国瑞热控氮化铝陶瓷加热盘以99.5%高纯氮化铝为基材，通过干压成型与1800℃高温烧结工艺制成，完美适配半导体高温工艺需求！其热导率可达220W/mK，热膨胀系数*4.03×10⁻⁶/℃，与硅晶圆热特性高度匹配，有效避免高温下因热应力导致的晶圆翘曲！内部嵌入钨制加热元件，经共烧工艺实现紧密结合，加热面温度均匀性控制在±1℃以内，工作温度上...

  国瑞热控针对半导体量子点制备需求，开发**加热盘适配胶体化学合成工艺！采用聚四氟乙烯密封腔体与不锈钢加热基体复合结构，耐有机溶剂腐蚀，且无金属离子溶出污染量子点溶液！内置高精度温度传感器，测温精度达±0.1℃，温度调节范围25℃-300℃，支持0.1℃/分钟的慢速升温，为量子点成核、生长提供精细热环境！配备磁力搅拌协同系统，使溶液温度与搅...

  面向深紫外光刻工艺对晶圆预处理的需求，国瑞热控配套加热盘以微米级温控助力图形精度提升！采用铝合金基体与石英玻璃复合结构，加热面平面度误差小于0.01mm，确保晶圆与光刻掩膜紧密贴合！通过红外加热与接触式导热协同技术，升温速率达15℃/分钟，温度调节范围60℃-120℃，控温精度±0.3℃，适配光刻胶软烘、坚膜等预处理环节！表面经防反射涂层...

  针对原子层沉积工艺对温度的严苛要求，国瑞热控ALD**加热盘采用多分区温控设计，通过仿真优化加热丝布局，确保表面温度分布均匀性符合精密制程标准！设备温度调节范围覆盖室温至600℃，升温速率可达25℃/分钟，搭配铂电阻传感器实现±0.1℃的控温精度，满足ALD工艺中前驱体吸附与反应的温度窗口需求！采用氮化铝陶瓷基底与密封结构，在真空环境下无...

  借鉴空间站“双波长激光加热”原理，国瑞热控开发半导体激光加热盘，适配极端高温材料制备！采用氮化铝陶瓷基体嵌入激光吸收层，表面可承受3000℃以上局部高温，配合半导体激光与二氧化碳激光协同加热，实现“表面强攻+内部渗透”的加热效果！加热区域直径可在10mm-200mm间调节，温度响应时间小于1秒，控温精度±1℃，支持脉冲式加热模式！设备配备...

  国瑞热控薄膜沉积**加热盘以精细温控助力半导体涂层质量提升，采用铝合金基体与陶瓷覆层复合结构，表面粗糙度Ra控制在0.08μm以内，减少薄膜沉积过程中的界面缺陷！加热元件采用螺旋状分布设计，配合均温层优化，使加热面温度均匀性达±0.5℃，确保薄膜厚度偏差小于5%！设备支持温度阶梯式调节功能，可根据沉积材料特性设定多段温度曲线，适配氧化硅、...

  国瑞热控深耕半导体加热盘国产化研发，针对进口设备的技术壁垒与供应风险，推出全套替代方案！方案涵盖6英寸至12英寸不同规格加热盘，材质包括铝合金、氮化铝陶瓷等，可直接替换Kyocera、CoorsTek等国际品牌同型号产品，且在温度均匀性、控温精度等关键指标上达到同等水平！通过与国内半导体设备厂商的联合开发，实现加热盘与国产设备的深度适配，...

  借鉴晶圆键合工艺的技术需求，国瑞热控键合**加热盘创新采用真空吸附与弹簧压块复合结构，通过弹簧压力限制加热平台受热膨胀，高温下表面平整度误差控制在0.02mm以内！加热盘主体采用因瓦合金与氮化铝复合基材，兼具低热膨胀系数与高导热性，温度均匀性达±1.5℃，适配室温至450℃的键合温度需求！底部设计双层隔热结构，***层阻隔热量向下传导，第...

  依托强大的研发与制造能力，国瑞热控提供全流程半导体加热盘定制服务，满足特殊工艺与设备的个性化需求！可根据客户提供的图纸与参数，定制圆形、方形等特殊形状加热盘，尺寸覆盖4英寸至18英寸晶圆规格！材质可选择铝合金、氮化铝陶瓷、因瓦合金等多种类型，加热方式支持电阻加热、红外加热及复合加热模式，温度范围与控温精度按需设定！通过三维建模与温度场仿真...

  国瑞热控刻蚀工艺加热盘，专为半导体刻蚀环节的精细温控设计，有效解决刻蚀速率不均与图形失真问题！产品采用蓝宝石覆层与铝合金基体复合结构，表面经抛光处理至镜面效果，减少刻蚀副产物粘附，且耐受等离子体轰击无损伤！加热盘与静电卡盘协同适配，通过底部导热纹路优化，使热量快速传导至晶圆背面，温度响应时间缩短至10秒以内！支持温度阶梯式调节功能，可根据...

  国瑞热控半导体测试用加热盘，专为芯片性能测试环节的温度环境模拟设计，可精细复现芯片工作时的温度条件！设备温度调节范围覆盖-40℃至150℃，支持快速升温和降温，速率分别达25℃/分钟和20℃/分钟，能模拟不同工况下的温度变化！加热盘表面采用柔性导热垫层，适配不同厚度的测试芯片，确保热量均匀传递至芯片表面，温度控制精度达±0.5℃！配备可编...

  国瑞热控针对硒化铟等二维半导体材料制备需求，开发**加热盘适配“固-液-固”相变生长工艺！采用高纯不锈钢基体加工密封腔体，内置铟原子蒸发温控模块，可精细控制铟蒸汽分压，确保硒与铟原子比稳定在1:1！加热面温度均匀性控制在±0.5℃，升温速率可低至0.5℃/分钟，为非晶薄膜向高质量晶体转化提供稳定热环境！设备支持5厘米直径晶圆级制备，配合惰...