获取样品的综合信息,成像效率高。

缺点:(1)制样时间长,对样品的要求高;(2)一些材料在高能电子束中不稳定;(3)测试成本高,仪器分布稀少。 金相显微镜放大倍数通常在50-1000倍,照明系统有透射光和同轴反射光;南昌多倍率显微镜

金相显微镜放大倍数通常在50-1000倍,照明系统有透射光和同轴反射光,而体视显微镜的放大倍数一般在5-100倍之间, 一般有透射光,斜射光和外部环形光源等照明方式。金相显微镜和体视显微镜相比放大倍数比较大,但是观察范围要小很多,两种显微镜互补能够满足绝大多数应用需求。无限远光学系统确保整体图像质量和系统拓展性;22mm大视野平场成像;稳定的色温和度白光LED照明;流线型的机身外观和特殊的表面处理工艺,基于人体工程学设计,操作更加便捷舒适;落射照明附件配置简易偏光附件,可实现偏光观察;保留了明场观察方法,同时可拓展暗场、专业偏光和荧光等观察方法;三目观察,配置数码相机可对样本进行拍摄和精细测量。南昌多倍率显微镜体视显微镜和光学显微镜。

扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同,被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相互作用力(既有可能足吸引力,也有可能是排斥力)所引起的微悬臂形变来检测样品表面。可根据不同需求来进行定制,满足不同应用场合

什么是体视显微镜?

体视显微镜,又称“实体显微镜”“立体显微镜”或称“解剖显微镜”,是一种具有正像立体感的显微镜,应用于材料宏观表面观察、失效分析、断口分析、生物学、医学、农林、工业及多种应用场景。

体视显微镜均采用两个单独的光学通路,对物体成像后的两光束被两组中间物镜----变焦镜组分开,并组成一定的角度称为体视角一般为12度--15度,再经各自的目镜成像,分别进入人的两只眼睛,每只眼睛看到的标本成像都不一样。这些额外的信息允许大脑通过融合左右图像来重建物体的三维图像。所以体视显微镜的成像拥有常规正置显微镜或者倒置显微镜所没有的立体感。当人们需要与标本进行互动时(例如解剖,筛选,微型雕刻,显微操作等),体视显微镜是很好的选择工具。 四种类型的显微镜头:单筒目镜、双筒目镜、三目以及根据人体工程改造的。

扫描探针显微镜是在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜,静电力显微镜,磁力显微镜,扫描离子电导显微镜,扫描电化学显微镜等)的统称,是国际上近年发展起来的表面分析仪器。

扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原子分子的相互作用,即当探针与样品表面接近至纳米尺度时形成的各种相互作用的物理场,通过检测相应的物理量而获得样品表面形貌。扫描探针显微镜主要由探针、扫描器、位移传感器、控制器、检测系统和图像系统5部分组成。 显微镜常见故障的排除;FS70L显微镜规格尺寸

透射电子显微镜和扫描电子显微镜;南昌多倍率显微镜

显微镜对于不透明物体的照明和暗视场照明方法

对于不透明物体,采用从侧面或者从上方照明的方法。此时,标本是靠散射光或反射光成像的。侧面照明是把光源放在标本的斜上方,有的显微镜用物镜四周的小灯泡形成斜照明,上方照明方式使物镜兼作聚光镜

暗视场照明方法:暗视场照明适用于离散分布的颗粒标本的观测。在某种程度上,暗视场照明可以提高显微镜的分辨率。暗视场照明的原理是不让透过标本的光直接进入物镜,只让由颗粒散射的光线进入物镜。这样,使物镜形成的像面是一个暗背景上分布着亮颗粒的景象。由于衬度(对比)好,有利于颗粒的分辨。暗视场照明分为单向暗视场照明和双向暗视场照明。分为单向暗视场照明和双向暗视场照明。 南昌多倍率显微镜

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