在一块BGA板或芯片的多个侧面进行施胶可以提高underfill底填胶流动的速度，但是这也增大了产生空洞的几率。不同部件的温度差也会影响到胶材料流动时的交叉结合特性和流动速度，因此在测试时应注意考虑温度差的影响。胶体材料流向板上其他元件（无源元件或通孔）时，会造成下底部填充胶（underfill）材料缺失，这也会造成流动型空洞。采用多种施胶图案，或者采用石英芯片或透明基板进行试验是了解空洞如何产生，并如何来消除空洞的直接的方法。通过在多个施胶通道中采用不同颜色的下填充材料是使流动过程直观化的理想方法。随着半导体的精密化精细化，底部填充胶填充工艺需要更严谨，封装技术要求更高。盘锦加热固化环氧胶厂家
胶粘剂属于有机高分子化合物，具有应用面广、使用简便、经济效益高等诸多特点，固态硬盘主控芯片BGA底部填充胶需要具备防尘、防潮、抗跌落、抗震、耐高低温等众多特性。像这样高要求的胶粘剂，并非所有的胶粘剂厂商都能生产，客户选择时自然会层层把关。近期有生产固态硬盘的客户主动找到公司，希望借助公司的底部填充胶产品和服务，打造一款质量过硬的固态硬盘。胶水的粘度要适中，否则就有喷胶不畅的风险，这就要求在设计配方的时候，也应考虑其对胶水流变性能的影响。宿州环氧填充胶厂家底部填充胶具有良好的耐冷热冲击、绝缘、抗跌落、低吸湿、低粘度、流动性好、可返修等性能。
底部填充胶产生水气空洞的原因：存在于基板中的水气在底部填充胶(underfill)固化时会释放，从而在固化过程产生底部填充胶(underfill)空洞。这些空洞通常随机分布，并具有指形或蛇形的形状，这种空洞在使用有机基板的封装中经常会碰到。水气空洞检测/消除方法：要测试空洞是否由水气引起，可将部件在100℃以上前烘几小时，然后立刻在部件上施胶。一旦确定水气是空洞的产生的根本原因，就要进行进一步试验来确认较佳的前烘次数和温度，并且确定相关的存放规定。一种较好的含水量测量方法是用精确分析天平来追踪每个部件的重量变化。需要注意的是，与水气引发的问题相类似，一些助焊剂沾污产生的问题也可通过前烘工艺来进行补救，这两类问题可以通过试验很方便地加以区分。如果部件接触到湿气后，若是水气引发的问题则会再次出现，而是助焊剂沾污所引发的问题将不再出现。
快速流动可低温固化的底部填充胶粘剂,包括中心层贝壳层结构的环氧树脂20～50份,固化剂10～30份,潜伏型固化促进剂5～15份,填料10～30份,表面活性剂为0.01～1.5份,偶联剂1～2份,所述中心层为高温固化胺基化合物,所述贝壳层为低温固化环氧化合物,所述高温固化胺基化合物的玻璃化转变温度高于所述低温固化环氧化合物的玻璃化转变温度.底部填充胶粘剂具有容易可返修的特点,加热除胶时可以使用更低温度,降低对主板和元器件的热损伤,受热时更容易从主板和元器件上脱落,从而具有优良的可返修效果,返修报废率低。底部填充的目的，就是为了加强BGA与PCB板的贴合强度，分散和降低因震动引起的BGA突点张力和应力。
底部填充胶产生流动型空洞的原因：流动型空洞是在underfill底部填充胶流经芯片和封装下方时产生，两种或更多种类的流动波阵面交会时包裹的气泡会形成流动型空洞。（1）与底部填充胶施胶图案有关。在一块BGA板或芯片的多个侧面进行施胶可以提高underfill底填胶流动的速度，但是这也增大了产生空洞的几率。（2）温度会影响到底部填充胶流动的波阵面。不同部件的温度差也会影响到胶材料流动时的交叉结合特性和流动速度，因此在测试时应注意考虑温度差的影响。（3）胶体材料流向板上其他元件（无源元件或通孔）时，会造成下底部填充胶(underfill)材料缺失，这也会造成流动型空洞。底部填充胶是一种单组份、改性环氧树脂胶，用于BGA、CSP和Flip chip底部填充制程。黑龙江点胶底部填充价格
底部填充胶可以增强BGA封装模式的芯片和PCBA之间的抗跌落性能。盘锦加热固化环氧胶厂家
如何使用ic芯片底部填充胶进行封装？IC芯片倒装工艺在底部添补的时候和芯片封装是同样的，只是IC芯片封装底部经常会呈现不规则的环境，对付底部填充胶的流动性请求会更高一点，只有这样，才能将IC芯片底部的气泡更好的排挤。IC倒装芯片底部填充胶需具备有良好的流动性，较低的粘度，可以在IC芯片倒装添补满以后异常好的包住锡球，对付锡球起到一个掩护感化。能有用赶走倒装芯片底部的气泡，耐热机能优良，底部填充胶在热轮回处置时能坚持一个异常良好的固化反响。对倒装芯片底部填充胶流动的影响因素主要有表面张力、接触角和粘度等，在考虑焊球点影响的情况下，主要影响因素有焊球点的布置密度及边缘效应。底部填充胶是利用毛细作用使得胶水迅速流入BGA芯片底部芯片底部。盘锦加热固化环氧胶厂家
