北京多色荧光寿命成像怎么样

在基于时间相关单光子计数的荧光寿命成像实验中，通过选用超快激光器可以优化脉冲持续时间，单光子探测器和时间数字转换器的时间抖动则成为制约时间分辨率的关键参数。荧光寿命成像可进行高质量的多色成像实验或实现STED、PALM/STORM等超分辨率荧光显微成像。目前TCSPC是主要应用的荧光寿命测定技术。荧光寿命通常在ps～us量级，在如此短的时间量级上进行测量，它是较为成熟准确的测试手段。TCSPC的工作原理是使用一个同步信号源驱动激光器，出射光脉冲照射样品池，在利用光子探测装置（多为PMT）对荧光信号进行探测，每一个光子计数信号在FT1010中都会落入一个对应的时间窗口，经过一定时间的统计叠加后即得到荧光寿命曲线。几十万次重复以后，不同的时间通道累积下来的光子数目不同。荧光寿命成像不受光漂白的影响。北京多色荧光寿命成像怎么样

显微荧光寿命成像应用：材料科学领域：宽禁带半导体等体系的少子寿命mapping 测量；量子点等用作荧光寿命成像显微镜探针；钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测；铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测；镧系上转换纳米颗粒；GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究；生命科学领域：细胞体自身荧光寿命分析；自身荧光相对荧光标记的有效区分；活细胞内水介质的PH 值测量；局部氧气浓度测量；具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分；活细胞内钙浓度测量；时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量；代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像。上海生物荧光寿命成像订购荧光寿命显微成像，可以定位不同的分子及浓度分布，在生物，材料，半导体领域具有重要的应用价值。

荧光寿命成像中的荧光寿命及其含义：假定一个无限窄的脉冲光(δ函数)激发n0个荧光分子到其激发态，处于激发态的分子将通过辐射或非辐射跃迁返回基态。假定两种衰减跃迁速率分别为Γ和knr，则激发态衰减速率可表示为：其中n(t)表示时间t时激发态分子的数目，由此可得到激发态物种的单指数衰减方程。荧光寿命定义为衰减总速率的倒数：荧光强度正比于衰减的激发态分子数，因此可将上式改写为：其中I0是时间为零时的荧光强度，τ为荧光寿命。也就是说荧光强度衰减到初始强度的1/e时所需要的时间就是该荧光物种在测定条件下的荧光寿命。实际上用荧光强度的对数对时间作图，直线斜率即为荧光寿命倒数的负值。荧光寿命也可以理解为荧光物种在激发态的统计平均停留时间。事实上当荧光物质被激发后有些激发态分子立即返回基态，有的甚至可以延迟到5倍于荧光寿命时才返回基态，这样就形成了实验测定的荧光强度衰减曲线。

荧光寿命成像（Fluorescence Lifetime Imaging ，FLIM)）是一种重要的荧光显微镜技术，通常用于研究生物分子间相互作用、细胞中的信号事件或区分光谱重叠的荧光团。此外，FLIM 可以提供有关电信号变化、离子和氧含量、温度、细胞或其环境中的 pH 值的定量信息。荧光寿命成像具有不同于荧光强度成像的众多优点：不受染料浓度的影响，无论染色或免疫荧光的效率高或低，荧光寿命都能呈现一致的数据，这意味着更少的实验数量和重复性更好的实验结果。不受光漂白的影响，荧光发射时间不受激发光强度的影响，因此不存在光漂白问题。不受样本厚度和光源噪声的影响。随着技术的发展，在显微镜视野内进行超快速全像素荧光寿命信号采集的荧光寿命成像成为可能。

荧光寿命是荧光团在发射荧光光子返回基态之前保持其激发态的平均时间长度。这取决于荧光团的分子组成和纳米环境。荧光寿命成像将寿命测量与成像相结合：对每个图像像素以测得的荧光寿命进行颜色编码，产生额外的图像反差。因此，荧光寿命成像可以提供关于荧光分子空间分布的信息和有关其生化状态或纳米环境的信息。有很多技术可以在显微镜环境中检测荧光寿命。常见的的是基于供体（受体光漂白，FRET AB）或受体（敏化发射，FRET SE）荧光强度的技术。荧光寿命成像是一种重要的荧光显微镜技术。北京多色荧光寿命成像哪家好

影响荧光寿命成像测量的因素有哪些？北京多色荧光寿命成像怎么样

荧光寿命成像FLIM相比于荧光强度成像更有优势。通过荧光强度成像可以获得荧光分子的空间分布，较为直接和简便，但是当荧光分子具有相似的频谱特性，或是同样的荧光分子在不同环境下时，依赖强度进行成像的方案便无法准确反映信息。与基于光强的成像方式不同，荧光寿命成像FLIM适用于测量荧光分子环境的变化，或是测量分子的运动情况。其结果与荧光分子浓度无关，且不受影响光强的光散射或是光吸收影响，可以精确测量荧光淬灭过程，对生物分子微环境进行定量测量。北京多色荧光寿命成像怎么样

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